[發(fā)明專利]計(jì)算缺省3D變差函數(shù)模型的系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080067515.3
• 申請日: 2010-06-18
• 公開（公告）號: CN103154931B
• 公開（公告）日: 2016-11-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 杰弗里·雅路斯;根寶·施;理查德·L·錢伯斯
• 申請（專利權(quán)）人: 蘭德馬克繪圖國際公司
• 主分類號: G06F17/10
• 分類號: G06F17/10
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 張欣

1.一種用于計(jì)算變差函數(shù)模型的方法，所述方法包括：

選擇輸入數(shù)據(jù)和網(wǎng)格數(shù)據(jù)，所述輸入數(shù)據(jù)至少包括測井曲線數(shù)據(jù)和次級數(shù)據(jù)；

使用計(jì)算機(jī)處理所述輸入數(shù)據(jù)，以對所述輸入數(shù)據(jù)應(yīng)用正態(tài)化分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)換或標(biāo)準(zhǔn)化所述輸入數(shù)據(jù)；

使用i）由計(jì)算機(jī)處理之后的測井曲線數(shù)據(jù)；ii）缺省垂直單元滯積距離，以及iii）用于所述垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)的滯積的缺省數(shù)量，計(jì)算垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)；

使用i）由計(jì)算機(jī)處理之后的次級數(shù)據(jù)；ii）缺省水平單元滯積距離，以及iii）用于所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)的滯積的缺省數(shù)量，計(jì)算水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)；以及

自動匹配所述垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)和所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)，以形成變差函數(shù)模型，所述變差函數(shù)模型表示缺省3D變差函數(shù)模型。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，若所述變差函數(shù)模型旨在用于仿真，則使用計(jì)算機(jī)處理所述輸入數(shù)據(jù)，以向所述輸入數(shù)據(jù)應(yīng)用正態(tài)化分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)換。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，若所述變差函數(shù)模型旨在用于插值法，則使用計(jì)算機(jī)處理所述輸入數(shù)據(jù)，以標(biāo)準(zhǔn)化所述輸入數(shù)據(jù)。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述缺省垂直單元滯積距離以如下方式確定：

使用測井曲線數(shù)據(jù)計(jì)算兩個鄰近樣本之間的距離；

收集每兩個所述鄰近樣本之間的所述距離，以形成分布；

排除所述分布中的異常值；以及

計(jì)算所述分布的平均值，所述平均值表示缺省垂直單元滯積距離。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中，使用所述缺省垂直單元滯積距離來計(jì)算用于所述垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)的滯積的缺省數(shù)量。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述缺省水平單元滯積距離以如下方式確定：

計(jì)算用于所述網(wǎng)格數(shù)據(jù)的網(wǎng)格的平均水平單元大小；以及

將所述網(wǎng)格的平均水平單元大小設(shè)置為所述缺省水平單元滯積距離。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，使用所述缺省水平單元滯積距離來計(jì)算用于所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)的滯積的缺省數(shù)量。

8.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

對所述次級數(shù)據(jù)采樣，以在處理所述輸入數(shù)據(jù)和計(jì)算所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)之前減少所述次級數(shù)據(jù)的大小。

9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，計(jì)算所述垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)和水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)包括：處理所述垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)和水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)，以確定用于所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)的主方位方向。

10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，處理所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)包括：在所述主方向上和在垂直于所述主方向的方向上，計(jì)算所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)。

11.一種程序載體裝置，其具有用于計(jì)算變差函數(shù)模型的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，可執(zhí)行所述指令以實(shí)施：

選擇輸入數(shù)據(jù)和網(wǎng)格數(shù)據(jù)，所述輸入數(shù)據(jù)至少包括測井曲線數(shù)據(jù)和次級數(shù)據(jù)；

使用計(jì)算機(jī)處理所述輸入數(shù)據(jù)，以對所述輸入數(shù)據(jù)應(yīng)用正態(tài)化分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)換或標(biāo)準(zhǔn)化所述輸入數(shù)據(jù)；

使用i）由計(jì)算機(jī)處理之后的測井曲線數(shù)據(jù)；ii）缺省豎直單元滯積距離，以及iii）用于所述垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)的滯積的缺省數(shù)量，計(jì)算垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)；

使用i）由計(jì)算機(jī)處理之后的次級數(shù)據(jù)；ii）缺省水平單元滯積距離，以及iii）用于所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)的滯積的缺省數(shù)量，計(jì)算水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)；

自動匹配所述垂直實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)和所述水平實(shí)驗(yàn)變差函數(shù)，以形成所述變差函數(shù)模型，所述變差函數(shù)模型表示缺省3D變差函數(shù)模型。

12.如權(quán)利要求11所述的程序載體裝置，其中，若所述變差函數(shù)模型旨在用于仿真，則使用計(jì)算機(jī)處理所述輸入數(shù)據(jù)，以對所述輸入數(shù)據(jù)應(yīng)用正態(tài)化分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)換。

13.如權(quán)利要求11所述的程序載體裝置，其中，若所述變差函數(shù)模型旨在用于插值法，則使用計(jì)算機(jī)處理所述輸入數(shù)據(jù)，以標(biāo)準(zhǔn)化所述輸入數(shù)據(jù)。

14.如權(quán)利要求11所述的程序載體裝置，其中，所述缺省垂直單元滯積距離以如下方式確定：

使用測井曲線數(shù)據(jù)計(jì)算兩個鄰近樣本之間的距離；

收集每兩個所述鄰近樣本之間的所述距離，以形成分布；

排除所述分布中的異常值；

計(jì)算所述分布的平均值，所述平均值表示缺省豎直單元滯積距離。