[發(fā)明專利]在料位測量時的介質(zhì)特性的確定

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080070752.5
• 申請日: 2010-12-16
• 公開（公告）號: CN103261854A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅蘭·韋勒;卡爾·格里斯鮑姆
• 申請（專利權(quán)）人: VEGA格里沙貝兩合公司
• 主分類號: G01F23/296
• 分類號: G01F23/296;G01N29/024
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張春水;田軍鋒

1.料位測量裝置（101），所述料位測量裝置根據(jù)渡越時間方法工作，所述裝置具有：

用于檢測第一回波曲線和第二回波曲線的回波曲線檢測裝置；

其中所述第一回波曲線描述沿第一測量路段（601，701，801，905）的反射情況，第一測量信號沿所述第一測量路段朝填料表面或分界層表面運(yùn)動；

其中所述第二回波曲線描述沿第二測量路段（602，702，802，906）的反射情況，第二測量信號沿所述第二測量路段朝填料表面或分界層表面運(yùn)動；

其中兩個所述測量信號需要到所述填料表面或分界層表面（105）的不同的渡越時間；

所述料位測量裝置還具有：

用于評估所述第一回波曲線和所述第二回波曲線的評估裝置（110），以便由此計算用于位于所述填料表面或分界層表面之上的疊加介質(zhì)的至少一個特性值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的料位測量裝置，

其中所述第一測量路段（601，701，801，905）和所述第二測量路段（602，702，802，906）具有不同的長度。

3.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的料位測量裝置，所述回波曲線檢測裝置具有：

用于產(chǎn)生所述第一回波曲線的第一料位探針（601，701，801，901）；

用于產(chǎn)生所述第二回波曲線的第二料位探針（602，702，802，902）。

4.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的料位測量裝置，

其中所述至少一個特性值選自磁導(dǎo)率、介電常數(shù)、壓力、溫度以及飽和度。

5.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的料位測量裝置，

所述回波曲線檢測裝置具有：

第一波導(dǎo)（601）和第二波導(dǎo)（602）；

其中所述第一測量路段沿所述第一波導(dǎo)（601）延伸；以及

其中所述第二測量路段沿所述第二波導(dǎo)（602）延伸，所述第二波導(dǎo)具有不同于所述第一波導(dǎo)（601）的物理長度。

6.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的料位測量裝置，

其中所述評估裝置（110）構(gòu)成為，用于計算在所述填料表面或分界層表面之上的所述疊加介質(zhì)的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率的乘積，以用于計算所述填料表面的位置或所述分界層的位置。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至4或6之一所述的料位測量裝置，所述回波曲線檢測裝置具有：

第一波導(dǎo)（701）和第二波導(dǎo)（702）；

其中所述第一測量路段沿所述第一波導(dǎo)（701）延伸；以及

其中所述第二測量路段沿所述第二波導(dǎo)（702）延伸，其中所述第二波導(dǎo)具有與所述第一波導(dǎo)（701）相同的物理長度。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的料位測量裝置，

其中所述第二波導(dǎo)（702）具有電介質(zhì)，因此所述第二測量信號沿所述第二測量路段的渡越時間延長。

9.根據(jù)權(quán)利要求1至4或6之一所述的料位測量裝置，

其中所述回波曲線檢測裝置具有用于傳導(dǎo)兩個所述測量信號的單獨(dú)的同軸波導(dǎo)（801）；

其中所述第一測量信號沿所述同軸波導(dǎo)（801）的外表面引導(dǎo)；以及

其中所述第二測量信號在所述同軸波導(dǎo)（801）的內(nèi)部中引導(dǎo)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的料位測量裝置，

其中所述同軸波導(dǎo)（801）的內(nèi)部至少部分地用電介質(zhì)填充，因此所述第二測量信號沿所述第二測量路段的渡越時間比所述第一測量信號沿所述第一測量路段的渡越時間更長。

11.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的料位測量裝置，

其中所述第一測量信號和/或所述第二測量信號是電磁信號或聲學(xué)信號。

12.用于測量在容器中的料位的料位測量設(shè)備，具有：

根據(jù)權(quán)利要求1至11之一所述的料位測量裝置；以及

用于容納填料的容器（100），所述填料的料位由所述料位測量裝置確定。

13.根據(jù)權(quán)利要求1至11之一所述的料位測量裝置的用于確定在所述填料表面或分界層表面之上的疊加介質(zhì)的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率的乘積的應(yīng)用。

14.用于料位測量的方法，所述方法具有下述步驟：

檢測第一回波曲線和第二回波曲線；

評估所述第一回波曲線和所述第二回波曲線，以便由此計算用于疊加介質(zhì)的至少一個特性值，所述疊加介質(zhì)位于所述填料表面或分界層表面之上；

其中所述第一回波曲線描述沿第一測量路段（601，701，801，905）的反射情況，第一測量信號沿所述第一測量路段朝所述填料表面或分界層表面運(yùn)動；

其中所述第二回波曲線描述沿第二測量路段（602，702，802，906）的反射情況，第二測量信號沿所述第二測量路段朝所述填料表面或分界層表面運(yùn)動；

其中兩個所述測量信號需要到所述填料表面或分界層表面（105）的不同的渡越時間。