[發(fā)明專利]磁性顆粒及其聚類的檢測在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201080067561.3 | 申請日： | 2010-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN102947900A | 公開（公告）日： | 2013-02-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | J·B·A·D·范佐恩;M·M·奧夫揚(yáng)科;T·H·埃弗斯;M·J·J·希伯爾斯 | 申請（專利權(quán)）人： | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號： | H01F1/00 | 分類號： | H01F1/00;H01F1/44 |
| 代理公司： | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;劉炳勝 |
| 地址： | 荷蘭艾*** | 國省代碼： | 荷蘭;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 磁性 顆粒 及其 檢測 | ||
1.一種用于檢測樣本室（111，211，311，411）中的磁性顆粒（MP）的方法，包括：
a）確定與第一檢測區(qū)域（P，C；DR1）中的磁性顆粒（MP）的量相關(guān)的顆粒參數(shù)（S）；
b）確定與第二檢測區(qū)域（P，C；DR2）中的磁性顆粒（MP）的聚類的程度相關(guān)的聚類參數(shù)（Irel）；
c）基于所述聚類參數(shù)評估所述顆粒參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，
其特征在于，如果所述聚類參數(shù)（Irel）偏離預(yù)定值集合則生成警報(bào)信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，
其特征在于，基于所述聚類參數(shù)（Irel）校正所述顆粒參數(shù)（S）。
4.一種用于在根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法中應(yīng)用的設(shè)備（100），包括：
a）磁場發(fā)生器（140），其用于在樣本室（111）中生成磁場（B），所述磁場在所述樣本室的結(jié)合表面（112）的第一場區(qū)域（P）和第二場區(qū)域（C）中分別相對于所述結(jié)合表面（112）具有不同的傾斜；
b）傳感器元件（121，131），其用于檢測第一和第二場區(qū)域（P，C）中的磁性顆粒（MP）；
c）評估單元（132），其用于使所述第一和第二場區(qū)域（P，C）的檢測信號彼此相關(guān)。
5.一種用于在根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法中應(yīng)用的設(shè)備（100），包括：
a）磁場發(fā)生器（140），其用于在樣本室（111）中生成磁場（B），所述磁場在所述樣本室（111）的結(jié)合表面（112）的第一場區(qū)域（P）中傾斜于所述結(jié)合表面（112）；
b）傳感器元件（121，131），其用于檢測所述第一場區(qū)域（P）中的磁性顆粒（MP）；
c）評估單元（132），其用于使在永久去激活所述磁場（B）之前和之后獲得的檢測信號相關(guān)。
6.一種用于在根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法中應(yīng)用的設(shè)備（200，300，400），包括：
a）顆粒檢測單元（220，320，420），其用于檢測所述第一檢測區(qū)域（DR1）中的磁性顆粒（MP）；
b）聚類檢測單元（260，360，460），其用于檢測所述第二檢測區(qū)域（DR2）中的磁性顆粒（MP）的聚類的程度（Irel）。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備（200，300，400），
其特征在于，所述聚類檢測單元包括光源（261，361，461）和光檢測器（262，362，462），所述光檢測器被布置成測量所述第二檢測區(qū)域（DR2）中的光透射。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備（300，400），
其特征在于，所述聚類檢測單元包括至少一個(gè)反射和/或折射界面（363），光在其從所述光源（361，461）到所述光檢測器（362，462）的途中遇到所述界面。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法或根據(jù)權(quán)利要求4到6中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備（100，200，300，400），
其特征在于，有磁場發(fā)生器（140，141，142；241，242；341，342；441，442），其用于生成作用于所述磁性顆粒（MP）的磁場（B）。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法或設(shè)備（100，200，300，400），
其特征在于，所述磁場（B）在所述磁性顆粒（MP）上向著所述樣本室（111，211，311，411）的結(jié)合表面（112，212，312，412）生成吸引力。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法或設(shè)備（100，200，300，400），
其特征在于，所述磁場（B）被調(diào)制，尤其是被反復(fù)開關(guān)。
12.根據(jù)權(quán)利要求6和11所述的設(shè)備（200，300，400），
其特征在于，關(guān)于所述聚類檢測單元（260，360，460）的檢測信號的局部相對幅度（Irel）對其進(jìn)行評估。
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