[發明專利]存儲設備溫度感測

有效

• 申請號: 201080031726.1
• 申請日: 2010-07-15
• 公開（公告）號: CN102473437A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發明（設計）人: 布萊恩·S·梅洛;拉里·W·埃克斯
• 申請（專利權）人: 泰拉丁公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18;G01R31/26;H01L21/677
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 戚傳江;穆德駿

技術領域

本公開涉及在測試期間感測存儲設備的溫度。

背景技術

磁盤驅動器制造商通常會測試所制造的磁盤驅動器以符合一系列要求。存在串行或并行測試大量磁盤驅動器的測試設備和技術。制造商傾向于同時測試大量磁盤驅動器。磁盤驅動器測試統通常包括一個或多個支架，一個或多個支架具有接納磁盤驅動器進行測試的多個測試槽。

緊鄰磁盤驅動器的測試環境被調節。具有更大容量、更快轉速和更小磁頭間隙的最新代磁盤驅動器對振動更為敏感。過度振動可影響測試結果的可靠性和電連接的完整性。在測試條件下，驅動器自身可通過支承結構或固定裝置將振動傳播到相鄰單元。此振動“串擾”和外部振動源一起會造成碰撞故障、磁頭松動和非重復脫離磁道(NRRO)，從而可能導致較低的測試合格率和增加的制造成本。

在制造磁盤驅動器或其他存儲設備期間，通常會控制存儲設備的溫度以便(例如)確保存儲設備在預定溫度范圍內工作。為此，緊鄰磁盤驅動器的測試環境被調節。測試環境中的最小溫度波動可對精確測試條件和存儲設備的安全有嚴重影響。在某些已知測試系統中，使用冷卻或加熱所有磁盤驅動器設備公用的空氣調節多個磁盤驅動器設備的溫度。

發明內容

通常，本公開涉及在測試期間感測存儲設備的溫度。

在一個方面，為輸送存儲設備和在測試槽內安裝存儲設備提供存儲設備輸送器。存儲設備輸送器包括被構造為接納和支承存儲設備的框架，以及與框架相連的夾緊機構。可操作夾緊機構以向框架所支承的存儲設備施加夾緊力。存儲設備輸送器還包括溫度傳感器(如熱電偶)。可操作夾緊機構以移動溫度傳感器至與框架所支承的存儲設備接觸，以用于測量存儲設備的溫度。

在另一方面，測試槽組件包括存儲設備輸送器和測試槽。存儲設備輸送器包括被構造為接納和支承存儲設備的框架，以及溫度傳感器(如熱電偶)。存儲設備輸送器還包括與框架相連的夾緊機構。可操作夾緊機構以向框架所支承的存儲設備施加夾緊力，并且夾緊機構被構造為移動溫度傳感器至與框架所支承的溫度傳感器接觸，以用于測量存儲設備的溫度。測試槽包括用于接納和支承存儲設備輸送器的測試室。

在另一方面，存儲設備測試系統包括存儲設備輸送器、測試槽和測試電子器件。存儲設備輸送器包括被構造為接納和支承存儲設備的框架、溫度傳感器(如熱電偶)以及可操作地與框架相連的夾緊機構。可操作夾緊機構以向框架所支承的存儲設備施加夾緊力，并且夾緊機構被構造為移動溫度傳感器至與框架所支承的存儲設備接觸，以用于測量存儲設備的溫度。測試槽包括用于接納和支承存儲設備輸送器的測試室以及連接接口板。測試電子器件被構造為向設置在測試室內的存儲設備傳送一個或多個測試程序，并且連接接口板被構造為在存儲設備輸送器設置于測試室內時在溫度傳感器與測試電子器件之間提供電氣連通。

本發明所公開的方法、系統和設備的實施例可能包括下列一個或多個特征。

在一些實施例中，存儲設備輸送器包括印刷電路(如印刷線路板、撓性印刷電路等)。印刷電路包括一個或多個導電層。溫度傳感器集成在印刷電路的一個或多個導電層中。

在一些實例中，存儲設備輸送器還可包括電加熱元件(例如電阻加熱器)，其被布置用于加熱框架所支承的存儲設備。夾緊機構可被構造為移動溫度傳感器和電加熱元件至與框架所支承的存儲設備接觸。

在一些實施例中，存儲設備輸送器包括印刷電路(如印刷線路板、撓性印刷電路等)，其包括與溫度傳感器電氣連通的接觸端子。測試槽可包括連接接口電路以及與連接接口電路電氣連通的導電觸點(如彈簧觸點、伸縮探針等)。導電觸點可被布置用于在存儲設備輸送器設置于測試室內時接合印刷電路的接觸端子。印刷電路可包括一個或多個導電層，并且溫度傳感器可集成在所述一個或多個導電層中。印刷電路還可包括集成在所述一個或多個導電層中的電加熱元件(如電阻加熱器)。在一些情況下，可提供盲插連接器，用于連接接口板和印刷電路之間的電氣連通。

在一些情況下，可操作夾緊機構以在測試室內夾緊存儲設備輸送器。

測試電子器件可被構造為基于接收自溫度傳感器的信號監控設置在測試槽的測試室內的存儲設備的溫度。在一些實施例中，連接接口板被構造為在存儲設備輸送器設置于測試室內時在溫度傳感器與測試電子器件之間提供電氣連通，測試電子器件被構造為基于(至少部分基于)接收自溫度傳感器的信號控制電加熱元件的電流。

在另一方面，提供在測試期間用于容納存儲設備的測試槽組件。測試槽組件包括用于接納和支承存儲設備以及在測試期間為調節存儲設備溫度提供受控環境的殼體。