[發明專利]太陽光模擬器及利用太陽光模擬器的測定方法有效
| 申請號: | 201080062832.6 | 申請日: | 2010-11-25 |
| 公開(公告)號: | CN102742021A | 公開(公告)日: | 2012-10-17 |
| 發明(設計)人: | 下斗米光博;筱原善裕 | 申請(專利權)人: | 日清紡精密機器株式會社 |
| 主分類號: | H01L31/04 | 分類號: | H01L31/04 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 雒運樸 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽光 模擬器 利用 測定 方法 | ||
1.一種利用太陽光模擬器的測定方法,該方法包括:
同時點亮至少一個以上光源,發出脈沖波形的頂部呈平坦狀的閃光的工序;以及
在將該閃光照射到作為被測定體的太陽能電池并通過照度檢測器進行照度控制的同時,掃描該太陽能電池的電子負載并多點測定從太陽能電池輸出的電流與電壓的測定工序,
所述利用太陽光模擬器的測定方法特征在于,
在對作為被測定體的太陽能電池照射該閃光時,根據該太陽能電池的響應特性而可變控制對電子負載指令的指示速度,測定該太陽能電池所輸出的電流與電壓。
2.一種利用太陽光模擬器的測定方法,該方法包括:
同時點亮至少一個以上光源,發出脈沖波形的頂部呈平坦狀的閃光的工序;以及
在將該閃光照射到作為被測定體的太陽能電池并通過照度檢測器進行照度控制的同時,掃描該太陽能電池的電子負載并多點測定從太陽能電池輸出的電流與電壓的測定工序,
所述利用太陽光模擬器的測定方法的特征在于,
在對作為被測定體的太陽能電池照射該閃光時,根據該太陽能電池的響應特性而可變控制對電子負載指令的指示值并自動調整電子負載指令的掃描速度,測定該太陽能電池所輸出的電流與電壓。
3.根據權利要求1或2所述的利用太陽光模擬器的測定方法,其特征在于,
將該閃光照射到作為被測定體的太陽能電池,對于所掃描的電子負載的各區域設定多種變更電子負載的掃描速度的模式,并根據被測定體的太陽能電池的響應特性選擇相應的模式來掃描電子負載,測定作為被測定體的太陽能電池所輸出的電流與電壓。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的利用太陽光模擬器的測定方法,其特征在于,
根據被測定體的太陽能電池的測定時間,使光源至少發光一次以上,將電流及電壓的測定點分別分割為多點來進行測定。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的利用太陽光模擬器的測定方法,其特征在于,
所述閃光的光脈沖波形的上部平坦部的幅寬在100msec以上500msec以下。
6.一種太陽光模擬器,其具有:
光源,其對作為被測定體的太陽能電池照射閃光;
照度檢測器,其檢測該光源的閃光照度;
所述被測定體的負載電路,其具有電子負載;
控制電路,其對所述電子負載進行掃描控制;以及
數據收集部,其收集所述被測定體所輸出的電流與電壓的數據;
所述太陽光模擬器的特征在于,
掃描控制電子負載的所述控制電路在對作為被測定體的太陽能電池照射該閃光時,根據該太陽能電池的響應特性而可變控制對電子負載指令的指示速度,測定該太陽能電池所輸出的電流與電壓。
7.一種太陽光模擬器,其具有:
光源,其對作為被測定體的太陽能電池照射閃光;
照度檢測器,其檢測該光源的閃光照度;
所述被測定體的負載電路,其具有電子負載;
控制電路,其對所述電子負載進行掃描控制;以及
數據收集部,其收集所述被測定體所輸出的電流與電壓的數據,
所述太陽光模擬器的特征在于,
掃描控制電子負載的所述控制電路在對作為被測定體的太陽能電池照射該閃光時,根據該太陽能電池的響應特性而可變控制對電子負載指令的指示值,自動調整電子負載指令的掃描速度,測定該太陽能電池所輸出的電流與電壓。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





