[發(fā)明專利]光電子系統(tǒng)的測量儀器的校準(zhǔn)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080063315.0
• 申請日: 2010-12-13
• 公開（公告）號: CN102753987A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: A·西蒙
• 申請（專利權(quán)）人: 泰勒斯公司
• 主分類號: G01S5/16
• 分類號: G01S5/16;G01S11/12
• 代理公司: 北京戈程知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314
• 代理人: 程偉;周蕾

1.一種用于校準(zhǔn)運動中的光電子系統(tǒng)的測量儀器的方法，其中該光電子系統(tǒng)具有位置P₁、P₂、……、P_i、……，該光電子系統(tǒng)包括：

-用于獲取包括固定對象G₀的現(xiàn)場圖像的器件（10），以及

-用于在所述圖像獲取期間對所述固定對象G₀進行跟蹤的裝置（15），

-用于獲取位置P₁、P₂、……的裝置（20），

-至少一個用于測量距離的儀器（25）和/或用于根據(jù)瞄準(zhǔn)線LdV測量所述測量儀器與所述固定對象G₀之間的定向角和/或空間方位角的儀器（30），

其特征在于，其包括與以下步驟：

-在時刻t₁、t₂、……獲取至少兩個圖像，每一個圖像基于不同的系統(tǒng)位置P₁、P₂、……來獲取，所述固定對象G₀在每一個圖像中被瞄準(zhǔn)，但其位置未知，

-在時刻t′₁、t′₂、……獲取距離和/或角度的測量，

-使時刻t₁、t₂、……所確定的位置為P₁、P₂、……的距離和/或角度測量同步，

-估計測量缺陷，其根據(jù)所述測量和系統(tǒng)的已知位置P_i、P_j使位置P_i處的LdV與位置P_j處的LdV之間的至少兩個交叉點G_ij的分散最小化。

2.根據(jù)前述權(quán)利要求所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，G₀位于圖像的中心。

3.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，單個校準(zhǔn)測量儀器是用于測量定向角和/或空間方位角的儀器，并且所述測量基于至少三個不同位置P₁、P₂、P₃來獲取。

4.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，單個校準(zhǔn)測量儀器為遙測器，并且所述測量基于至少兩個不同的位置來獲取。

5.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，至少一個固定對象G₁能夠在至少兩個圖像上觀察到，所述校準(zhǔn)方法還包括在具有固定對象G₀、G₁的每一個圖像中進行匹配的步驟，此外計算測量缺陷的步驟根據(jù)圖像獲取器件內(nèi)的預(yù)定特征來執(zhí)行。

6.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，其包括優(yōu)化測量條件的步驟，其基于針對對象G₀的已知位置對傳感器最佳軌跡的確定，或者基于對有利于搜索對象G₀的區(qū)域的確定。

7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，其包括基于校準(zhǔn)測量計算G₀和可選的其它固定對象的地理位置的步驟。

8.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，其包括指向固定對象G₀的步驟。

9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的校準(zhǔn)方法，其特征在于，其還包括以下步驟，即將被估計缺陷應(yīng)用于所述距離測量儀器（25）和/或用于測量定向角和/或空間方位角的儀器（30）以便從被校正測量中受益。

10.一種能夠移動的光電子系統(tǒng)，其包括：

-用于獲取包括固定對象G₀的現(xiàn)場圖像的器件（10），以及

-用于在所述圖像獲取期間跟蹤所述固定對象G₀的裝置（15），

-用于獲取位置P₁、P₂、……的裝置（20），

-至少一個用于測量距離的儀器（25）和/或至少一個用于根據(jù)瞄準(zhǔn)線（LdV）測量所述測量儀器與所述固定對象G₀之間的定向角和/或空間方位角的儀器（30），

其特征在于，該系統(tǒng)包括用于執(zhí)行前述權(quán)利要求中的任一項所述的方法的裝置（40）。