[發明專利]校正透鏡驅動用音圈電機、手抖動校正裝置、交換透鏡及光學設備

無效

• 申請號: 201080005368.7
• 申請日: 2010-01-22
• 公開（公告）號: CN102292673A
• 公開（公告）日: 2011-12-21
• 發明（設計）人: 本池隆志;大荒啟行;栗山義彥
• 申請（專利權）人: 株式會社圖麗
• 主分類號: G03B5/00
• 分類號: G03B5/00;H02K33/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 雒運樸

1.一種校正透鏡驅動用音圈電機，其具備：具有形成磁隙的一對軛體及至少一個永磁體的磁體單元、和配置于所述磁隙內的線圈，通過對所述線圈通電使所述磁體單元和所述線圈直線性相對移動，驅動校正透鏡，其特征在于，

所述永磁體在磁隙相面對面沿移動方向鄰接不同的磁極，

所述永磁體的移動方向寬度為所述磁極的寬度Wm的2倍，

所述線圈的移動方向寬度Wa比所述永磁體的寬度2Wm窄，

所述線圈的有效導體寬度Wb、所述永磁體的磁極寬度Wm及所述校正透鏡的最長移動距離St滿足Wm＝(Wb+St)×K的條件，其中K為滿足1＜K≤1.5的常數。

2.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述磁體單元由一對軛體和粘固于一軛體的磁隙相面對面的一個永磁體構成，所述永磁體隔著所述磁隙與另一軛體相面對。

3.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述磁體單元由一對軛體、和粘固于各軛體的磁隙相面對面的一對永磁體構成，所述一對永磁體的相面對面具有不同的磁極。

4.如權利要求3所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述磁隙內的磁通密度分布的峰值為0.5T以上。

5.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述永磁體為一體。

6.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

在所述一對軛體上分別粘固有永磁體，所述永磁體分別由沿移動方向鄰接的一對的在厚度方向磁化的塊狀永磁體構成，所述塊狀永磁體以在所述移動方向并排的磁極不同、并且相面對的磁極也不同的方式配置。

7.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

在所述軛體的一方粘固有永磁體，所述永磁體由沿移動方向鄰接的一對在厚度方向磁化的塊狀永磁體構成，所述塊狀永磁體以在所述移動方向并排的磁極不同的方式配置。

8.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述永磁體為具有1.3T以上的殘留磁通密度的稀土類燒結磁體。

9.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述常數K在1.1～1.5的范圍。

10.如權利要求1所述的校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述磁體單元固定，所述線圈移動。

11.一種手抖動校正裝置，其設于具有拍攝透鏡的鏡筒內，具備校正透鏡、支撐于與光軸正交的面內的校正透鏡支撐框體、權利要求1所述的一對校正透鏡驅動用音圈電機，其特征在于，

所述一對音圈電機內的構成所述磁體單元的一對軛體以兩線圈向彼此正交的方向移動的方式在所述鏡筒內被固定，

所述一對線圈被固定于所述校正透鏡支撐框體，

所述一對線圈通過通電而在所述磁隙內直線性移動，支撐于所述校正透鏡支撐框體的所述校正透鏡在與所述光軸正交的面內被驅動。

12.一種交換透鏡，其特征在于，

具備權利要求11所述的手抖動校正裝置、振動檢測部、基于所述振動檢測部輸出的振動信號控制所述校正透鏡驅動用音圈電機的驅動的手抖動校正控制裝置。

13.一種光學設備，其特征在于，

具備權利要求11所述的手抖動校正裝置、振動檢測部、基于所述振動檢測部輸出的振動信號控制所述校正透鏡驅動用音圈電機的驅動的手抖動校正控制裝置。