[發明專利]自動分析裝置

有效

• 申請號: 201080057075.3
• 申請日: 2010-12-03
• 公開（公告）號: CN102667491A
• 公開（公告）日: 2012-09-12
• 發明（設計）人: 圷正志
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 張敬強;嚴星鐵

1.一種自動分析裝置，其特征在于，具有：

試劑容器保持機構，其載置多個試劑容器，并能夠旋轉移動；

試劑更換位置移動機構，其使載置于該試劑容器保持機構上的試劑容器向該試劑容器保持機構外移動；

試劑容器投入機構，其將試劑容器投入所述試劑容器保持機構；以及

試劑蓋打開機構，其將保持于所述試劑容器保持機構上的試劑容器的蓋打開。

2.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

以所述試劑容器保持機構的試劑能夠保持數（X）、與所述試劑容器保持機構上的試劑容器在所述試劑蓋打開機構與所述試劑更換位置移動機構之間移動的狹槽數（Y）滿足X=nY±1的關系的方式，來配置所述試劑蓋打開機構以及所述試劑更換位置移動機構，

n是不包括0的任意的自然數。

3.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

以所述試劑容器保持機構的試劑能夠保持數（X）、與所述試劑容器保持機構上的試劑容器在所述試劑蓋打開機構與所述試劑更換位置移動機構之間移動的狹槽數（Y）滿足X=nY±m的關系的方式，來配置所述試劑蓋打開機構以及所述試劑更換位置移動機構，

n是不包括0的任意的自然數，m是不包括0的任意的自然數，并且，是Y的因數以外的數。

4.根據權利要求2或3所述的自動分析裝置，其特征在于，

具備控制機構，該控制機構在所述試劑容器投入機構向所述試劑容器保持機構投入試劑容器的間歇，使所述試劑容器保持機構向與機構的動作方向相反的方向旋轉位置數Y。

5.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

配置有試劑蓋開閉檢測機構，該試劑蓋開閉檢測機構對所述試劑容器所具有的蓋的開閉狀態進行檢測。

6.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述試劑容器保持機構具備試劑條形碼讀取機構，該試劑條形碼讀取機構對貼在所述試劑容器上的試劑條形碼進行讀取。

7.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述試劑容器保持機構具備試劑廢棄機構，該試劑廢棄機構將判斷為不能使用的試劑容器排出。

8.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

具備控制機構，該控制機構對所述試劑容器保持機構的旋轉動作進行控制，以使所述試劑容器保持機構上的試劑容器首先利用所述試劑蓋打開機構來打開蓋，之后，再使其向所述試劑更換位置移動機構的試劑更換位置移動。

9.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

具備設定機構，該設定機構對所述試劑容器保持機構上的試劑容器的配置進行設定，以使由所述試劑蓋打開機構進行的打開動作與由所述試劑更換位置移動機構進行的試劑的更換能夠同時進行。

10.根據權利要求8所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述設定機構是對由所述試劑容器投入機構進行的試劑投入與所述試劑容器保持機構的旋轉動作進行控制的機構。