[發(fā)明專利]磁性隧道結(jié)裝置及制造有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201080009085.X | 申請(qǐng)日: | 2010-03-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102334207A | 公開(公告)日: | 2012-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李康浩;朱曉春;李霞;升·H·康 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 高通股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L43/08 | 分類號(hào): | H01L43/08;H01L43/12;H01F10/32 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 宋獻(xiàn)濤 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁性 隧道 裝置 制造 | ||
1.一種設(shè)備,其包含:
磁性隧穿結(jié)裝置,其包含:
勢(shì)壘層;
自由層;及
封蓋層,其中所述自由層經(jīng)定位于所述勢(shì)壘層與所述封蓋層之間,且其中所述封蓋層包括第一金屬部分及氧化金屬部分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述金屬部分包括鎂,且其中所述氧化金屬部分包括氧化鎂。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中所述第一金屬部分的第一側(cè)與所述自由層接觸,且其中所述第一金屬部分的第二側(cè)與所述氧化金屬部分接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其進(jìn)一步包含經(jīng)釘扎層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其集成到至少一個(gè)半導(dǎo)體裸片中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其進(jìn)一步包含存儲(chǔ)器陣列,所述存儲(chǔ)器陣列包括所述磁性隧穿結(jié)裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)備,其進(jìn)一步包含裝置,所述裝置選自由下列各者組成的群組:機(jī)頂盒、音樂(lè)播放器、視頻播放器、娛樂(lè)單元、導(dǎo)航裝置、通信裝置、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、固定位置數(shù)據(jù)單元及計(jì)算機(jī),所述存儲(chǔ)器陣列集成在所述裝置中。
8.一種設(shè)備,其包含:
磁性隧穿結(jié)裝置,其包含:
自由層;
勢(shì)壘層,其鄰近于所述自由層;及
封蓋層,其鄰近于所述自由層,其中所述封蓋層包括第一材料的第一層,及第二材料的第二層,及緩沖層,其中所述第二材料包括所述第一材料的氧化物。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其中所述第二材料是通過(guò)氧化所述第一材料的一部分而形成。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的設(shè)備,其中所述第一材料主要為鎂,且其中所述第二材料主要為氧化鎂。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其中所述第一層定位于距所述自由層的第一距離處,且所述第二層定位于距所述自由層的第二距離處,所述第二距離大于所述第一距離。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其中所述緩沖層包括大體上非磁性金屬材料的層。
13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其中所述勢(shì)壘層鄰近于所述自由層的第一側(cè),且其中所述封蓋層鄰近于所述自由層的與所述第一側(cè)相對(duì)的第二側(cè)。
14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其集成到至少一個(gè)半導(dǎo)體裸片中。
15.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備,其進(jìn)一步包含存儲(chǔ)器陣列,所述存儲(chǔ)器陣列包括所述磁性隧穿結(jié)裝置。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的設(shè)備,其進(jìn)一步包含裝置,所述裝置選自由下列各者組成的群組:機(jī)頂盒、音樂(lè)播放器、視頻播放器、娛樂(lè)單元、導(dǎo)航裝置、通信裝置、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、固定位置數(shù)據(jù)單元及計(jì)算機(jī),所述存儲(chǔ)器陣列集成在所述裝置中。
17.一種設(shè)備,其包含:
用于存儲(chǔ)作為磁矩的定向的數(shù)據(jù)值的裝置,所述磁矩可通過(guò)超過(guò)閾值電流密度的自旋極化電流來(lái)編程;
隧穿勢(shì)壘裝置,其用于通過(guò)使傳導(dǎo)電子通過(guò)勢(shì)壘的量子力學(xué)隧穿而將所述傳導(dǎo)電子提供到所述用于存儲(chǔ)的裝置;及
封蓋裝置,其用于減小自旋泵效應(yīng),其中所述封蓋裝置包括第一金屬部分及氧化金屬部分,且其中所述用于存儲(chǔ)的裝置定位于所述隧穿勢(shì)壘裝置與所述封蓋裝置之間。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的設(shè)備,其集成到至少一個(gè)半導(dǎo)體裸片中。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的設(shè)備,其進(jìn)一步包含存儲(chǔ)器陣列,所述存儲(chǔ)器陣列包括所述用于存儲(chǔ)的裝置、所述隧穿勢(shì)壘裝置及所述封蓋裝置。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的設(shè)備,其進(jìn)一步包含裝置,所述裝置選自由下列各者組成的群組:機(jī)頂盒、音樂(lè)播放器、視頻播放器、娛樂(lè)單元、導(dǎo)航裝置、通信裝置、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、固定位置數(shù)據(jù)單元及計(jì)算機(jī),所述存儲(chǔ)器陣列集成在所述裝置中。
21.一種方法,其包含:
在磁性隧穿結(jié)結(jié)構(gòu)的自由層上沉積封蓋材料,以形成封蓋層;及
氧化所述封蓋材料的一部分以形成氧化材料層。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法,其中所述封蓋材料包括鎂。
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