[發明專利]氮化物半導體激光二極管有效
| 申請號: | 201080034220.6 | 申請日: | 2010-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN102474077A | 公開(公告)日: | 2012-05-23 |
| 發明(設計)人: | 三好隆 | 申請(專利權)人: | 日亞化學工業株式會社 |
| 主分類號: | H01S5/343 | 分類號: | H01S5/343 |
| 代理公司: | 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287 | 代理人: | 沈錦華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氮化物 半導體 激光二極管 | ||
技術領域
本案發明是涉及一種使用由AlxInyGa1-x-yN(0≤x≤1,0≤y≤1,0≤x+y≤1)表現的氮化物半導體的氮化物半導體激光二極管。
背景技術
使用化合物半導體的半導體激光二極管,廣泛應用于可進行大容量、高密度信息記錄/再生的光盤系統等。另一方面,作為半導體激光二極管的新型應用,期待通過組合藍、綠、紅色半導體激光來實現全色顯示器。
作為光的3原色即藍、綠、紅色中的藍色和紅色的半導體激光二極管業已通過使用作為III-V族化合物半導體的InAlGaN或AlInGaP而實用化。相對于此,綠色激光已經開發出通過利用第二諧波(SHG(second?harmonic?generation,第二諧波振蕩))轉換波長而可進行綠色發光的激光,但是,可直接進行綠色發光的器件至今尚未實用化。
作為可直接進行綠色發光的半導體激光二極管,在1993年報告有使用II-VI族化合物半導體的激光二極管,但因缺乏高電流下的可靠性,至今依然未能實用。因此,近年來,期待實現使用III-V族氮化物半導體直接進行綠色發光的半導體激光二極管。
作為III-V族氮化物半導體,使用含有InxAlyGa1-x-yN(0<x,0≤y<1,0<x+y<1)、尤其含有InGaN的發光層(以下,簡稱為「InGaN發光層」)的紫外~藍色發光的半導體激光二極管業已得到實用化(專利文獻1等),且若將該InGaN發光層的In含有率提高,減小帶隙,使發光波長長波長化,則可利用綠色進行發光。然而,當使InGaN發光層氣相生長時,隨著In含有率升高,對于作為下墊層的GaN層的晶格失配變大,InGaN層自身也容易因化學性不穩定而引起相分離。所以,提高InGaN發光層的In含有率,實現可綠色發光的半導體激光并非易事。
專利文獻2中提出一種通過在發光層中采用由部分P置換InGaN的V族元素所得的InGaNP,而在包含綠色的寬廣波區中可進行發光的半導體激光二極管。根據專利文獻2,可通過將InGaNP用于發光層,而使揮發性低于N的V族元素即P和In結合,從而可防止In偏析。而且,P含有率變化引起的帶隙的彎曲效應較大,因此,和以往的InGaN發光層相比,可降低獲取目標發光波長所需的In含有率。而且,專利文獻3中還提出有通過對InGaNP發光層,添加Mg、Be、C、Si等雜質,而抑制InGaNP發光層的晶體分離。
另一方面,本案發明者等最近通過生長條件的設計而將In含有率高的InGaN發光層的結晶性改善,在使用InGaN發光層的半導體激光二極管中成功進行515nm為止的室溫連續振蕩,且在非專利文獻1中進行了報告。該綠色半導體激光的輸出是在25℃下為5mW,且室溫運行下的預測壽命為5000h以上。
專利文獻1:國際專利公開WO2002-05399號公報
專利文獻2:日本專利特開2002-26459號公報
專利文獻3:日本專利特開2002-84040號公報
非專利文獻:T.Miyoshi?et.al.,”510-515nm?InGaN-Based?Green?Laser?Diodes?on?c-Plane?GaN?substrate”,Applied?Physics?Express?2(2009),062201
發明內容
然而,使用所述InGaN發光層的綠色半導體激光二極管的壽命特性并不充分。如非專利文獻1所示,波長為510~513nm的綠色半導體激光二極管是在室溫運行(25℃)的壽命測試中,到500h為止驅動電流穩定,由此預測的室溫運行下的壽命為5000h以上(參照非專利文獻1,Fig.8)。然而,若作為加速試驗,進行60℃的高溫運行,驅動后立即呈現出急遽劣化,高溫運行下的壽命僅為數十小時。
經本案發明者研究,使用InGaN發光層的半導體激光二極管的壽命特性呈現出對波長較強的依賴性,如果振蕩波長超過500nm,則壽命特性急遽下降。可知和以往相比,若InGaN發光層的In含有率增加,則和作為下墊層的GaN層的晶格失配變大,在InGaN層和GaN層的界面上將產生位錯。而且,也知道若激光二極管器件中的位錯密度增加則壽命特性下降。然而,可認為因位錯密度增加導致壽命特性下降的原因在于,位錯自身作為非發光再結合中心起作用。因此,以往為抑制伴隨振蕩波長的長波長化造成壽命特性下降,而一直致力于減少位錯的產生。
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