[發明專利]測定機器系統內運行用料的化學和/或物理特性的方法與裝置

無效

• 申請號: 201080035814.9
• 申請日: 2010-08-10
• 公開（公告）號: CN102472704A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發明（設計）人: 雷米久什·帕斯圖夏克;萊恩加·夸赫;科斯廷·威斯納;賴納·哈爾蒂希
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01N21/03
• 分類號: G01N21/03;G01N21/85
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 李慧

1.一種測定一機器系統(2)(尤其是一浮動設備中的機器系統)內運行用料的化學和/或物理特性的方法，其中，用光照射所述運行用料并且對透射所述運行用料或者被所述運行用料反射的光進行光譜分析，其特征在于，

所述運行用料受照時至少具有一預定溫度范圍以內的溫度，優選正好具有一預定溫度。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

在照射所述運行用料之前，將其加熱或冷卻至所述選自所述規定溫度范圍以內的溫度，優選加熱或冷卻至所述規定溫度。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述預定溫度范圍最高為10K。

4.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，

進行所述光譜分析時，借助多個不同算法測定所述運行用料的多項不同化學和/或物理特性。

5.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，

在一被所述運行用料穿過的測量單元(8)內用光照射所述運行用料，所述測量單元特定而言為一透射測量單元。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，

用一清潔流體清潔所述測量單元(8)。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，

將所述清潔流體用作一參照介質來檢驗所述測量單元(8)的運行是否正確。

8.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，

利用為所述運行用料所測定的化學和/或物理特性來控制所述機器系統(2)的運行。

9.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，

為在某一時間點上測定的所述運行用料的化學和/或物理特性分配一時間說明和一位置說明。

10.一種用于測定一機器系統(2)(尤其是一浮動設備中的機器系統)內運行用料的化學和/或物理特性的裝置(1)，包括一測量評價設備(11)，所述測量評價設備包括一用光照射運行用料的光源(13)和一用于對透射所述運行用料或者被所述運行用料反射的光進行光譜分析的分光計(14)，其特征在于，一加熱設備(21)和/或一冷卻設備，其用于將所述運行用料加熱和/或冷卻至至少一選自一預定溫度范圍的溫度，優選正好加熱和/或冷卻至一規定溫度。

11.根據權利要求10所述的裝置(1)，其特征在于，

所述預定溫度范圍最高為10K。

12.根據權利要求10或11中任一項所述的裝置(1)，其特征在于，

所述測量評價設備(11)內存儲有多個用于測定所述運行用料的多項不同化學和/或物理特性的不同算法。

13.根據權利要求10至12中任一項所述的裝置(1)，其特征在于，

在一被所述運行用料穿過的測量單元(8)內用光照射所述運行用料，所述測量單元特定而言為一透射測量單元。

14.根據權利要求13所述的裝置(1)，其特征在于一包含一清潔流體的儲存器(31)，其中，所述儲存器(31)可與所述測量單元(8)連接。

15.根據權利要求10至14中任一項所述的裝置(1)，其特征在于多個測量單元(8)，所述測量單元可以測定所述機器系統(2)的多種不同運行用料的化學和/或物理特性，以及/或者可以在所述機器系統(2)的多個不同位置上測定同一種運行用料的化學和/或物理特性，并且所述測量單元通過光纜(15)與所述測量評價設備(11)連接或者可以通過光纜(15)與所述測量評價設備(11)連接。

16.根據權利要求10至15中任一項所述的裝置(1)，其特征在于，

所述測量評價設備(11)與所述機器系統(2)的一自動化系統(50)聯接。

17.根據權利要求10至16中任一項所述的裝置(1)，其特征在于，

所述測量評價設備(11)與一GPS接收器(30)聯接。