[發(fā)明專利]用于測(cè)量電容的系統(tǒng)與方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201080045900.8 | 申請(qǐng)日: | 2010-08-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102576043A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | S·伊利亞特;M·莫菲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 美國(guó)亞德諾半導(dǎo)體公司 |
| 主分類號(hào): | G01R27/26 | 分類號(hào): | G01R27/26 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 陳華成 |
| 地址: | 美國(guó)馬*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 測(cè)量 電容 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明總體上針對(duì)電路的電容測(cè)試。特別地,本發(fā)明針對(duì)用于檢測(cè)耦合到驅(qū)動(dòng)電路的輸出的電路的電容的裝置與方法。
背景技術(shù)
對(duì)電路的電容測(cè)試已經(jīng)進(jìn)行很長(zhǎng)時(shí)間了。測(cè)試耦合到驅(qū)動(dòng)電路(例如,IC芯片)的輸出的電路的電容給出了新的挑戰(zhàn)。現(xiàn)在,集成電路芯片廣泛地用于控制或者驅(qū)動(dòng)多種致動(dòng)器(例如,微致動(dòng)器,微機(jī)電(MEMS)致動(dòng)器)。例如,IC用在如照相機(jī)的電子裝備中,以控制或驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的機(jī)械部件(例如,透鏡)。耦合到IC芯片的致動(dòng)器可以看作耦合到該IC芯片的輸出引腳的電容器。
對(duì)于IC芯片來(lái)說,測(cè)試耦合到該IC芯片的輸出的電路的電容(例如,在利用激活電流驅(qū)動(dòng)引腳之前,自身確定是否有負(fù)載裝置連接到該芯片引腳)將是期望的。還沒有用于為此提供簡(jiǎn)單、廉價(jià)的電路的已知的測(cè)試。相應(yīng)地,在本領(lǐng)域中需要以最小的復(fù)雜度有效地測(cè)試耦合到IC引腳的電路的電容的電路。
附圖說明
圖1A和1B是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式的電容感測(cè)電路的示意圖。
圖2是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式的電容感測(cè)電路的示例性信號(hào)輸出的圖。
圖3是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式的電容感測(cè)電路的示例性信號(hào)輸出的圖。
圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式、利用電容感測(cè)電路的處理的流程圖。
圖5是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式的電容感測(cè)電路的示意圖。
圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式的電容感測(cè)電路的示例性信號(hào)輸出的圖。
圖7是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式、利用電容感測(cè)電路的處理的流程圖。
具體實(shí)施方式
提供了用于測(cè)試連接到驅(qū)動(dòng)電路的輸出引腳的負(fù)載電路的電容的系統(tǒng)與方法。在一種實(shí)施方式中,該方法可以包括將該輸出引腳處的電壓驅(qū)動(dòng)至第一電壓;將預(yù)定電流施加至該輸出引腳;比較該輸出引腳處的電壓與參考電壓;以及當(dāng)該輸出引腳處的電壓與所述參考電壓匹配時(shí),基于在計(jì)時(shí)電壓變化周期的開始與所述輸出引腳處的電壓與參考電壓匹配的時(shí)刻之間出現(xiàn)的時(shí)鐘循環(huán)數(shù)量來(lái)生成在所述輸出引腳處存在的電容的估計(jì)結(jié)果。
圖1A是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施方式的電容感測(cè)電路100的示意圖。電容感測(cè)電路100可以包括放大器102、比較器104和計(jì)數(shù)器(例如,定時(shí)器)108。放大器102可以生成施加到輸出引腳110的輸出電壓。比較器104可以比較施加到輸出引腳110的電壓與參考電壓VREF。在一種實(shí)施方式中,電容感測(cè)電路100可以設(shè)置在一般的IC芯片中。負(fù)載電路(例如,圖1中建模為電容器106的負(fù)載裝置)可以經(jīng)引腳110耦合到IC芯片。
放大器102可以在一個(gè)輸入引腳處取得輸入信號(hào)VIN并且經(jīng)反饋路徑在另一個(gè)輸入引腳處取得輸出電壓VOUT。輸出電壓VOUT可以與具有響應(yīng)延遲的輸入電壓VIN匹配。該響應(yīng)延遲可能受電壓VOUT多快可以與VIN匹配的影響。因而,該響應(yīng)延遲可能受負(fù)載電路可以多快充電的影響。在這種實(shí)施方式中,充電電流可以由放大器102的輸出電流提供,該電流可以被電流源112的控制。電流源112可以針對(duì)放大器102的輸出電流提供恒定的充電電流ICHARGE。在一種實(shí)施方式中,放大器102可以是電壓輸出放大器,并且輸入VIN可以耦合到數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的輸出。在另一種實(shí)施方式,反饋信號(hào)可以經(jīng)電阻分壓器耦合。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R27-00 測(cè)量電阻、電抗、阻抗或其派生特性的裝置
G01R27-02 .電阻、電抗、阻抗或其派生的其他兩端特性,例如時(shí)間常數(shù)的實(shí)值或復(fù)值測(cè)量
G01R27-28 .衰減、增益、相移或四端網(wǎng)絡(luò),即雙端對(duì)網(wǎng)絡(luò)的派生特性的測(cè)量;瞬態(tài)響應(yīng)的測(cè)量
G01R27-30 ..具有記錄特性值的設(shè)備,例如通過繪制尼奎斯特
G01R27-32 ..在具有分布參數(shù)的電路中的測(cè)量
G01R27-04 ..在具有分布常數(shù)的電路中的測(cè)量
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