[發(fā)明專利]圖像處理設(shè)備及其控制方法和計(jì)算機(jī)程序

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201080024458.0
• 申請(qǐng)日: 2010-05-26
• 公開（公告）號(hào): CN102458221A
• 公開（公告）日: 2012-05-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 今村裕之;片山昭宏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 佳能株式會(huì)社
• 主分類號(hào): A61B3/10
• 分類號(hào): A61B3/10;A61B3/12;G06T1/00
• 代理公司: 北京魏?jiǎn)W(xué)律師事務(wù)所 11398
• 代理人: 魏?jiǎn)W(xué)

1.一種圖像處理設(shè)備，其對(duì)通過(guò)斷層圖像攝像設(shè)備拍攝被檢眼的圖像所獲得的斷層圖像進(jìn)行處理，所述圖像處理設(shè)備包括：

層候選檢測(cè)部件，用于從所述斷層圖像檢測(cè)所述被檢眼的視網(wǎng)膜的層候選；

偽影區(qū)域判斷部件，用于基于使用所述層候選所獲得的圖像特征，判斷所述斷層圖像中的偽影區(qū)域；以及

圖像校正部件，用于基于所述偽影區(qū)域判斷部件的判斷結(jié)果和所述偽影區(qū)域中的圖像特征，校正所述偽影區(qū)域中的亮度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理設(shè)備，其特征在于，還包括層確定部件，所述層確定部件用于基于通過(guò)所述圖像校正部件校正后的所述偽影區(qū)域中的亮度，確定所述偽影區(qū)域中的視網(wǎng)膜的層的位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的圖像處理設(shè)備，其特征在于，還包括亮度使用判斷部件，所述亮度使用判斷部件用于基于所述偽影區(qū)域中的亮度的大小，判斷在所述層的位置的確定中是否使用所述偽影區(qū)域中的亮度，

其中，當(dāng)所述亮度使用判斷部件判斷為使用所述偽影區(qū)域中的亮度時(shí)，所述層確定部件使用所述偽影區(qū)域中的亮度執(zhí)行所述層的位置的確定處理，以及

當(dāng)所述亮度使用判斷部件判斷為不使用所述偽影區(qū)域中的亮度時(shí)，所述層確定部件通過(guò)使用所述偽影區(qū)域附近的層候選進(jìn)行插值處理，確定所述層的位置。

4.一種圖像處理設(shè)備，其對(duì)通過(guò)斷層圖像攝像設(shè)備拍攝被檢眼的圖像所獲得的斷層圖像進(jìn)行處理，所述圖像處理設(shè)備包括：

層候選檢測(cè)部件，用于從所述斷層圖像檢測(cè)所述被檢眼的視網(wǎng)膜的層候選；

偽影區(qū)域判斷部件，用于基于使用所述層候選所獲得的圖像特征，判斷所述斷層圖像中的偽影區(qū)域；以及

層確定部件，用于基于所述偽影區(qū)域判斷部件的判斷結(jié)果，確定所述偽影區(qū)域中的所述視網(wǎng)膜的層的位置，

其中，所述層確定部件使用用于指定所述偽影區(qū)域中所包括的層幾何形狀并且由多個(gè)控制點(diǎn)所定義的幾何模型，并且基于與所述幾何模型的幾何形狀相關(guān)聯(lián)的評(píng)價(jià)函數(shù)和與所述控制點(diǎn)附近的亮度相關(guān)聯(lián)的評(píng)價(jià)函數(shù)來(lái)確定所述層的位置。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的圖像處理設(shè)備，其特征在于，所述層確定部件以隨著所述偽影區(qū)域中像素的亮度的降低而增大與所述控制點(diǎn)附近的亮度相關(guān)聯(lián)的評(píng)價(jià)函數(shù)的權(quán)重的方式來(lái)確定與所述控制點(diǎn)附近的亮度相關(guān)聯(lián)的評(píng)價(jià)函數(shù)的權(quán)重，或者根據(jù)所述偽影區(qū)域中像素的亮度和所述斷層圖像中的除所述偽影區(qū)域以外的像素的亮度之間的比來(lái)確定與所述控制點(diǎn)附近的亮度相關(guān)聯(lián)的評(píng)價(jià)函數(shù)的權(quán)重，以及

所述層確定部件根據(jù)由所述偽影區(qū)域附近的所述層候選所指定的層的幾何形狀的不平坦程度，確定與所述幾何模型的幾何形狀相關(guān)聯(lián)的評(píng)價(jià)函數(shù)的權(quán)重，以使得隨著不平坦程度的增大而降低該權(quán)重。

6.根據(jù)權(quán)利要求1～5中任一項(xiàng)所述的圖像處理設(shè)備，其特征在于，使用所述層候選所獲得的圖像特征包括所述層候選之間的連續(xù)性，以及

所述偽影區(qū)域判斷部件判斷為：所述斷層圖像中的所述偽影區(qū)域具有連續(xù)性低且被判斷為不連續(xù)的層候選作為所述偽影區(qū)域的端點(diǎn)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的圖像處理設(shè)備，其特征在于，所述偽影區(qū)域判斷部件使用如下的層候選作為所述偽影區(qū)域的端點(diǎn)：所述層候選是被判斷為不連續(xù)的兩個(gè)層候選中、比各個(gè)層候選深的區(qū)域中的亮度較低的層候選。

8.根據(jù)權(quán)利要求1～7中任一項(xiàng)所述的圖像處理設(shè)備，其特征在于，使用所述層候選所獲得的圖像特征包括由兩個(gè)層候選所指定的區(qū)域中像素的亮度在與所述斷層圖像的A掃描方向垂直的方向上的差，以及

所述偽影區(qū)域判斷部件基于A掃描方向上的多個(gè)亮度剖面圖之間的差異程度，判斷所述斷層圖像中的所述偽影區(qū)域。

9.根據(jù)權(quán)利要求1～8中任一項(xiàng)所述的圖像處理設(shè)備，其特征在于，還包括：

投影圖像生成部件，用于通過(guò)在與所述視網(wǎng)膜的深度方向相對(duì)應(yīng)的所述斷層圖像的A掃描方向上將所述斷層圖像的各個(gè)像素相加，生成投影圖像；以及

特征提取部件，用于從所述投影圖像提取包括所述被檢眼中的生物組織和病變部位中的至少一個(gè)的特征區(qū)域，

其中，所述偽影區(qū)域判斷部件在所述特征區(qū)域中和所述特征區(qū)域附近判斷所述偽影區(qū)域。