[發(fā)明專利]具有校準(zhǔn)裝置的光學(xué)距離測量設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080044801.8
• 申請日: 2010-09-20
• 公開（公告）號: CN102656423A
• 公開（公告）日: 2012-09-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: A.艾塞勒;O.沃爾斯特;B.施米特克
• 申請（專利權(quán)）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01C15/00
• 分類號: G01C15/00;G01C25/00;G01S17/36;G01S17/32;G01S7/497
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李少丹;李家麟

1.用于光學(xué)距離測量的測量裝置（10），尤其手持的測量裝置，具有：

發(fā)送裝置（12），以把周期調(diào)制的光學(xué)測量射線（13）發(fā)送到目標(biāo)對象（15）；

接收裝置（14），以探測從目標(biāo)對象（15）返回的光學(xué)測量射線（16）；以及

分析裝置（36），以接收并分析該接收裝置（14）的探測信號；

校準(zhǔn)裝置（80），以校準(zhǔn)該測量裝置（10）；

其中該校準(zhǔn)裝置（80）設(shè)計(jì)用于根據(jù)不相關(guān)射線的探測來校準(zhǔn)該分析裝置（36），其中該不相關(guān)射線與該發(fā)送裝置所發(fā)送的調(diào)制測量射線不相關(guān)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量裝置，

其中該周期調(diào)制的測量射線的一個(gè)周期被劃分為多個(gè)子周期；

其中該分析裝置（36）設(shè)計(jì)用于，對在預(yù)定子周期上由該接收裝置（12）所接收的探測信號進(jìn)行累加；

其中該校準(zhǔn)裝置（80）設(shè)計(jì)用于根據(jù)未調(diào)制射線的探測來校準(zhǔn)子周期的長度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測量裝置，

其中該校準(zhǔn)裝置（80）設(shè)計(jì)用于根據(jù)未調(diào)制射線的探測來校準(zhǔn)該分析裝置（36）。

4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的測量裝置，

其中該校準(zhǔn)裝置（80）設(shè)計(jì)用于根據(jù)背景射線的探測來校準(zhǔn)該分析裝置（36）。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4之一所述的測量裝置，

其中該發(fā)送裝置（12）另外還設(shè)計(jì)用于發(fā)送不相關(guān)的測量射線；

其中該校準(zhǔn)裝置（80）設(shè)計(jì)用于根據(jù)不相關(guān)測量射線的探測來校準(zhǔn)該分析裝置（36）。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測量裝置，

其中該測量裝置（10）設(shè)計(jì)用于在該測量裝置內(nèi)把測量射線、尤其不相關(guān)的測量射線傳導(dǎo)到該接收裝置（14）上。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6之一所述的測量裝置，

其中該測量裝置（10）設(shè)計(jì)用于把具有與接收裝置（14）的探測敏感性相匹配的強(qiáng)度的不相關(guān)射線投射到該接收裝置（14）上。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測量裝置，

其中該接收裝置（14）具有可活動(dòng)抑制的射線探測器，以及

其中未調(diào)制的射線以如下強(qiáng)度被傳導(dǎo)到該接收裝置（14）上：該強(qiáng)度與探測器信號的最大值、尤其該可活動(dòng)抑制的射線探測器的最大探測事件速率相匹配。

9.根據(jù)權(quán)利要求1至8之一所述的測量裝置，

其中該接收裝置（14）具有至少一個(gè)SPAD。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至9之一所述的測量裝置，

其中該測量裝置（10）設(shè)計(jì)用于，根據(jù)預(yù)給定的校準(zhǔn)精確度以及由該接收裝置所探測的未調(diào)制射線的強(qiáng)度來確定要由該校準(zhǔn)裝置（80）進(jìn)行的校準(zhǔn)過程的時(shí)長。