[發明專利]粒子射線照射裝置及粒子射線治療裝置

有效

• 申請號: 201080060087.1
• 申請日: 2010-03-31
• 公開（公告）號: CN102686276A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 巖田 高明
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: A61N5/10
• 分類號: A61N5/10
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 張鑫

1.一種粒子射線照射裝置，包括：

掃描電磁鐵，該掃描電磁鐵使得由加速器進行了加速的帶電粒子束進行掃描，具有磁滯；

掃描電源，該掃描電源輸出驅動所述掃描電磁鐵的勵磁電流；以及

照射控制裝置，該照射控制裝置控制所述掃描電源，其特征在于，

所述照射控制裝置包括掃描電磁鐵指令值學習生成器，該掃描電磁鐵指令值學習生成器對預掃描的結果進行評價，在所述評價的結果不滿足規定的條件的情況下，更新所述勵磁電流的指令值，來執行所述預掃描，將所述評價的結果滿足規定的條件的所述勵磁電流的指令值輸出到所述掃描電源，所述預掃描是基于由所述掃描電源輸出的所述勵磁電流的指令值的、一系列的照射動作。

2.如權利要求1所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

所述掃描電磁鐵指令值學習生成器包括：指令評價器，該指令評價器對基于所述勵磁電流的指令值的所述預掃描的結果進行評價；指令更新器，該指令更新器在所述指令評價器的評價結果不滿足所述規定的條件的情況下，更新所述勵磁電流的指令值；以及掃描電磁鐵指令值系列生成器，該掃描電磁鐵指令值系列生成器根據由所述指令更新器進行更新后的所述勵磁電流的指令值來執行所述預掃描，將所述評價的結果滿足所述規定的條件的所述勵磁電流的指令值輸出到所述掃描電源。

3.如權利要求1所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

所述掃描電磁鐵指令值學習生成器包括：數學模型，該數學模型生成所述勵磁電流的指令值并具有參數；

指令評價器，該指令評價器對基于所述勵磁電流的指令值的預掃描的結果進行評價；參數更新器，該參數更新器在所述指令評價器的評價結果不滿足所述規定的條件的情況下，更新所述數學模型的參數；以及掃描電磁鐵指令值系列生成器，該掃描電磁鐵指令值系列生成器根據由更新了所述參數后的所述數學模型所生成的所述勵磁電流的指令值來執行所述預掃描，將所述評價的結果滿足所述規定的條件的所述勵磁電流的指令值輸出到所述掃描電源。

4.如權利要求2或3所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

包括射束位置監視器，該射束位置監視器對向著照射對象進行照射的所述帶電粒子束的通過位置進行檢測，

所述指令評價器比較測定位置坐標和所述照射對象的所述帶電粒子束的目標照射位置坐標，來進行評價，所述測定位置坐標是在基于所述通過位置計算出的所述照射對象的照射位置的坐標。

5.如權利要求2或3所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

包括劑量監視器，該劑量監視器對所述帶電粒子束的劑量進行測定，

所述指令評價器比較測定劑量和目標劑量來進行評價，所述測定劑量是由所述劑量監視器所測定的劑量，所述目標劑量是對于照射有所述帶電粒子束的照射對象的目標劑量。

6.如權利要求2或3所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

包括磁場傳感器，該磁場傳感器對由所述勵磁電流所驅動的所述掃描電磁鐵的磁場進行測定，所述指令評價器比較由所述磁場傳感器所測定的測定磁場、與對應于照射有所述帶電粒子束的照射對象的所述帶電粒子束的目標照射位置坐標的所述掃描電磁鐵的磁場的推定值，來進行評價。

7.如權利要求5所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

將照射所述帶電粒子束的照射對象劃分成由所述勵磁電流驅動的所述掃描電磁鐵產生的X方向及Y方向的磁場所定義的磁場小區域，

所述指令評價器對所述磁場小區域的每個磁場小區域比較所述測定劑量和所述目標劑量，來進行評價。

8.如權利要求2或3所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

包括磁場傳感器，該磁場傳感器對由所述勵磁電流驅動的所述掃描電磁鐵的磁場進行測定，將照射所述帶電粒子束的照射對象劃分成由所述勵磁電流驅動的所述掃描電磁鐵產生的X方向及Y方向的磁場所定義的磁場小區域，

所述指令評價器對所述磁場小區域的每個磁場小區域來比較區域劑量計算值和對于照射有所述帶電粒子束的照射對象的目標劑量，來進行評價，所述區域劑量計算值是基于所述帶電粒子束停留在所述磁場小區域中的停留時間而計算的。

9.如權利要求7所述的粒子射線照射裝置，其特征在于，

所述指令評價器具有分數表，利用所述分數表來進行評價，所述分數表是對所述磁場小區域的所述測定劑量即區域測定劑量與所述目標劑量之差即劑量誤差進行打分的表。