[發明專利]單軸向電容式多點觸控系統及其觸控方法

有效

• 申請號: 201080065785.0
• 申請日: 2010-11-11
• 公開（公告）號: CN102859476A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 戈卡爾普·貝拉默戈魯
• 申請（專利權）人: 宸鴻科技（廈門）有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明系有關一種觸控面板，特別是關于一種單軸（single-axis）電容式多點觸控（multi-touch）面板、系統及方法。

背景技術

觸控螢幕顯示器（touchscreen?display）普遍使用于電子裝置中，例如可攜式及手持式電子裝置。觸控螢幕顯示器系結合感測技術及顯示技術，而液晶顯示器的發展更促成感測技術與液晶顯示器的整合。

電容式觸控面板為一種常用的觸控面板（touch?panel），其使用基于電容耦合效應的電容式感測技術來偵測觸碰位置。當手指觸碰電容式觸控面板的表面時，其上電容值的改變可通過基于自電容（self?capacitance）或互電容（mutual?capacitance）的偵測方式來偵測。然而，無論是采用自電容或互電容系統，多點觸控面板的電極均系制作成二軸向，用以確定多點觸碰位置。

自電容式觸控面板之運作系根據電極和地（GND）之間的電容。于二軸向觸控面板中，包括橫向電極和縱向電極，通常是以氧化銦錫（ITO）制造。觸碰點的偵測系根據橫向電極與地之間的自電容，以及縱向電極與地之間的自電容。偵測觸碰之前和觸碰之后相關于橫向電極及縱向電極的自電容變化，因而得以確定出觸碰點的位置。

互電容式觸控面板之運作系根據不同軸向電極之間的電容，例如在二軸系統中橫向電極與縱向電極之間的電容。當手指觸碰電容式觸控面板表面時，會影響觸碰點位置的電容耦合，因而改變其互電容的值。對橫向電極驅動以信號，并于縱向電極處感測其反應，因而得以確定出觸碰點的位置。

圖1A顯示傳統觸控面板的上視圖，而圖1B則顯示圖1A中沿剖面線1B-1B’的剖面圖。其中，橫向電極12形成于基板10的上表面，縱向電極14形成于基板10的下表面。

圖1C顯示另一傳統觸控面板的上視圖，而圖1D則顯示圖1C中沿剖面線1D-1D’的剖面圖。其中，橫向電極12形成于基板10的一面（例如，上表面），縱向電極14形成于橫向電極12之上且位于基板10的同一面（亦即，上表面）。此外，于橫向電極12和縱向電極14之間的交會點處使用個別的絕緣橋接區域13，以避免橫向電極12和縱向電極14之間的短路。

上述自電容式觸控面板及互電容式觸控面板之電極均系形成于二軸，例如直角座標系統或極座標系統，用以確定觸碰位置。然而，使用二軸會使得制程復雜化。以圖1A所示之觸控面板為例，必須形成二個氧化銦錫（ITO）層，用以分別制造橫向電極12和縱向電極14。以圖1C所示之觸控面板為例，必須再額外形成一絕緣層，用以制造絕緣橋接區域13。

傳統的單軸觸控面板僅能確定出單一觸碰位置，即使多個物體同時觸碰于觸控面板的表面。通常，傳統觸控面板會針對這些同時觸碰點以得到當中的一個平均位置。鑒于此，提供一種多點觸控面板以同時確定出二或多觸碰點將成為一種趨勢，用以擴展觸控面板的應用。

鑒于傳統觸控面板具有復雜的制程或者無法確定出多觸碰點，因此亟需提出一種新穎的多點觸控面板，其具有簡單的結構并使用簡化的制程。

發明內容

鑒于上述，本發明實施例提出一種單軸電容式多點觸控面板、系統及方法，其使用單層及單軸電極，因而簡化多點觸控面板的制程。本實施例可偵測位于相同導線上的多個觸碰點。

根據本發明實施例，單軸電容式多點觸控面板包含一基板及形成于基板一面的多條導線，其中該些導線排列為單一軸向。每一導線耦接至一交流信號，并通過量測所述交流信號所產生的輸出信號，以確定觸碰位置。

根據本發明另一實施例，單軸電容式多點觸控系統包含多點觸控面板、驅動電路及量測電路。多點觸控面板具一基板及形成于基板一面的多條導線，其中該些導線排列為單一軸向。驅動電路耦接至多點觸控面板的導線，用以提供一交流信號。量測電路耦接至多點觸控面板的導線，用以接收交流信號所產生之一輸出信號，以確定觸碰位置。

根據本發明又一實施例所揭露之單軸電容式多點觸控方法，首先提供一交流信號，再以交流信號輪流驅動多條導線，以產生電磁場。自該些導線接收一輸出信號。根據交流信號及輸出信號，以確定導線的轉換函數之特性，因而確定出導線的觸碰點。

附圖說明

圖1A顯示傳統觸控面板的上視圖。

圖1B顯示圖1A中沿剖面線1B-1B’的剖面圖。

圖1C顯示另一傳統觸控面板的上視圖。

圖1D顯示圖1C中沿剖面線1D-1D’的剖面圖。

圖2A顯示本發明實施例之單軸電容式多點觸控系統的示意圖。

圖2B顯示圖2A中沿剖面線2B-2B’的剖面圖。