[發明專利]具有觸點塊的半導體裝置用插座

有效

• 申請號: 201080054423.1
• 申請日: 2010-10-08
• 公開（公告）號: CN102640367A
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 石橋孝洋;高橋克典;松岡則行
• 申請（專利權）人: 山一電機株式會社
• 主分類號: H01R33/76
• 分類號: H01R33/76
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;張會華

技術領域

本發明涉及具有觸點塊的半導體裝置用插座。

背景技術

半導體裝置用插座通常被稱為IC插座，例如，也如專利文獻1所示那樣，半導體裝置用插座被供給規定的試驗電壓并被配置在印刷電路板上，印刷電路板具有輸入輸出部，該輸入輸出部送出用于表示來自作為被檢查物的半導體裝置的短路等的異常檢測信號。在這樣的半導體裝置用插座中，具有接觸端子（觸點）組，該接觸端子（觸點）組具有與半導體裝置的各端子（電極）抵接的接點。也如專利文獻1所示那樣提出了觸點塊，該觸點塊相對于半導體裝置用插座的插座主體能夠裝卸，以便容易地更換這樣的接觸端子組。

在專利文獻1中，觸點塊包括多對觸點片、將該觸點片結合的結合塊。利用固定用螺栓穿過插座主體中的板狀構件的孔而旋入結合塊的內螺紋孔，從而該觸點塊被固定于插座主體。然后，在半導體裝置的各電極按壓于各觸點片的接點的狀態下進行半導體裝置的通電試驗。

先行技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本再表2006/003722號公報

在半導體裝置中，由于制造偏差，半導體裝置的電極的位置（端子的尺寸）在規定的規格內存在偏差。另外，在半導體裝置用插座中，有時期望在進行試驗時由接觸端子的接點形成在半導體裝置的電極（端子）上的傷痕在規定的位置。

例如，有時因半導體裝置的端子尺寸的偏差而由接觸端子的接點形成在半導體裝置的電極（端子）上的傷痕脫離規定的位置。在該情況下，在半導體裝置的外觀檢查中，被判定為不合格品，成品率有可能大幅降低。為了避免這樣的情況，想到預先對半導體裝置的端子和接觸端子的接點之間的位置進行調整。

不過，上述那樣的觸點塊固定在插座主體上的規定的位置，是無法相對于半導體裝置進行位置調整的結構。在該結構中，難以預先對半導體裝置的端子相對于接觸端子的接點的位置進行調整。

發明內容

考慮到以上的問題點，本發明的目的在于提供一種具有觸點塊的半導體裝置用插座，該具有觸點塊的半導體裝置用插座能夠對觸點塊的接觸端子相對于半導體裝置的端子的相對位置進行調整。

為了達到上述的目的，本發明的半導體裝置用插座包括：至少一個觸點塊，其可裝卸地配置于觸點塊收容部，該觸點塊收容部形成在用于配置半導體裝置的半導體裝置收容部的周圍，該至少一個觸點塊具有薄板狀的多個接觸端子，該薄板狀的多個接觸端子分別具有用于與半導體裝置的端子電連接的接點部；位置調整部件，其用于對被保持于至少一個觸點塊的多個接觸端子的接點部相對于被配置于半導體裝置收容部的半導體裝置的端子的相對位置進行調整。

另外，本發明的半導體裝置用插座也可以包括：第1觸點塊和第2觸點塊，其以相對于被形成在用于配置半導體裝置的半導體裝置收容部的周圍的至少一個觸點塊收容部可裝卸的方式配置于該至少一個觸點塊收容部，該第1觸點塊和第2觸點塊具有薄板狀的多個接觸端子，該薄板狀的多個接觸端子分別具有用于與半導體裝置的端子電連接的接點部；位置調整部件，其用于對分別被保持于第1觸點塊和第2觸點塊的多個接觸端子的接點部相對于被配置于半導體裝置收容部的半導體裝置的端子的相對位置進行調整。

采用本發明的半導體裝置用插座，因為具有用于對被保持于至少一個觸點塊的多個接觸端子的接點部相對于被配置于半導體裝置收容部的半導體裝置的端子的相對位置進行調整的位置調整部件，因此能夠對觸點塊的接觸端子相對于半導體裝置的端子的相對位置進行調整。

附圖說明

圖1是將本發明的半導體裝置用插座的第1實施例的觸點塊收容構件與觸點塊一起表示的俯視圖。

圖2是表示本發明的半導體裝置用插座的第1實施例的按壓機構部的俯視圖。

圖3是沿著圖2所示的例子中的III－III線表示的剖視圖。

圖4是將圖3所示的剖視圖分解來表示的局部剖視圖。

圖5是表示在圖2所示的例子中觸點塊安裝于觸點塊收容構件的狀態的俯視圖。

圖6是表示在圖5中觸點塊已拆下的狀態的俯視圖。

圖7A是表示構成圖2所示的觸點塊的一部分的側部止擋構件的俯視圖。

圖7B是圖7A所示的圖的主視圖。

圖7C是圖7A所示的圖的側視圖。

圖7D是沿著圖7A所示的圖中的VIID－VIID線表示的剖視圖。

圖7E是沿著圖7A所示的圖中的VIIE－VIIE線表示的剖視圖。

圖8A是表示構成圖2所示的觸點塊的一部分的觸點座構件的俯視圖。

圖8B是圖8A所示的圖的側視圖。