[發明專利]PLL振蕩電路有效
| 申請號: | 201110023175.0 | 申請日: | 2011-01-20 |
| 公開(公告)號: | CN102142836A | 公開(公告)日: | 2011-08-03 |
| 發明(設計)人: | 鹽原毅 | 申請(專利權)人: | 日本電波工業株式會社 |
| 主分類號: | H03L7/08 | 分類號: | H03L7/08;H03L7/099 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 張麗 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | pll 振蕩 電路 | ||
技術領域
本發明涉及PLL(Phase?Locked?Loop,鎖相環)振蕩電路,特別涉及對解鎖狀態進行檢測,并且自動地重試再同步的PLL振蕩電路。
背景技術
[以往的技術]
PLL振蕩電路是如下電路:對環內振蕩器進行反饋控制而使之振蕩,以使從外部輸入的基準信號與來自環內的振蕩器的輸出的相位差成為一定。
PLL振蕩電路能夠輸出穩定的振蕩頻率,應用于電子機器、通信機器中。
[以往的PLL振蕩電路:圖5]
接下來,參照圖5,對以往的PLL振蕩電路進行說明。圖5是一般的PLL振蕩電路例的結構框圖。
如圖5所示,PLL振蕩電路具備:對外部基準信號(F?ref)與1/N分頻后的信號進行比較,輸出相位差信號的相位比較器(Phase?Comparator)32;以脈沖寬度的電壓輸出相位差的電荷泵(Charge?Pump)33;對來自電荷泵33的輸出電壓進行平滑化的環路濾波器(Loop?Filter)34;通過來自環路濾波器34的控制電壓變更頻率而振蕩輸出所希望的頻率(內部基準信號:Output?Frequency)的帶電壓控制功能的晶體振蕩器(VCXO:Voltage?Controlled?Crystal?Oscillator:壓控晶體振蕩器)35;以及將VCXO35的輸出(內部基準信號)分頻為1/N的分頻器(Divider)36。
另外,輸出信號是成為N×F?ref的頻率的信號。
PLL振蕩電路的動作通過以使從外部輸入的基準信號與內部的VCXO35的相位差成為一定的方式,對內部的VCXO35進行反饋控制,而得到與基準信號同步的振蕩器輸出。
具體而言,相位比較器32通過執行對高穩定的外部基準信號、與來自通過輸入電壓進行頻率控制的VCXO35的輸出信號的相位進行比較,并將對相位比較結果進行平滑化而得到的直流電壓反饋到VCXO35的PLL控制,而進行高精度的信號生成。
[關聯技術]
另外,作為關聯的現有技術,有日本特開平05-072244號公報“位相固定ル一プ性能試験器(相位固定環性能試驗器)”(申請人:松下電器產業株式會社/專利文獻1)、日本特開平09-023154號公報“PLL回路(PLL電路)”(申請人:株式會社富士通集團/專利文獻2)、日本特開平10-173520號公報“PLL回路(PLL電路)”(申請人:川崎制鐵株式會社/專利文獻3)、日本特開2001-183423號公報“半導體集積回路(半導體集成電路)”(申請人:日本電氣ICMicrocomputer系統株式會社/專利文獻4)、以及日本特表2004-511993號公報“對鎖相環進行試驗的嵌入自檢電路”(申請人:皇家菲利浦電子有限公司(Koninklijke?Philips?Electronics?N.V.)/專利文獻5)。
在專利文獻1中,公開了如下的PLL性能試驗器:一邊使頻率變化,一邊產生用于測定引入范圍以及保持范圍的試驗信號,通過所產生的試驗信號和PLL的反饋信號判定鎖定狀態,對鎖定狀態和解鎖狀態的變化時的試驗信號的頻率進行檢測。
在專利文獻2中,公開了如下的PLL電路:對鎖定的多個VCO控制電壓進行比較,判別系數乘法器的系數的控制方向而輸出方向判別信號,通過解鎖檢測信號和方向判別信號切換系數的升降,從而決定系數。
在專利文獻3中,公開了通過復位信號的控制,輸出誤差信號或者控制信號中的至少一方的PLL電路。
在專利文獻4中,公開了如下的半導體集成電路:將使能信號輸出到存儲測試結果數據的BIST電路,與所搭載的PLL電路的相位鎖定時間對應地開始基于實際動作速度的測試。
在專利文獻5中,公開了如下的自檢電路:針對多個頻率乘法器的每一個的乘數、與頻率分割器中的對應的分頻用計數器的除數之比針對所有頻率乘法器以及對應的分頻用計數器是一定的數,如果選擇了多個頻率乘法器中的頻率乘法器,則多路調制器選擇對應的分頻用計數器,生成試驗用時鐘。
【專利文獻1】日本特開平05-072244公報
【專利文獻2】日本特開平09-023154號公報
【專利文獻3】日本特開平10-173520號公報
【專利文獻4】日本特開2001-183423號公報
【專利文獻5】日本特表2004-511993號公報
發明內容
以往的PLL振蕩電路,當在該電路的生產線上相位比較器成為了解鎖狀態時,需要檢查是否向外部正確地輸出了解鎖警報信號。
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