[發(fā)明專利]用于土木工程結(jié)構(gòu)表觀缺陷評(píng)定的雙CCD檢測(cè)方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110003251.1 | 申請(qǐng)日: | 2011-01-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102183524A | 公開(公告)日: | 2011-09-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 單寶華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01B11/03;G01B11/22 |
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| 地址: | 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)黃*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 土木工程 結(jié)構(gòu) 表觀 缺陷 評(píng)定 ccd 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種用于土木工程結(jié)構(gòu)表觀缺陷評(píng)定的雙CCD檢測(cè)方法,其特征在于,方法如下:
(1)表觀缺陷雙CCD檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)配置方法:
為了從二維圖像中獲得結(jié)構(gòu)表觀缺陷特征點(diǎn)的空間坐標(biāo),雙CCD相機(jī)需從不同位置獲取包含結(jié)構(gòu)表觀缺陷特征點(diǎn)的兩幅圖像;將兩個(gè)CCD相機(jī)從不同角度交叉擺放觀測(cè)同一被測(cè)物體,首先要確定單個(gè)CCD相機(jī)的視角,然后針對(duì)工程應(yīng)用的實(shí)際情況,設(shè)計(jì)兩個(gè)CCD相機(jī)之間的基線距離B與夾角α,以獲取最佳的公共視場(chǎng),為獲得實(shí)際檢測(cè)中CCD相機(jī)的視角,需使CCD相機(jī)與一平面垂直,調(diào)整CCD相機(jī)與結(jié)構(gòu)表面的距離,使圖像清晰,且讓CCD相機(jī)的光軸指向平面上的十字中心,且讓CCD相機(jī)的光軸指向平面上的十字中心,在十字中心相互垂直的方向上,放置兩個(gè)標(biāo)尺,然后進(jìn)行拍照,根據(jù)圖像中的所能夠拍攝到的標(biāo)尺的距離,即可計(jì)算出CCD相機(jī)在水平方向和豎直方向上的視角,最后根據(jù)兩個(gè)CCD相機(jī)的基線距離、攝像機(jī)與基線的夾角和攝像機(jī)的視角,就能夠計(jì)算出雙CCD檢測(cè)系統(tǒng)的公共視場(chǎng);
(2)雙CCD檢測(cè)方法的特征點(diǎn)空間坐標(biāo)計(jì)算方法:
雙CCD相機(jī)在同一時(shí)刻觀看結(jié)構(gòu)表面某特征點(diǎn)P,分別使用左右CCD相機(jī)獲取P點(diǎn)的圖像,它們的圖像坐標(biāo)分別為Pl=(Xl,Yl),Pr=(Xr,Yr),當(dāng)兩CCD相機(jī)的圖像平面在同一個(gè)平面上,則特征點(diǎn)P的圖像坐標(biāo)的Y坐標(biāo)相同,即Yleft=Y(jié)right=Y(jié),由透視變換原理得到:
則時(shí)差為:Disparity=|Xleft-Xright|=Xleft-Xright;
由此計(jì)算出結(jié)構(gòu)表面特征點(diǎn)在雙CCD檢測(cè)系統(tǒng)坐標(biāo)系下的空間坐標(biāo)為:
因此左CCD相機(jī)面上的任意一點(diǎn)只要能夠在右CCD相機(jī)像面上找到對(duì)應(yīng)的匹配點(diǎn),即二者是空間同一點(diǎn)在左右CCD相機(jī)上的點(diǎn),就能夠根據(jù)雙CCD相機(jī)的固有幾何約束確定出結(jié)構(gòu)表觀缺陷特征點(diǎn)的空間坐標(biāo),此種方法是點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的運(yùn)算,圖像上所有點(diǎn)只要存在匹配點(diǎn),就能夠參與上述運(yùn)算,從而獲取結(jié)構(gòu)表觀缺陷特征點(diǎn)的的空間坐標(biāo),因而測(cè)量效率較高;
(3)結(jié)構(gòu)表觀缺陷圖像特征點(diǎn)的匹配方法:
表觀缺陷圖像特征點(diǎn)的匹配是通過(guò)圖像匹配的方法,尋找出兩幅圖像中特征點(diǎn)之間相互的對(duì)應(yīng)關(guān)系,從而確定出同一個(gè)特征點(diǎn)分別在兩幅圖像中的坐標(biāo),缺陷圖像的特征匹配需要對(duì)兩幅表觀缺陷圖像進(jìn)行特征提取,可采用Harris角點(diǎn)提取算法、SUSAN角點(diǎn)提取算法或SIFT特征點(diǎn)提取算法;
在獲取圖像的坐標(biāo)時(shí),采用交互識(shí)別和自動(dòng)特征匹配兩種方法,先通過(guò)自動(dòng)匹配方法進(jìn)行特征點(diǎn)的匹配,如匹配結(jié)果不能夠達(dá)到要求,再使用交互識(shí)別的方法進(jìn)行匹配,
在雙CCD檢測(cè)方法中,對(duì)應(yīng)特征點(diǎn)的匹配主要是兩幅圖像中點(diǎn)、邊緣或者區(qū)域等幾何基元的相似程度,再由同一特征點(diǎn)分別投影到兩幅圖像中形成的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的圖像坐標(biāo),就能夠根據(jù)雙CCD檢測(cè)方法的數(shù)學(xué)模型計(jì)算出特征點(diǎn)的空間坐標(biāo);
(4)結(jié)構(gòu)表觀缺陷尺寸的評(píng)定方法:
在獲取到結(jié)構(gòu)表觀缺陷特征點(diǎn)的空間坐標(biāo)之后,缺陷的長(zhǎng)度就可按空間中兩點(diǎn)的距離求得,設(shè)空間中兩點(diǎn)的坐標(biāo)分別為P1(X1,Y1,Z1),P2(X2,Y2,Z2),則長(zhǎng)度計(jì)算公式為:
缺陷的深度測(cè)量首先需要建立一個(gè)測(cè)量基準(zhǔn)面,所求到的深度就是相對(duì)于此基準(zhǔn)面的,這個(gè)基準(zhǔn)面是空間的,利用三維空間中的特征點(diǎn),根據(jù)空間平面的計(jì)算公式求得該空間平面,設(shè)空間中三個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)分別為P1(X1,Y1,Z1),P2(X2,Y2,Z2),P3(X3,Y3,Z3),則空間平面方程為:
[(Y1Z2+Y2Z3+Y3Z1)-(Y3Z2+Y2Z1+Y1Z3)]X
+[(X1Z2+X2Z3+X3Z1)-(X2Z2+X2Z.+X1Z3)]Y
+[(X1Y2+X2Y3+X3Y1)-(X3Y1+X2Y1+X3Y3)]Z
+[(X1Y2Z3+X2Y3Z1+X3Y1Z3)-(X3Y2Z1+X2Y1Z3+X1Y3Z2)]=0
(Y1Z2+Y2Z3+Y3Z1)-(Y3Z2+Y2Z1+Y1Z3)=A
(X1Z2+X2Z3+X3Z1)-(X2Z2+X2Z.+X1Z3)=B
令
(X1Y2+X2Y3+X3Y1)-(X3Y1+X2Y1+X3Y3)=C
(X1Y2Z3+X2Y3Z1+X3Y1Z3)-(X3Y2Z1+X2Y1Z3+X1Y3Z2)=D
則平面方程為AX+BY+CZ+D=0,
設(shè)空間點(diǎn)的坐標(biāo)為K(Xk,Yk,Zk),則空間點(diǎn)到空間平面的距離為:
由此計(jì)算出結(jié)構(gòu)表觀缺陷的長(zhǎng)度、寬度和深度信息,
因此只要獲得了空間點(diǎn)在圖像中的坐標(biāo),就能夠計(jì)算出空間點(diǎn)的三維坐標(biāo),進(jìn)而求得空間點(diǎn)的相對(duì)位置關(guān)系,也就完成了土木工程結(jié)構(gòu)表觀缺陷的損傷評(píng)定。
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G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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