[發明專利]顆粒檢測與傳感器的校準有效
| 申請號: | 201080021279.1 | 申請日: | 2010-05-10 |
| 公開(公告)號: | CN102428377A | 公開(公告)日: | 2012-04-25 |
| 發明(設計)人: | 凱文·J·谷斯;佩德羅·利利恩菲爾德;迪特爾·吉塔;約翰·G·希斯 | 申請(專利權)人: | 賽默飛世爾科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R17/14 | 分類號: | G01R17/14 |
| 代理公司: | 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204 | 代理人: | 余朦;王艷春 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顆粒 檢測 傳感器 校準 | ||
1.一種方法,包括:
接收流經導管的流體樣品;
監控從所述流體樣品中的顆粒物質散射的光能,所述光能的大小基于所述流體樣品中存在的顆粒物質改變;
檢測所述光能的大小的變化,所述大小的變化代表所述流體樣品的所述顆粒物質的變化;以及
響應于檢測所述大小中的變化,開始校準用于檢測所述光能的光學傳感器。
2.如權利要求1所述的方法,其中開始校準所述光學傳感器包括:
開始物理采集所述流體樣品中存在的顆粒物質;
計算從所述流體樣品中采集的所述顆粒物質的質量;以及
基于從所述流體樣品中采集的所述顆粒物質計算出的質量來校準所述光學傳感器。
3.如權利要求2所述的方法,其中開始采集所述流體樣品中存在的所述顆粒物質是響應檢測到所述光能的所述大小的變化高于閾值而發生的。
4.如權利要求3所述的方法,其中所述光能的所述大小的變化代表所述流體樣品的顆粒的質量濃度的變化。
5.如權利要求3所述的方法,其中所述光能的所述大小的變化代表所述流體樣品的所述顆粒的組成的變化。
6.如權利要求3所述的方法,其中所述光能的所述大小的變化代表所述流體樣品的顆粒的大小的變化。
7.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
響應于檢測所述光能的大小的變化,開始采集所述流體樣品中存在的所述顆粒物質。
8.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
當所述流體樣品流經所述導管時,傳送光束通過所述流體樣品;以及
其中監控所述光能包括檢測所述光束中的一部分光束的向前散射,所述向前散射包括在關于被傳送光束的路徑成銳角處的所述光束的散射。
9.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
當所述流體樣品流經所述導管時,傳送光束通過所述流體樣品;以及
其中監控所述光能包括檢測所述光束中的一部分光束的向后散射,所述向后散射包括在關于被傳送光束的路徑成鈍角處的所述光束的散射。
10.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
基于所述光能的所述大小,計算代表所述流體樣品中的所述顆粒物質的質量的數值;以及
響應檢測所述大小的變化,開始執行診斷測試程序以測試便于生成所述數值的硬件。
11.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
從煙道中接收氣體樣品;
用稀釋氣體稀釋所述氣體樣品;
加熱被稀釋的氣體樣品;以及
其中流經所述導管的被接收的流體樣品是被加熱的、被稀釋的氣體樣品。
12.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
當所述流體樣品流經所述導管時監控所述流體樣品,所述導管被豎直放置。
13.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
傳送光束通過所述流體樣品;以及
其中監控所述光能包括:
利用第一光學傳感裝置來檢測來自從所述流體樣品中的所述顆粒物質散射的光束中的光;以及
利用第二光學傳感裝置來檢測來自從所述流體樣品中的所述顆粒物質散射的光束中的光。
14.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
傳送光束通過所述流體樣品;以及
其中監控所述光能包括:
檢測在關于所述光束的定向路徑的向前路徑中的所述光束中的一部分光束的散射;以及
檢測在關于所述光束的定向路徑的向后路徑中的所述光束中的一部分光束的散射。
15.如權利要求1所述的方法,進一步包括
安排用于監控所述光能的光學傳感器的未來校準;
繼所述安排之后,利用所述光能的測量來估計所述流體樣品中所述顆粒物質的質量;
基于所述光能的所述大小,得到代表所述流體樣品中所述顆粒的質量的數值;以及
響應于檢測到所述光能的所述大小中的變化高于閾值,在所述被排定未來校準之前的時間開始校準所述光學傳感器。
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