[發明專利]用于讀取救護點測試結果的手持掃描儀系統和方法

有效

• 申請號: 201080025320.2
• 申請日: 2010-04-07
• 公開（公告）號: CN102483399A
• 公開（公告）日: 2012-05-30
• 發明（設計）人: R·埃加恩;G·里德加德;D·布克
• 申請（專利權）人: 連接DX股份有限公司
• 主分類號: G01N33/483
• 分類號: G01N33/483;G01N37/00;G01N21/00;G01N23/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 張陽

1.一種診斷化驗系統，包括：

測試設備，所述測試設備包括具有一個或多個測試線的測試條和一個或多個指示物；以及

掃描設備，包括：

i)電磁輻射源；

ii)被布置為引導所述電磁輻射的光學組件；

iii)被布置為接收來自測試條的發射或反射的檢測器；

iv)微處理器；以及

v)機架；

其中所述測試設備和掃描設備被配置為在掃描設備操作期間相對于彼此可移動，并且其中所述微處理器被配置為至少部分基于所述指示物和一個或多個測試線來生成測試結果數據。

2.如權利要求1所述的系統，其中所述指示物結合所述測試條被布置。

3.如權利要求1所述的系統，其中所述指示物處于鄰近所述一個或多個測試線的位置以使得每個指示物對應于一個測試線。

4.如權利要求3所述的系統，其中鄰近所述一個或多個測試線的所述指示物形成一圖案，并且其中所述微處理器被配置為至少部分基于所述圖案生成測試結果數據。

5.如權利要求4所述的系統，其中所述圖案是一維圖案。

6.如權利要求4所述的系統，其中所述圖案是二維圖案。

7.如權利要求1所述的系統，其中所述指示物包括銪參考記號。

8.如權利要求1所述的系統，其中所述測試設備還包括具有窗口的主體，其中所述主體被配置為使得所述一個或多個測試線可通過所述窗口被暴露給來自所述源的輸出。

9.如權利要求1所述的系統，其中所述檢測器被配置為檢測由一個或多個所述測試線提供的發射或反射。

10.如權利要求9所述的系統，還包括第二檢測器，其中所述第二檢測器被配置為檢測來自一個或多個所述指示物的發射或反射。

11.如權利要求1所述的系統，其中所述檢測器被配置為檢測來自一個或多個所述指示物的發射或反射。

12.如權利要求1所述的系統，其中所述測試設備和掃描設備被配置為在至少一個平面內可相對彼此自由移動。

13.如權利要求1所述的系統，其中所述測試設備和掃描設備被配置為在至少兩個平面內可相對彼此自由移動。

14.如權利要求1所述的系統，其中所述機架被配置為無法接收所述測試設備。

15.如權利要求1所述的系統，其中所述機架被配置為手持機架，并且還包括在所述機架的遠側區域附近的測試設備接口。

16.如權利要求15所述的系統，其中所述測試設備接口包括縫隙，其中所述縫隙被配置為與所述測試設備開放式連通。

17.如權利要求16所述的系統，還包括耦合至所述測試設備接口的擋板，其中所述擋板被配置為圍繞所述縫隙，由此所述擋板阻擋環境光通過所述縫隙進入所述掃描設備。

18.如權利要求15所述的系統，其中所述手持機架包括從測試設備接口附近的機架的遠側區域向遠延伸的平行軌。

19.如權利要求18所述的系統，其中所述測試設備包括被成形為接收所述手持機架的平行軌的一對縱向通道。

20.如權利要求19所述的系統，其中所述手持機架的平行軌與所述測試設備的縱向通道可滑動地對接。

21.如權利要求1所述的系統，其中所述微處理器被配置為生成測試結果數據以補償測試設備和掃描設備之間的相對運動。

22.如權利要求21所述的系統，其中所述補償包括對測試設備和掃描設備之間的相對運動期間的可變速度的補償。

23.如權利要求1所述的系統，其中所述微處理器被配置為生成測試結果數據以補償測試條和掃描設備之間的相對角偏移。

24.如權利要求1所述的系統，其中所述檢測器包括電荷耦合器件(CCD)，或者互補金屬半導體(CMOS)器件。