[發明專利]用于地層的特征化、導航鉆探路徑以及在地下鉆井中布置井的方法

無效

• 申請號: 201080058477.5
• 申請日: 2010-10-15
• 公開（公告）號: CN102725479A
• 公開（公告）日: 2012-10-10
• 發明（設計）人: J·賽都;Y·H·周
• 申請（專利權）人: 普拉德研究及開發股份有限公司
• 主分類號: E21B47/02
• 分類號: E21B47/02;E21B45/00;G01V9/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 蔡洪貴

1.一種用于引導目標地層中的井眼鉆探的方法，所述方法包括下列步驟：

提供具有井底組件的鉆井設備，所述井底組件包括可控的定向鉆井子系統以及具有環視和前視能力的隨鉆測井定向測量工具；

確定所述目標地層中的預定類型的地層特征的存在；以及

使用所述鉆井設備在所述目標地層中對鉆井路徑進行導航，包括：從所述定向測量工具接收測量信號，從接收到的測量信號獲得關于所述目標地層中的所述地層特征的地層參數的代表物，以及控制所述定向鉆井子系統，以便沿根據獲得的地層參數的代表物確定的方向鉆井。

2.如權利要求1所述的方法，其中，提供隨鉆測井定向測量工具的步驟包括：提供具有環視和前視能力的隨鉆測井定向電阻率測量工具。

3.如權利要求2所述的方法，其中，提供具有環視和前視能力的隨鉆測井定向電阻率測量工具的步驟包括：提供具有高達大約100英尺的環視能力和高達大約60英尺的前視能力的所述工具。

4.如權利要求2所述的方法，其中，確定所述目標地層中的預定類型的地層特征的存在的所述步驟包括：

在存儲器中存儲包括多個示例性地層特征模型的多個表示的知識庫；

提供所述目標地層的初始參數數據；以及

比較所述初始參數數據與所述知識庫中的模型，以便選擇地層特征模型，所述目標地層中的所述預定類型的地層特征從選定的地層特征模型導出。

5.如權利要求4所述的方法，其中，在存儲器中存儲包括多個示例性地層特征模型的多個表示的知識庫的步驟包括：存儲包括多組地層幾何結構和地層物理參數的模型。

6.如權利要求4所述的方法，其中，比較所述初始參數數據與所述模型的步驟包括：反演所述初始參數數據，以及比較所述反演的結果與所述模型。

7.如權利要求4所述的方法，其中，比較所述初始參數數據與所述模型的步驟包括：正演模擬所述地層特征模型，以及比較所述正演模擬的結果與所述初始參數數據。

8.如權利要求2所述的方法，其中，從接收到的測量信號獲得關于所述目標地層中的所述地層特征的地層參數的代表物的所述步驟包括：反演所述接收到的測量信號，以獲得關于所述目標地層中的所述地層特征的地層參數的所述代表物。

9.如權利要求2所述的方法，其中，所述地層參數包括鉆頭相對于所述目標地層中的所述地層特征的空間關系。

10.如權利要求8所述的方法，其中，所述地層參數包括鉆頭相對于所述目標地層中的所述地層特征的空間關系。

11.如權利要求2所述的方法，其中，所述地層參數包括鉆頭相對于所述目標地層中的所述地層特征的選定邊界的空間關系。

12.如權利要求8所述的方法，其中，所述地層參數包括鉆頭相對于所述目標地層中的所述地層特征的選定邊界的空間關系。

13.如權利要求2所述的方法，其中，所述地層參數包括電阻率張量。

14.如權利要求2所述的方法，其中，所述預定類型的地層特征包括從下面的組中選擇的多個典型特征：地層斷層；連同頁巖邊界、脊、砂體、鹽丘和地層油/水接觸面的地層儲層。

15.如權利要求8所述的方法，其中，所述預定類型的地層特征包括從下面的組中選擇的多個典型特征：地層斷層；連同頁巖邊界、脊、砂體、鹽丘和地層油/水接觸面的地層儲層。

16.如權利要求4所述的方法，其中，所述方法還包括根據從所述定向電阻率測量工具接收的測量結果修改選定的地層特征模型。

17.一種用于動態地特征化目標地層的方法，所述方法包括下列步驟：

提供具有井底組件的鉆井設備，所述井底組件包括可控的定向鉆井子系統和具有環視和前視能力的隨鉆測井定向測量工具；

確定目標地層中的預定類型的地層特征的存在；以及

使用所述鉆井設備在所述目標地層中鉆井，從所述定向測量工具接收測量信號，以及基于接收到的測量信號進一步特征化所述目標地層中的所述預定類型的地層特征。

18.如權利要求17所述的方法，其中，提供隨鉆測井定向測量工具的步驟包括：提供具有環視和前視能力的隨鉆測井定向電阻率測量工具。