[發(fā)明專利]存儲器設備耗損均衡技術

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080065039.1
• 申請日: 2010-11-23
• 公開（公告）號: CN102792284A
• 公開（公告）日: 2012-11-21
• 發(fā)明（設計）人: 尼馬爾·薩克塞納;霍華德·蔡;迪米特里·衛(wèi)士茨基;延·林
• 申請（專利權）人: 輝達公司
• 主分類號: G06F12/08
• 分類號: G06F12/08;G06F12/06
• 代理公司: 北京市磐華律師事務所 11336
• 代理人: 徐丁峰;魏寧

1.一種或多種其上儲存有指令的計算設備可讀介質，如果由一個或多個處理單元所運行，則所述指令執(zhí)行包含以下內(nèi)容的方法：

將邏輯塊地址和邏輯地址的長度轉譯為多個物理地址以訪問多個存儲器設備，其中每個物理地址均包括設備地址、邏輯單元地址、塊地址和頁面地址。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述多個存儲器設備中的至少兩個是不同的存儲器設備。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述多個存儲器設備包括多個閃存設備。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述方法進一步包括：

讀取所述一個或多個存儲器設備的參數(shù)頁面；

讀取所述一個或多個存儲器設備中每一者的每個邏輯單元的給定物理塊；

確定所述給定塊是否已經(jīng)初始化；

如果給定邏輯單元的所述給定塊已經(jīng)初始化，則對于所述給定邏輯單元檢測并緩存初始化參數(shù)；

如果給定邏輯單元的所述給定塊未初始化，則對于所述給定邏輯單元建立并緩存初始化參數(shù)。

5.根據(jù)權利要求4所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述方法進一步包括在對應的一個或多個存儲器設備中定期日志記錄所緩存的初始化參數(shù)。

6.根據(jù)權利要求4所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，檢測并緩存初始化參數(shù)包括：

檢測并緩存最近的壞塊表數(shù)據(jù)結構；

檢測并緩存最近的映射表數(shù)據(jù)結構；以及

檢測并緩存最近的空余塊表數(shù)據(jù)結構。

7.根據(jù)權利要求4所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，建立并緩存初始化參數(shù)包括：

建立并緩存壞塊表數(shù)據(jù)結構；

建立并緩存映射表數(shù)據(jù)結構；以及

建立并緩存空余塊表數(shù)據(jù)結構。

8.一種或多種其上儲存有指令的計算設備可讀介質，如果由一個或多個處理單元所運行，則所述指令執(zhí)行包含以下內(nèi)容的方法：

發(fā)現(xiàn)一個或多個存儲器設備的持久狀態(tài)；以及

如果對于給定存儲器設備未發(fā)現(xiàn)持久狀態(tài)，則對于給定存儲器設備的每個邏輯單元建立并緩存持久狀態(tài)參數(shù)。

9.根據(jù)權利要求8所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，發(fā)現(xiàn)所述持久狀態(tài)包括：

讀取所述一個或多個存儲器設備的參數(shù)頁面；

讀取所述一個或多個存儲器設備的每一者的每個邏輯單元的給定物理塊；

檢測并緩存最近的壞塊表數(shù)據(jù)結構；

檢測并緩存最近的映射表數(shù)據(jù)結構；以及

檢測并緩存最近的空余塊表數(shù)據(jù)結構。

10.根據(jù)權利要求9所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，建立并緩存持久狀態(tài)參數(shù)包括：

建立并緩存所述壞塊表數(shù)據(jù)結構；

建立并緩存所述映射表數(shù)據(jù)結構；

建立并緩存所述空余塊表數(shù)據(jù)結構。

11.根據(jù)權利要求8所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述方法進一步包括利用所述持久狀態(tài)參數(shù)的一個或多個來處理一個或多個存儲器訪問命令，包括將邏輯塊地址和邏輯地址中的長度參數(shù)轉譯為多個物理地址以訪問一個或多個存儲器設備，每個物理地址均包括設備地址、邏輯單元地址、塊地址和頁面地址，其中，所述塊地址包括一個或多個交織地址位。

12.根據(jù)權利要求11所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述多個物理地址的所述設備地址跨多個存儲器設備進行映射。

13.根據(jù)權利要求12所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述多個存儲器設備中的至少兩個是不同的存儲器設備。

14.根據(jù)權利要求12所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，所述多個存儲器設備包括多個開放NAND閃存接口(ONFI)存儲器設備。

15.根據(jù)權利要求12所述的一種或多種計算設備可讀介質，其中，將所述持久狀態(tài)參數(shù)的一個或多個日志記錄在對應的閃存設備中。