[發明專利]熒光壽命測量設備、熒光壽命測量方法和程序

無效

• 申請號: 201080004129.X
• 申請日: 2010-01-07
• 公開（公告）號: CN102272583A
• 公開（公告）日: 2011-12-07
• 發明（設計）人: 中尾勇;玉村好司
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 郭定輝

1.一種熒光壽命測量設備，包括：

移動裝置，用于移動在其上放置了要測量的熒光材料的平臺；

照射裝置，用于以激勵光照射由所述移動裝置以恒定速度移動的、在平臺上放置的熒光材料；

成像裝置，用于對由激勵光引起的發射的熒光的余光成像；以及

熒光壽命計算裝置，用于使用由所述成像單元成像的圖像以檢測在目標余光位置的從熒光位置開始的經歷時間以及余光強度，并且計算熒光壽命。

2.根據權利要求1所述的熒光壽命測量設備，

其中，所述熒光壽命計算裝置當示出余光強度隨時間變化的線是非線性時，對于那些線上具有不同梯度的線性部分和彎曲部分中的每一個分別計算熒光壽命。

3.根據權利要求2所述的熒光壽命測量設備，

進一步包括調整裝置，用于調整所述移動裝置的移動速度或者所述成像裝置的視角，以使得成像的余光在尾部位置的強度與在頭部位置的強度之比值落入特定范圍內，

其中，所述熒光壽命計算裝置根據由所述調整裝置進行調整之后的圖像計算熒光壽命。

4.根據權利要求3所述的熒光壽命測量設備，其中，所述移動裝置旋轉地移動在其上放置了要測量的熒光材料的平臺。

5.一種熒光壽命測量方法，包括：

移動控制步驟，移動在其上放置了要測量的熒光材料的平臺；

照射步驟，以對激勵光照射通過所述移動控制步驟的控制以恒定速度移動的、在平臺上放置的熒光材料；

成像步驟，對由激勵光引起的發射的熒光的余光成像；以及

熒光壽命計算步驟，使用在所述成像步驟中成像的圖像，檢測在目標余光位置的從熒光位置開始的經歷時間以及余光強度，并且計算熒光壽命。

6.一種程序，用于使得：

移動控制裝置移動在其上放置了要測量的熒光材料的平臺；

照射裝置以激勵光照射由所述移動控制裝置以恒定速度移動的、在平臺上放置的熒光材料；

成像裝置對由激勵光引起的發射的熒光的余光成像；以及

計算單元使用由所述成像裝置成像的圖像以檢測在目標余光位置的從熒光位置開始的經歷時間以及余光強度，并且計算熒光壽命。