[發明專利]一種X-Y振鏡掃描式超光譜圖數據采集方法

有效

• 申請號: 201110022415.5
• 申請日: 2011-01-19
• 公開（公告）號: CN102175316A
• 公開（公告）日: 2011-09-07
• 發明（設計）人: 李剛;趙靜;林凌
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01J3/06
• 分類號: G01J3/06
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 溫國林

1.一種X-Y振鏡掃描式超光譜圖數據采集方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

(1)探頭與被測物體分別在場鏡的兩側物象共軛位置，在所述探頭與所述場鏡之間安裝X振鏡和Y振鏡；

(2)光源發出的光束經過斬波器，按照第一預設頻率對光進行調制，獲取調制后的光；

(3)所述調制后的光通過Y型光纖的(A)端，經過所述探頭、所述X振鏡、所述Y振鏡和所述場鏡照射到所述被測物體表面的目標位置，在所述目標位置處發生反射，獲取反射光；

(4)所述反射光經所述場鏡、所述X振鏡和所述Y振鏡后進入所述探頭，進入所述探頭的光經由Y型光纖的(B)端導入到光譜儀；

(5)所述光譜儀以第二預設頻率對所述反射光進行連續采樣，得到多幅反射光譜序列S_i；

(6)按照時間順序將所述多幅反射光譜序列S_i中同一波長對應的數據進行排序，獲取各個波長的光強序列，其中，i的取值為正整數；

(7)對所述各個波長的光強序列進行傅立葉變換，獲取最大諧波分量其中，j的取值為正整數；

(8)按照各個波長順序將所述最大諧波分量進行排序，獲取反射光譜；

(9)控制所述X振鏡和所述Y振鏡掃描，獲取所述被測物體表面預設區域內所有位置的反射光譜，從而獲取到所述被測物體表面反射超光譜圖。

2.根據權利要求1所述的X-Y振鏡掃描式超光譜圖數據采集方法，其特征在于，所述第二預設頻率具體為：

高于所述第一預設頻率n倍，其中，n的取值為大于2的正整數。

3.根據權利要求1所述的X-Y振鏡掃描式超光譜圖數據采集方法，其特征在于，所述最大諧波分量具體為：多數波長幅值最大的相同諧波分量。