[發明專利]一種CCD光電參量的測試方法

無效

• 申請號: 201110002951.9
• 申請日: 2011-01-09
• 公開（公告）號: CN102116830A
• 公開（公告）日: 2011-07-06
• 發明（設計）人: 喬鬧生
• 申請（專利權）人: 湖南文理學院
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 常德市長城專利事務所 43204
• 代理人: 蔡大盛

1.一種CCD光電參量的測試方法，其特征是：采用硬件系統與軟件系統相接合的方法對CCD的光電參量進行測試；所述硬件系統由四個子系統組成，即光源及其輔助系統、控制系統、CCD器件和數據獲取系統及PC機數據處理系統；所述軟件系統主要由四個子程序組成，即驅動程序、控制程序、數據獲取程序及數據處理程序；每一個軟件子程序執掌一個子系統，形成一個硬、軟件系統相互協調、相互作用的有機統一整體系統，共同完成CCD各個主要光電參量的測試工作，使得到的結果由PC機顯示器顯示出來。

2.根據權利要求1所述的一種CCD光電參量的測試方法，其特征是：所述硬件系統中的光源及其輔助系統的主要組成部分有白色LED陣列、聚光透鏡、驅動時鐘和驅動電路；控制系統主要組成部分有伺服驅動器、伺服電機、信號電路和控制電路；CCD器件和數據獲取系統主要組成部分有CCD器件、瞄準器、捕捉器、輻照度計、圖像采取卡、A/D數據轉換器及USB接口芯片單元；PC機數據處理系統主要組成部分有貯存器、D/A數據轉換器、數據輸出器、顯示器。

3.根據權利要求1或2所述的一種CCD光電參量的測試方法，其特征是：?CCD器件輸出電壓與輸入曝光量的關系式：????????????????????????????????????????????????，??式中的為CCD的光響應，為光電轉換系數，為暗信號電壓，為飽和信號電壓，為提供飽和輸出電壓的最小曝光量，也叫飽和曝光量，它是輸出飽和時的照度（lx）和積累時間（t）的乘積。

4.根據權利要求1或2所述的一種CCD光電參量的測試方法，其特征是：CCD光電參量主要有暗信號電壓、飽和電壓、響應度、非線性特性、動態范圍等；這些光電參量直接影響著CCD器件的輸出電壓與輸入曝光量的關系，從而影響著CCD器件的工作；暗信號電壓是CCD器件不可缺少的輸出信號，即使在沒有光照或沒有對CCD器件注入電荷的情況下也會存在；飽和電壓是CCD器件可以產生的最大輸出電壓；當CCD器件輸出電壓達到一定值時,盡管入射光強增加,?但輸出電壓保持不變，此時的輸出電壓就是飽和電壓；響應度是所有像元對同一波長相同照度的響應的平均值，CCD的響應度定義為：?，式中的為各像元輸出的平均電壓。

5.根據權利要求1或2所述的一種CCD光電參量的測試方法，其特征是：在CCD器件工作時，以輸出電壓為信號量，以暗信號電壓為噪聲值，動態范圍定義為：。