[發明專利]氣體屏蔽膜、包含它的電子器件、氣體屏蔽袋、以及氣體屏蔽膜的制造方法有效
| 申請號: | 201080014250.0 | 申請日: | 2010-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN102365387A | 公開(公告)日: | 2012-02-29 |
| 發明(設計)人: | 中山弘 | 申請(專利權)人: | 株式會社材料設計工場;愛沃特株式會社 |
| 主分類號: | C23C16/42 | 分類號: | C23C16/42;B32B9/00;B65D65/40;H01L31/042;H01L51/50;H05B33/04 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 蔣亭 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氣體 屏蔽 包含 電子器件 以及 制造 方法 | ||
1.一種氣體屏蔽膜,其特征在于,具有與塑料薄膜(1)的兩個主面 分別接觸的氣體屏蔽層(2),
所述氣體屏蔽層是利用Cat-CVD堆積的SiCNFH層、SiOCNH層以 及SiCNH層中的任意一種,
所述SiCNFH層滿足0.01<I(SiH)/I(SiN)<0.05、0.00<I(CH)/I (SiN)<0.07、0.04<I(NH)/I(SiN)<0.08、以及0.05<I(CF)/I(SiN) <0.3的條件,
所述SiOCNH層滿足0.1<I(SiH)/I(NH)<0.9、0.0<I(CH)/I(NH) <0.3、8<I(SiN)/I(NH)<20、以及2<I(SiO2)/I(NH)<8的條件,
此外,所述SiCNH層滿足0.01<I(SiH)/I(SiN)<0.05、0.00<I(CH) /I(SiN)<0.07、以及0.04<I(NH)/I(SiN)<0.08的條件,
這里,I表示有關附記在其后的括號內的原子鍵的傅立葉變換紅外分 光光譜的峰強度。
2.根據權利要求1所述的氣體屏蔽膜,其特征在于,所述SiCNFH 層滿足0.01<I(SiH)/I(SiN)<0.03、0.00<I(CH)/I(SiN)<0.02、0.05<I (NH)/I(SiN)<0.08、以及0.05<I(CF)/I(SiN)<0.25的條件,
所述SiOCNH層滿足0.1<I(SiH)/I(NH)<0.5、0.0<I(CH)/I(NH) <0.2、10<I(SiN)/I(NH)<20、以及2<I(SiO2)/I(NH)<5的條件,
此外,所述SiCNH層滿足0.01<I(SiH)/I(SiN)<0.03、0.00<I(CH) /I(SiN)<0.02、以及0.05<I(NH)/I(SiN)<0.08的條件。
3.根據權利要求1所述的氣體屏蔽膜,其特征在于,在與所述塑料 薄膜接觸的氣體屏蔽層上層疊有所述SiCNFH層、所述SiOCNH層、以 及所述SiCNH層中的任意一種附加的氣體屏蔽層,與所述塑料薄膜接觸 的氣體屏蔽層與所述附加的氣體屏蔽層是彼此不同種類的層。
4.根據權利要求1所述的氣體屏蔽膜,其特征在于,所述塑料薄膜 是具有120℃以上的玻璃化溫度或200℃以上的熔點、或者200℃以上的 液晶化溫度的耐熱性的塑料薄膜。
5.根據權利要求1所述的氣體屏蔽膜,其特征在于,所述塑料薄膜 被進行了表面平坦化處理。
6.根據權利要求1所述的氣體屏蔽膜,其特征在于,在所述氣體屏 蔽膜的至少一個面上還附加地包含導電層。
7.一種電子器件,其特征在于,作為保護層包含權利要求1所述的 氣體屏蔽膜。
8.根據權利要求7所述的電子器件,其特征在于,所述電子器件是 觸摸面板、有機EL器件、無機EL器件、太陽能電池以及電子紙的任意 一種。
9.一種氣體屏蔽袋,其特征在于,以權利要求1所述的氣體屏蔽膜 形成。
10.一種氣體屏蔽膜的制造方法,是制造權利要求1所述的氣體屏蔽 膜的方法,其特征在于,使用選自有機硅烷化合物、有機氨基硅化合物、 氨、氟碳、氧以及氫中的原材料,利用Cat-CVD形成所述氣體屏蔽層。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴散法,化學轉化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態化合物分解且表面材料的反應產物不留存于鍍層中的化學鍍覆,例如化學氣相沉積
C23C16-01 .在臨時基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機材料為特征的





