[實用新型]用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構

有效

• 申請號: 201020683843.3
• 申請日: 2010-12-28
• 公開（公告）號: CN201909614U
• 公開（公告）日: 2011-07-27
• 發明（設計）人: 潘先進;殷伯銀
• 申請（專利權）人: 蘇州弗士達科學儀器有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 尉偉敏

1.一種用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，包括工作平臺(1)，其特征在于：在所述工作平臺(1)上設有定位盤(2)，所述定位盤(2)通過推力調心軸承(62)和圓錐滾子軸承(61)旋轉支撐有過渡軸，所述過渡軸的下端延伸至工作平臺(1)下并通過連軸器(7)與垂直驅動轉軸(4)相連，所述過渡軸的上端與水平固定盤(5)固定相連。

2.根據權利要求1所述的用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特征在于：所述定位盤(2)包括環形底盤(21)及延伸設在環形底盤(21)上的罩環(22)，所述罩環(22)朝向水平固定盤(5)，所述過渡軸插接在定位盤(2)的中孔內，所述圓錐滾子軸承(61)嵌裝在環形底盤(21)中孔與過渡軸之間，所述推力調心軸承(62)嵌裝在罩環(22)中孔與過渡軸之間。

3.根據權利要求2所述的用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特征在于：所述過渡軸包括下過渡軸(31)及同軸固定在下過渡軸(31)上的上過渡軸(32)，所述圓錐滾子軸承(61)嵌裝在環形底盤(21)中孔與下過渡軸(31)之間，所述推力調心軸承(62)嵌裝在罩環(22)中孔與上過渡軸(32)之間。

4.根據權利要求1或2或3所述的用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特征在于：在所述過渡軸、垂直驅動轉軸(4)、連軸器(7)及水平固定盤(5)的中部同軸設有軸孔(8)。

5.根據權利要求1或2或3所述的用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特征在于：在所述定位盤(2)的底部設有環形底座(9)，所述定位盤(2)通過環形底座(9)固定在工作平臺(1)上。

6.根據權利要求4所述的用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特征在于：在所述定位盤(2)的底部設有環形底座(9)，所述定位盤(2)通過環形底座(9)固定在工作平臺(1)上。

7.根據權利要求1或2或3所述的用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特征在于：所述水平固定盤(5)呈圓盤形，在所述水平固定盤(5)上設有若干個定位孔(51)，且所述定位孔(51)沿水平固定盤(5)的中心軸在圓周方向均布。

8.根據權利要求6所述的用于自動光學測量儀的旋轉平臺結構，其特征在于：所述水平固定盤(5)呈圓盤形，在所述水平固定盤(5)上設有若干個定位孔(51)，且所述定位孔(51)沿水平固定盤(5)的中心軸在圓周方向均布。