[發明專利]偽指判定設備有效
| 申請號: | 201080058564.0 | 申請日: | 2010-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN102687172A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發明(設計)人: | 門田啟 | 申請(專利權)人: | 日本電氣株式會社 |
| 主分類號: | G06T1/00 | 分類號: | G06T1/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 判定 設備 | ||
1.一種偽指判定設備,包括:
獲取裝置,用于基于指紋圖像獲取與指紋的凸紋的紋寬或凹紋的紋寬相關的紋寬信息;以及
判定裝置,用于基于紋寬信息判定與指紋圖像相對應的手指是真指還是偽指。
2.根據權利要求1所述的偽指判定設備,
其中,獲取裝置包括:
分割裝置,用于將指紋圖像分割成小區域;
判斷裝置,用于針對每個分割后的小區域來判斷區域中凸紋或凹紋的紋路方向;以及
紋寬計算裝置,用于通過以下操作來獲得紋寬信息:對每個小區域的指紋圖像進行二值化,沿著區域中與判斷的紋路方向相垂直的方向掃描每個小區域,并且對連續黑像素的數目或連續白像素的數目進行計數。
3.根據權利要求1所述的偽指判定設備,
其中,獲取裝置包括:
分割裝置,用于將指紋圖像分割成小區域;
判斷裝置,用于針對每個分割后的小區域來判斷區域中凸紋或凹紋的紋路方向;
梯度導出裝置,用于通過沿著區域中與判斷的紋路方向相垂直的方向掃描每個小區域,來獲得像素值的變化梯度的最大值和最小值;以及
紋寬計算裝置,用于通過以下操作來獲得紋寬信息:將通過沿著與紋路方向相垂直的方向掃描每個小區域而獲得的像素值的變化梯度取最大值的點設置為紋寬起始點,將變化梯度取最小值的點設置為紋寬結束點,并且對從紋寬起始點至紋寬結束點的像素數目進行計數。
4.根據權利要求1所述的偽指判定設備,
其中,獲取裝置包括:
二值化圖像產生裝置,用于對指紋圖像進行二值化,并且輸出二值化圖像;
圖像處理裝置,用于對二值化圖像執行預設次數的收縮處理或膨脹處理;以及
計數裝置,用于通過以下操作來獲得紋寬信息:對執行了預設次數的收縮處理之后二值化圖像中剩余的白像素數目進行計數,或者對執行了預設次數的膨脹處理之后二值化圖像中剩余的黑像素數目進行計數。
5.根據權利要求1所述的偽指判定設備,
其中,獲取裝置包括:
二值化圖像產生裝置,用于對指紋圖像進行二值化,并且輸出二值化圖像;
圖像處理裝置,用于對二值化圖像重復地執行收縮處理,直到收縮處理之后白像素總數目變成凸紋閾值或小于凸紋閾值為止,或者對二值化圖像重復地執行膨脹處理,直到膨脹處理之后黑像素總數目變成凹紋閾值或小于凹紋閾值為止,以及
計數裝置,用于通過對已經執行的收縮處理的次數或已經執行的膨脹處理的次數進行計數,來獲得紋寬信息。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的偽指判定設備,
其中,獲取裝置獲得與凸紋的紋寬相關的紋寬信息和與凹紋的紋寬相關的紋寬信息的兩個信息,以及
判定裝置在基于所述兩個信息判定指紋圖像中凸紋的紋寬大于凹紋的紋寬時,判定與指紋圖像相對應的手指是真指。
7.一種偽指判定方法,包括以下步驟:
基于指紋圖像獲取與指紋的凸紋的紋寬或凹紋的紋寬相關的紋寬信息;以及
基于紋寬信息判定與指紋圖像相對應的手指是真指還是偽指。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日本電氣株式會社,未經日本電氣株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201080058564.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:乳品生產預處理車間的空調通風系統
- 下一篇:運算處理裝置





