[發明專利]用于探測目標物質的感測裝置

有效

• 申請號: 201080008124.4
• 申請日: 2010-02-08
• 公開（公告）號: CN102317758A
• 公開（公告）日: 2012-01-11
• 發明（設計）人: D·M·布魯斯;T·H·埃弗斯;J·J·H·B·施萊彭
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01N21/55;G01N21/77;G01N33/543
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 舒雄文;蹇煒

1.一種用于探測研究區域(113)中的目標物質(2)的感測裝置(100)，包括：

-光源(11)，生成入射光束L1，

-感測表面(112)，具有研究區域(113)和參考區域(120)，

-參考元件(121)，位于所述參考區域(120)并配置為將所述參考區域(120)從所述目標物質(2)遮蔽，使得在全內反射條件下在所述參考區域(120)反射的光保持不受到所述目標物質(2)的存在或不存在的影響，

-校準器(20)，比較所述參考區域(120)和所述研究區域(113)的輸出光L2。

-其中，所述參考元件(121)具有的折射率和尺寸使得在所述參考區域(120)引起的消逝場保持不受到所述目標物質(2)的存在或不存在的影響。

2.根據權利要求1所述的感測裝置(100)，其中，所述研究區域(113)包括用于結合所述目標物質(2)的結合物(114)。

3.根據權利要求2所述的感測裝置(100)，其中，所述感測裝置(100)被配置為分析介質(4)中的濃度小于或等于1nM的物質(2，2’)的存在。

4.根據權利要求1所述的感測裝置(100)，其中，在所述參考區域(120)的所述感測表面(112)相對于所述研究區域(113)的所述感測表面(112)傾斜，以容許所述參考區域(120)的入射光束(L1)以比所述研究區域(113)的平行入射光束的角度淺的角度入射。

5.根據權利要求1所述的感測裝置(100)，其中，所述參考區域(120)鄰近所述研究區域(113)。

6.根據權利要求1所述的感測裝置(100)，其中，所述參考區域(120)包括反射入射光的鏡子(121)。

7.根據權利要求1所述的感測裝置(100)，其中，所述感測裝置(100)為具有載體(110)的管頭(100)，所述載體(110)上包括所述感測表面(112)。

8.根據權利要求1所述的感測裝置(100)，還包括

-光源(11)，將入射光(L1)引導至所述感測表面(112)的所述研究區域(113)和所述參考區域(120)，以使得所述入射光(L1)在全內反射條件下在所述研究區域(113)和所述參考區域(120)被反射并由此生成反射光(L2)，

-探測器(18)，用于探測所述反射光(L2)，以產生取決于所述研究區域(113)的反射的第一特征信號(213)，和取決于所述參考區域(120)的反射的第二特征信號(220)，以及

-校準器(20)，用于考慮所述第二特征信號(220)來校準所述第一特征信號(213)。

9.根據權利要求8所述的感測裝置(100)，其中，所述校準器(20)被配置為考慮所述第二特征信號(220)來校正或改善所述第一特征信號(213)的漂移。

10.根據權利要求1所述的感測裝置(100)，被配置為與用于探測所述目標物質(2)的分析裝置協同操作，其中，所述分析裝置包括：

-用于容納所述感測裝置(100)的分析區域，

-光源(11)，在所述感測裝置(100)容納于所述分析區域中時，將入射光(L1)引導至所述分析區域，使得所述入射光(L1)被引導至所述感測表面(112)的所述研究區域(113)和所述參考區域(120)，并使得所述入射光(L1)在全內反射條件下在所述研究區域(113)和所述參考區域(120)被反射，由此生成反射光(L2)，

-探測器(18)，用于探測所述反射光(L2)，以產生取決于所述研究區域(113)的反射的第一特征信號(213)，和取決于所述參考區域(120)的反射的第二特征信號(220)，以及

-校準器(20)，用于考慮所述第二特征信號(220)來校準所述第一特征信號(213)。