[發(fā)明專利]絕對值角度測量系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080047467.1
• 申請日: 2010-09-24
• 公開（公告）號: CN102597705A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 托馬斯·迪滕赫費(fèi)爾;岡特·施密特
• 申請（專利權(quán)）人: 謝夫勒科技股份兩合公司
• 主分類號: G01D5/14
• 分類號: G01D5/14
• 代理公司: 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 鄒璐;樊衛(wèi)民

1.絕對值角度測量系統(tǒng)(1)，所述絕對值角度測量系統(tǒng)帶有測量頭(40)和大量安置在轉(zhuǎn)動元件(10)上的角度標(biāo)記(13)，所述測量頭與角度標(biāo)記(13)共同作用，以由磁通量的調(diào)制確定所述轉(zhuǎn)動元件(10)的轉(zhuǎn)動角度，其特征在于，至少一部分所述角度標(biāo)記(13)實(shí)施為永磁體(12)，其中，所述永磁體(12)連同驅(qū)動裝置主單元(30)一起根據(jù)以永磁方式勵磁的同步馬達(dá)的原理形成轉(zhuǎn)動元件(10)的直接驅(qū)動裝置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕對值角度測量系統(tǒng)(1)，其中，所述角度標(biāo)記(13)的總體沿至少兩條分離的軌跡(14)形成在所述直接驅(qū)動裝置的所述轉(zhuǎn)動元件(10)上形。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的絕對值角度測量系統(tǒng)(1)，其中，所述軌跡(14)中的一條由安置在所述轉(zhuǎn)動元件(10)上的所述永磁體(12)形成。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的絕對值角度測量系統(tǒng)(1)，其中，所述軌跡(14)中的至少一部分通過在所述轉(zhuǎn)動元件(10)的表面(18)上的結(jié)構(gòu)(17)形成，所述結(jié)構(gòu)與設(shè)置在所述測量頭(40)的區(qū)域中的磁體共同作用根據(jù)磁阻調(diào)制的原理影響在所述測量頭(40)的區(qū)域中的磁通量。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的絕對值角度測量系統(tǒng)(1)，其中，在所述轉(zhuǎn)動元件(10)的第一側(cè)面(11)上安置的具有高矯頑磁場強(qiáng)度的層(15)中的所述軌跡(14)中的至少一部分由以下方式構(gòu)造，即，沿各自的軌跡(14)，所述層(15)的各個彼此相繼排列的區(qū)段(16)相反地磁極化。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5之一所述的絕對值角度測量系統(tǒng)(1)，其中，所述測量頭(40)構(gòu)造為磁阻傳感器。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6之一所述的絕對值角度測量系統(tǒng)(1)，其中，所述轉(zhuǎn)動元件(10)通過轉(zhuǎn)動連接裝置的、轉(zhuǎn)臺支承裝置的或四點(diǎn)接觸支承裝置的第一支承環(huán)形成。