[發(fā)明專利]測(cè)量水進(jìn)入光氣傳導(dǎo)裝置中的方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201080028350.9 | 申請(qǐng)日: | 2010-06-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102803926A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-11-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | H·舍林;U·彭策爾;E·施特勒費(fèi)爾;D·哈布拉韋策;D·貝克威斯;K·蒂勒;J·雅各布斯;M·艾爾曼;U·斯托克;J·S·斯派爾;T·格爾贊卡;W·波特伍德 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 巴斯夫歐洲公司 |
| 主分類號(hào): | G01N17/04 | 分類號(hào): | G01N17/04;C07C263/10;B01J19/00 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 11247 | 代理人: | 徐國(guó)棟;劉金輝 |
| 地址: | 德國(guó)路*** | 國(guó)省代碼: | 德國(guó);DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)量 進(jìn)入 光氣 傳導(dǎo) 裝置 中的 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種測(cè)量用于通過(guò)使光氣與一種或多種伯胺在溶劑中反應(yīng)而制備異氰酸酯的裝置中水的進(jìn)入和產(chǎn)生的腐蝕的方法。本發(fā)明進(jìn)一步涉及一種制備這類異氰酸酯的設(shè)備,在其后處理段中將用于監(jiān)測(cè)腐蝕的探針置于指定位置上。
異氰酸酯和異氰酸酯混合物可通過(guò)使伯胺或其氫氯化物與過(guò)量光氣反應(yīng)的已知方法制備。在這里,通常將原料即伯胺和光氣與溶劑一起供入位于反應(yīng)器上游的混合單元中。在混合單元中混合以后,將這樣產(chǎn)生的混合物轉(zhuǎn)移至反應(yīng)器中并反應(yīng)形成相應(yīng)的異氰酸酯。在該反應(yīng)以后,使反應(yīng)混合物進(jìn)入位于反應(yīng)段下游的裝置的后處理段中,并在其中進(jìn)行后處理以得到包含異氰酸酯、溶劑和副產(chǎn)物的產(chǎn)物流。通常將后處理溶劑供回到該過(guò)程中。
由于上述裝置的反應(yīng)段和后處理段中光氣的存在,存在一種風(fēng)險(xiǎn):如果水進(jìn)入,則光氣與水反應(yīng)形成C02和鹽酸,鹽酸在另外的水的存在下可導(dǎo)致腐蝕損害。這種腐蝕損害難以預(yù)測(cè),但導(dǎo)致裝置的長(zhǎng)停工期,這與高費(fèi)用相關(guān)。
涉及水進(jìn)入光氣或光氣傳導(dǎo)裝置中的檢測(cè)的文獻(xiàn)為DD-A?139955。該文獻(xiàn)公開(kāi)了測(cè)量設(shè)備的安裝,其可檢測(cè)裝置中危險(xiǎn)位置處少痕量水的出現(xiàn)。危險(xiǎn)位置特別限定為換熱器,其可由于環(huán)境應(yīng)力裂紋腐蝕、焊接孔或材料缺陷而導(dǎo)致泄漏。
用于監(jiān)測(cè)腐蝕的測(cè)量探針是本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員已知的。DE-A?2809322例如公開(kāi)了用于監(jiān)測(cè)介質(zhì)中的腐蝕的探針。此處將由腐蝕危及的材料制成的電極在探針外殼中引入腐蝕性介質(zhì)中。電極導(dǎo)致連續(xù)電流流動(dòng),且它的量級(jí)取決于電極被腐蝕的程度。將電極以已知方式連接在電阻測(cè)量電橋上,其中探針的電極形成惠斯通電橋的一條腿。電橋的其它腿尤其通過(guò)監(jiān)測(cè)元件和參比元件形成,所述元件各自不暴露在腐蝕性介質(zhì)下,但在探針外殼的另一部分中由此隔離。
本發(fā)明的目的是提供一種在用于通過(guò)使光氣與一種或多種伯胺反應(yīng)而制備異氰酸酯的裝置中監(jiān)測(cè)和測(cè)量水的進(jìn)入并由此監(jiān)測(cè)腐蝕的方法。本發(fā)明的另一目的是提供一種用于制備異氰酸酯的設(shè)備,其容許識(shí)別水的進(jìn)入和產(chǎn)生的腐蝕出現(xiàn)。
該目的通過(guò)一種測(cè)量水進(jìn)入用于通過(guò)使光氣與一種或多種伯胺在溶劑中反應(yīng)而制備異氰酸酯的裝置中的方法而實(shí)現(xiàn),其中所述裝置包含反應(yīng)段和具有溶劑回收的后處理段。本發(fā)明方法包括如下步驟:
(a)在裝置的后處理段中將至少一個(gè)測(cè)量探針引入凝相中,其中異氰酸酯或光氣的含量為5體積%以下,優(yōu)選3體積%以下,特別優(yōu)選1體積%以下,
(b)測(cè)量由所述至少一個(gè)測(cè)量探針產(chǎn)生的至少一種信號(hào),和
(c)通過(guò)監(jiān)測(cè)所述至少一種信號(hào)而測(cè)量水進(jìn)入裝置中。
因此,本發(fā)明方法使得可成功地監(jiān)測(cè)用于制備異氰酸酯的裝置,并使得可在裝置上發(fā)生更大腐蝕損害以前對(duì)水的進(jìn)入立即做出反應(yīng)。
本方法特別用于監(jiān)測(cè)其中存在無(wú)水工藝料流且其中工藝料流的腐蝕性在水,甚至以極小的量,例如約100ppm范圍侵入時(shí),由于含水鹽酸的形成而極大提高的裝置。這類裝置為用于制備異氰酸酯、酰基氯、聚碳酸酯和酸酐的裝置。在異氰酸酯的情況下,裝置優(yōu)選為其中制備至少一種選自亞甲基二(苯基異氰酸酯)(MDI)、甲苯二異氰酸酯(TDI)、六亞甲基二異氰酸酯、五亞甲基二異氰酸酯(HDI)、異佛爾酮二異氰酸酯(IPDI)、2,4-和2,6-二異氰酸酯基甲基環(huán)己烷的異氰酸酯的那些。
根據(jù)本發(fā)明,在步驟(a)中,將一個(gè)或多個(gè)測(cè)量探針在裝置的后處理段中引入凝相中,所述凝相中異氰酸酯或光氣的含量為5體積%以下,優(yōu)選3體積%以下,特別優(yōu)選1體積%以下。在裝置的后處理段中在凝相中引入或配置測(cè)量探針使得可通過(guò)在步驟(b)中測(cè)量由至少一個(gè)測(cè)量探針產(chǎn)生的至少一種信號(hào)和在步驟(c)中監(jiān)測(cè)該信號(hào)而檢測(cè)到痕量水,并可預(yù)防性地和在早期階段識(shí)別腐蝕狀態(tài),其中在凝相中異氰酸酯或光氣的含量為5體積%以下,優(yōu)選3體積%以下,特別優(yōu)選1體積%以下,所述痕量水可例如經(jīng)由密封元件、焊接縫或腐蝕點(diǎn)處的泄漏進(jìn)入裝置中。這相當(dāng)?shù)靥岣哐b置的可用性,因?yàn)榘l(fā)生更少與腐蝕相關(guān)的停工期。在本發(fā)明上下文中,已發(fā)現(xiàn)特別是在這些裝置的后處理段中,可以以這樣的方式在良好時(shí)間內(nèi)觀察到腐蝕的出現(xiàn)。這可能涉及這一事實(shí):良好的混合和高溫在裝置的反應(yīng)段中盛行,這有利于和促進(jìn)異氰酸酯與進(jìn)入的水反應(yīng),因此在裝置的這一區(qū)域內(nèi)幾乎不發(fā)生腐蝕。
測(cè)量探針在危險(xiǎn)位置如換熱器處的配置,如DD?139955所述,使得可檢測(cè)激烈的水侵入,但這些探針的使用僅限于光氣傳導(dǎo)裝置組件。
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