[發明專利]分析器和用于清洗分配探針的方法

無效

• 申請號: 201080011175.2
• 申請日: 2010-03-09
• 公開（公告）號: CN102348988A
• 公開（公告）日: 2012-02-08
• 發明（設計）人: 黑田顯久
• 申請（專利權）人: 貝克曼考爾特公司
• 主分類號: G01N35/10
• 分類號: G01N35/10
• 代理公司: 上海市華誠律師事務所 31210
• 代理人: 談晨雯

1.一種分析器，能夠分析作為樣本的不同樣品，所述分析器光學地分析所述樣本和試劑的反應物，其特征在于，所述分析器包括：

分析信息獲取部，用于存儲或獲取樣本信息和樣本容器信息，所述樣本信息包括所述樣本的樣品類型和樣本吸取位置；

液面估計部，用于估計所述樣本的液面和/或界面；

分配部，用于使用分配探針來分配所述樣本；

清洗部，用于清洗所述分配探針；

計算部，用于基于通過所述分析信息獲取部存儲或獲取的所述樣品類型、所述樣本吸取位置以及所述樣本容器信息、以及通過所述液面估計部估計的所述樣本的液面和/或界面信息，計算所述分配探針的外壁面的污染附著范圍；和

清洗控制部，用于基于由所述計算部計算的所述分配探針的所述外壁面的所述污染附著范圍，控制所述分配探針的清洗范圍。

2.一種分析器，能夠分析作為樣本的不同樣品，所述分析器光學地分析所述樣本和試劑的反應物，其特征在于，所述分析器包括：

分析信息獲取部，用于存儲或獲取樣本信息，所述樣本信息包括所述樣本的樣品類型和樣本吸取位置；

液面檢測部，用于檢測所述樣本的液面和/或界面；

分配部，用于使用分配探針來分配所述樣本；

清洗部，用于清洗所述分配探針；

計算部，用于基于通過所述分析信息獲取部存儲或獲取的所述樣品類型、所述樣本吸取位置以及所述樣本容器信息、以及通過所述液面檢測部檢測的所述樣本的液面和/或界面信息，計算所述分配探針的外壁面的污染附著范圍；和

清洗控制部，用于基于由所述計算部計算的所述分配探針的所述外壁面的所述污染附著范圍，控制所述分配探針的清洗范圍。

3.如權利要求1或2所述的分析器，其特征在于，所述清洗控制部基于所述樣本的所述樣品類型，控制所述分配探針進入到所述清洗部中的下降速度。

4.如權利要求1到3中任一項所述的分析器，其特征在于，所述樣本信息包括樣品類型、樣品粘度、樣本分配量、樣本吸取位置和分析項目信息。

5.如權利要求1到4中任一項所述的分析器，其特征在于，所述清洗控制部根據所述樣本的粘度分類，控制所述分配探針的所述下降速度。

6.如權利要求1到5中任一項所述的分析器，其特征在于，所述清洗部包括：

清洗槽，所述清洗槽在其上部具有開口，所述開口允許所述分配探針被插入在其中；

噴出清洗水供給部，用于在所述清洗槽的上部區域中噴出清洗水；和

清洗水控制部，用于基于要被清洗的所述樣本的所述樣品類型，控制從所述噴出清洗水供給部中噴出的所述清洗水的量。

7.如權利要求1到5中任一項所述的分析器，其特征在于，所述清洗部包括：

貯存槽，用于允許所述清洗水溢出，所述貯存槽在其上部具有開口，用于允許所述分配探針被插入在其中；

溢流槽，用于排出從所述貯存槽中溢出的清洗水；

貯存清洗水供給部，用于將所述清洗水供給到所述貯存槽；和

清洗水控制部，用于基于要被清洗的所述樣本的所述樣品類型，控制從所述貯存清洗水供給部中供給的所述清洗水的量。

8.如權利要求7所述的分析器，其特征在于，在擠出液落下并到達貯存在所述貯存槽中的所述清洗水之前，所述清洗水控制部將至少所述貯存槽控制為處于溢出狀態，所述擠出液在所述貯存槽的上部從所述分配探針中被排出以清洗其內壁面。

9.如權利要求7或8所述的分析器，其特征在于，在所述分配探針的頂端通過所述分配探針下降到所述清洗部中而被浸泡在所述貯存槽中貯存的所述清洗水中之前，所述清洗水控制部將至少所述貯存槽控制為處于溢出狀態。

10.如權利要求7到9中任一項所述的分析器，其特征在于，所述溢流槽的開口被形成為具有傾斜面，所述傾斜面從所述貯存槽的所述開口向下傾斜。

11.如權利要求9或10所述的分析器，其特征在于，所述清洗水控制部執行控制，以便在從所述分配探針中排出的用于清洗其內壁面的所述擠出液落入并到達所述清洗水之前，允許所述貯存槽中貯存的所述清洗水溢出，以及在用于清洗所述內壁面的所述擠出液從所述分配探針中的排出結束之后，所述清洗水控制部執行控制，以便在排出的擠出液落下并到達所述清洗水之后，允許所述貯存槽中貯存的所述清洗水停止溢出。