[發明專利]閃爍信號檢測裝置

有效

• 申請號: 201080033891.0
• 申請日: 2010-07-20
• 公開（公告）號: CN102474355A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發明（設計）人: 凈法寺佑;杉山行信
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: H04B10/10
• 分類號: H04B10/10;H04B10/105;H04B10/22
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種閃爍信號檢測裝置，其特征在于，

包括：

受光部，將M×N個像素部P_1，1～P_M，N二維排列為M行N列，該M×N個像素部P_1，1～P_M，N分別具有產生與入射光量對應的量的電荷的光電二極管、儲存該電荷的電荷儲存部、及用以輸出與所述電荷儲存部的儲存電荷量對應的數據的開關；

行選擇部，將共同的時間寬度的第1期間及第2期間一前一后地設定，在所述第1期間，對于所述受光部的第(2i-1)行的各像素部P_2i-1，n，使由所述光電二極管所產生的電荷儲存于所述電荷儲存部中，在所述第2期間，對于所述受光部的第2i行的各像素部P_2i，n，使由所述光電二極管所產生的電荷儲存于所述電荷儲存部中，在所述第1期間及所述第2期間之后，選擇所述受光部的各行，逐行地對于各像素部P_mn閉合所述開關而輸出與所述電荷儲存部的儲存電荷量對應的數據；

讀出部，輸入從所述行選擇部所選擇的所述受光部的各行的各像素部P_m，n輸出的數據，并輸出與各像素部P_m，n的所述光電二極管所產生的電荷量對應的數據D_m，n；及

檢測部，輸入自所述讀出部輸出的各數據D_m，n，并根據數據D_2i-1，n、D_2i，n的差，檢測到達像素部P_2i-1，n、P_2i，n的光是否為閃爍信號，

其中，M、N為2以上的整數，m為1以上且M以下的整數，n為1以上且N以下的整數，i為1以上且(M/2)以下的整數。

2.如權利要求1所述的閃爍信號檢測裝置，其特征在于，

所述行選擇部同時選擇所述受光部的第(2i-1)行及第2i行，輸出與第(2i-1)行的各像素部P_2i-1，n的所述電荷儲存部的儲存電荷量對應的數據，且輸出與第2i行的各像素部P_2i，n的所述電荷儲存部的儲存電荷量對應的數據，

所述讀出部同時輸出與第(2i-1)行的各像素部P_2i-1，n的所述光電二極管所產生的電荷量對應的數據D_2i-1，n、及與第2i行的各像素部P_2i，n的所述光電二極管所產生的電荷量對應的數據D_2i，n，

所述檢測部運算自所述讀出部同時輸出的數據D_2i-1，n、D_2i的差。

3.一種閃爍信號檢測裝置，其特征在于，

包括：

受光部，將M×N個像素部P_1，1～P_M，N二維排列為M行N列，該M×N個像素部P_1，1～P_M，N分別具有產生與入射光量對應的量的電荷的光電二極管、儲存該電荷的電荷儲存部、及用以輸出與所述電荷儲存部的儲存電荷量對應的數據的開關；

行選擇部，依次設定共同的時間寬度的第1～第4期間，在所述第1期間，對于所述受光部的第(4j-3)行的各像素部P_4j-3，n，使由所述光電二極管所產生的電荷儲存于所述電荷儲存部中，在所述第2期間，對于所述受光部的第(4j-2)行的各像素部P_4j-2，n，使由所述光電二極管所產生的電荷儲存于所述電荷儲存部中，在所述第3期間，對于所述受光部的第(4j-1)行的各像素部P_4j-1，n，使由所述光電二極管所產生的電荷儲存于所述電荷儲存部中，在所述第4期間，對于所述受光部的第4j行的各像素部P_4j，n，使由所述光電二極管所產生的電荷儲存于所述電荷儲存部中，在所述第4期間之后，選擇所述受光部的各行，逐行地對于各像素部P_m，n閉合所述開關而輸出與所述電荷儲存部的儲存電荷量對應的數據；

讀出部，輸入從所述行選擇部所選擇的所述受光部的各行的各像素部P_m，n輸出的數據，并輸出與各像素部P_m，n的所述光電二極管所產生的電荷量對應的數據D_m，n；及

檢測部，輸入自所述讀出部輸出的各數據D_m，n，并根據數據D_4j-3，n、D_4j-1，n的差與數據D_4j-2，n、D_4j，n的差之和，檢測到達像素部P_4j-3，n、P_4j-2，n、P_4j-1，n、P_4j，n的光是否為閃爍信號，

其中，M、N為2以上的整數，m為1以上且M以下的整數，n為1以上且N以下的整數，j為1以上且(M/4)以下的整數。