[發(fā)明專利]抗蝕劑底層組合物以及利用其制造半導(dǎo)體集成電路器件的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201080060221.8 | 申請日: | 2010-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN102713758A | 公開(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 金美英;金相均;趙顯模;高尚蘭;尹熙燦;丁龍辰;金鐘涉 | 申請(專利權(quán))人: | 第一毛織株式會社 |
| 主分類號: | G03F7/11 | 分類號: | G03F7/11;G03F7/075;H01L21/027 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 李丙林;張英 |
| 地址: | 韓國慶*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 抗蝕劑 底層 組合 以及 利用 制造 半導(dǎo)體 集成電路 器件 方法 | ||
1.一種抗蝕劑底層組合物,包含有機(jī)硅烷縮聚產(chǎn)物和溶劑,所述有機(jī)硅烷縮聚產(chǎn)物包括40mol%至80mol%由以下化學(xué)式1表示的結(jié)構(gòu)單元,
[化學(xué)式1]
其中,在化學(xué)式1中,
ORG選自由包括取代或未取代的芳環(huán)的C6至C30官能團(tuán)、C1至C12烷基、和-Y-{Si(OR)3}a組成的組,
其中,R是C1至C6烷基,Y是主鏈中的直鏈或支鏈的取代或未取代的C1至C20亞烷基;或包括選自由亞烯基、亞炔基、亞芳基、雜環(huán)基、脲基、異氰尿酸酯基、以及它們的組合組成的組中的取代基的C1至C20亞烷基,并且a是1或2,并且Z選自由氫和C1至C6烷基組成的組。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗蝕劑底層組合物,其中,所述有機(jī)硅烷縮聚產(chǎn)物進(jìn)一步包含由以下化學(xué)式2或化學(xué)式3表示的結(jié)構(gòu)單元:
[化學(xué)式2]
[化學(xué)式3]
其中,在化學(xué)式2和化學(xué)式3中,
ORG選自由包括取代或未取代的芳環(huán)的C6至C30官能團(tuán)、C1至C12烷基、和-Y-{Si(OR)3}a組成的組,
其中,R是C1至C6烷基,Y是主鏈中的直鏈或支鏈的取代或未取代的C1至C20亞烷基;或包括選自由亞烯基、亞炔基、亞芳基、雜環(huán)基、脲基、異氰尿酸酯基、以及它們的組合組成的組中的取代基的C1至C20亞烷基,并且a是1或2,并且
Z選自由氫和C1至C6烷基組成的組。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗蝕劑底層組合物,其中,所述有機(jī)硅烷縮聚產(chǎn)物是在酸催化劑或堿催化劑存在下利用由以下化學(xué)式4和化學(xué)式5表示的化合物來生產(chǎn)的:
[化學(xué)式4]
[R1O]3Si-X
[化學(xué)式5]
[R2O]3Si-R3
其中,在化學(xué)式4和化學(xué)式5中,
R1和R2相同或不同,并且各自獨(dú)立地是C1至C6烷基,
R3是C1至C12烷基,并且
X是包括取代或未取代的芳環(huán)的C6至C30官能團(tuán)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗蝕劑底層組合物,其中,所述有機(jī)硅烷縮聚產(chǎn)物是在酸催化劑或堿催化劑存在下利用由以下化學(xué)式4至化學(xué)式6表示的化合物來生產(chǎn)的:
[化學(xué)式4]
[R1O]3Si-X
[化學(xué)式5]
[R2O]3Si-R3
[化學(xué)式6]
{[R4O]3Si}n-Y
其中,在化學(xué)式4至化學(xué)式6中,
R1、R2和R4相同或不同,并且各自獨(dú)立地是C1至C6烷基,
R3是C1至C12烷基,
X是包括取代或未取代的芳環(huán)的C6至C30官能團(tuán),
Y是主鏈中的直鏈或支鏈的取代或未取代的C1至C20亞烷基;或包括選自由亞烯基、亞炔基、亞芳基、雜環(huán)基、脲基、異氰尿酸酯基、以及它們的組合組成的組中的取代基的C1至C20亞烷基,并且
n是2或3。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的抗蝕劑底層組合物,其中,所述包括取代或未取代的芳環(huán)的C6至C30官能團(tuán)由以下化學(xué)式21表示:
[化學(xué)式21]
*-(L)m-X1
其中,在化學(xué)式21中,
L是直鏈或支鏈的取代或未取代的C1至C20亞烷基,其中所述亞烷基的一個或多個碳被選自由醚基(-O-)、羰基(-CO-)、酯基(-COO-)、和胺基(-NH-)組成的組中的官能團(tuán)可選地取代,
X1選自由取代或未取代的C6至C20芳基、取代或未取代的C7至C20芳基羰基、以及取代或未取代的C9至C20色酮基組成的組,并且
m是0或1。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于第一毛織株式會社,未經(jīng)第一毛織株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201080060221.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F7-00 圖紋面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工藝;圖紋面照相制版用的材料,如:含光致抗蝕劑的材料;圖紋面照相制版的專用設(shè)備
G03F7-004 .感光材料
G03F7-12 .網(wǎng)屏印刷模或類似印刷模的制作,例如,鏤花模版的制作
G03F7-14 .珂羅版印刷模的制作
G03F7-16 .涂層處理及其設(shè)備
G03F7-20 .曝光及其設(shè)備
- 接收裝置以及接收方法、以及程序
- 凈水濾芯以及凈水裝置、以及洗漱臺
- 隱匿檢索系統(tǒng)以及公開參數(shù)生成裝置以及加密裝置以及用戶秘密密鑰生成裝置以及查詢發(fā)布裝置以及檢索裝置以及計算機(jī)程序以及隱匿檢索方法以及公開參數(shù)生成方法以及加密方法以及用戶秘密密鑰生成方法以及查詢發(fā)布方法以及檢索方法
- 編碼方法以及裝置、解碼方法以及裝置
- 編碼方法以及裝置、解碼方法以及裝置
- 圖片顯示方法以及裝置以及移動終端
- ENB以及UEUL發(fā)送以及接收的方法
- X射線探測方法以及裝置以及系統(tǒng)
- 圖書信息錄入方法以及系統(tǒng)以及書架
- 護(hù)耳器以及口罩以及眼鏡





