[發明專利]用于在存儲介質上確定缺陷位置的方法和裝置

有效

• 申請號: 201080004501.7
• 申請日: 2010-01-08
• 公開（公告）號: CN102282616A
• 公開（公告）日: 2011-12-14
• 發明（設計）人: M·奧伯格
• 申請（專利權）人: 馬維爾國際貿易有限公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18;G11B7/09
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 酆迅;李崢宇

1.一種方法，包括：

在盤驅動器的存儲介質上檢測缺陷；

在所述存儲介質上存儲的數據的最小可尋址單元內，確定所述缺陷的位置；

在存儲器中存儲所述位置的指示；

監視所述盤驅動器的傳感器相對于所述存儲介質上存儲的所述數據的位置；以及

基于所述傳感器相對于所述存儲介質上存儲的所述數據的所述位置和存儲的所述缺陷的位置的指示，改變所述盤驅動器的缺陷檢測器、所述盤驅動器的讀通道控制器和所述盤驅動器的伺服器控制器中至少一個的響應。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存儲介質的第一軌道上，其中所述方法還包括：基于存儲的所述缺陷位置的指示，預測所述存儲介質的第二軌道上的所述缺陷的第二位置，并且其中改變所述缺陷檢測器、所述讀通道控制器和所述伺服器控制器中所述至少一個的所述響應包括：當所述傳感器在所述第二軌道上的所述第二位置處時改變所述響應。

3.根據權利要求1所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存儲介質的第一軌道上，并且其中所述方法還包括：

在所述存儲介質的第二軌道上確定所述缺陷的第二位置；以及

基于存儲的所述缺陷位置的指示和所述第二位置，在所述存儲介質的第三軌道上預測所述缺陷的第三位置。

4.根據權利要求1所述的方法，其中改變所述讀通道控制器對所述缺陷的響應包括：增加應用于所讀取信號的增益。

5.根據權利要求4所述的方法，其中增加所述增益包括：響應于確定所述存儲介質上所述缺陷的位置處存儲的數據的幅度高于閾值，增加所述增益。

6.一種裝置，包括：

計數器，被配置用于生成與盤驅動器的存儲介質上的不同位置相關聯的計數；

缺陷檢測器，被配置用于在所述存儲介質上檢測缺陷；以及

缺陷邊界控制器，被配置用于：

確定對應于缺陷的位置的所述計數器的計數；以及

基于所述計數和所述計數器，改變所述缺陷檢測器、所述盤驅動器的讀通道控制器以及所述盤驅動器的伺服器控制器中至少一個的響應。

7.根據權利要求6所述的裝置，還包括：計數器重置模塊，被配置用于在一個或多個計數器重置位置處重置所述計數器；

其中所述缺陷邊界控制器被配置用于：

確定對應于所述缺陷的特定計數器重置位置；以及

進一步基于對應于所述缺陷的所述計數器重置位置，改變所述缺陷檢測器、所述讀通道控制器以及所述伺服器控制器中至少一個的響應。

8.根據權利要求7所述的裝置，其中所述計數指示對應于所述缺陷的所述計數器重置位置和所述缺陷位置之間的、所述存儲介質的通道時鐘的周期數量。

9.根據權利要求7所述的裝置，其中所述缺陷邊界控制器被配置用于在所述計數器重置位置處對所述計數器重置之后，當所述計數器達到對應于所述缺陷位置的調整計數時，使得所述讀通道控制器進入缺陷模式。

10.根據權利要求7所述的裝置，其中所述缺陷邊界控制器被配置用于在所述計數器重置位置處對所述計數器重置之后，當所述計數器指示接近所述缺陷時，改變所述缺陷檢測器的缺陷檢測靈敏度。

11.根據權利要求7所述的裝置，其中所述缺陷的位置在所述存儲介質的第一軌道上，并且其中所述缺陷邊界控制器被配置用于：

基于所述缺陷的位置來計算補償值；以及

將所述補償值與對應于所述缺陷位置的計數相加，以在所述存儲介質的第二軌道上預測所述缺陷的第二位置。

12.一種方法，包括：

運行計數器，其中所述計數器的計數與盤驅動器的存儲介質上的不同位置相關聯；

使用缺陷檢測器在所述存儲介質上檢測缺陷；

確定對應于所述缺陷的位置的所述計數器的計數；以及

基于所述計數和所述計數器，改變所述缺陷檢測器、所述盤驅動器的讀通道控制器以及所述盤驅動器的伺服器控制器中至少一個的響應。