[實用新型]組合式光尋址電位傳感器測試平臺無效
| 申請號: | 201020665767.3 | 申請日: | 2010-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN201993334U | 公開(公告)日: | 2011-09-28 |
| 發明(設計)人: | 賈蕓芳;郭子喻;張德賢;陳喬杉;陳新娟 | 申請(專利權)人: | 南開大學 |
| 主分類號: | G01N27/30 | 分類號: | G01N27/30;G01N27/416 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 300071*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 組合式 尋址 電位 傳感器 測試 平臺 | ||
一、所屬技術領域
本實用新型涉及一種光尋址電位傳感器檢測裝置的封裝設計,屬于檢測裝置封裝設計領域。
二、背景技術
光尋址電位傳感器(Light?addressable?potentiometric?sensors,LAPS)[1]是一種基于半導體光電效應的敏感器件,主要應用于液態環境中化學量或生物量的檢測,與參比電極和對電極構成電化學檢測體系。這種傳感器是由若干個基于半導體光電效應的敏感單元構成的陣列,當滿足要求的激發光源照射在指定敏感單元時,在對電極和傳感器之間就會檢測到電流或電壓信號,未被照射的敏感單元不產生電信號。利用這種光照與輸出電信號之間的一一對應關系,使得LAPS可實現生物化學領域中多種物質的同時測量,是目前生化量傳感器的研究熱點之一。
光尋址電位傳感器測試平臺是指,將傳感器芯片、尋址光源陣列及其控制電路、電化學電極體系集成于一個測試裝置之中,為光尋址電位傳感器在生物或化學領域中的應用提供一個平臺。其中,LAPS芯片具有陣列結構,陣列中每一個單元就是一個可尋址的敏感點,例如基于LAPS的pH值圖像傳感器[2]、多離子濃度檢測與呈像[2,3]等;光源是傳感器具有可尋址功能的重要部分之一,目前主要有陣列式[4]和掃描式[2]兩種尋址方式,本實用新型提出的設計方案針對于陣列式光源系統;電化學電極體系是實現生化量檢測的條件,因此測試裝置中必須構建出液態測試環境,并將參比電極、工作電極、對電極組成三電極或二電極電化學測試體系。
LAPS的器件封裝和系統封裝,是傳感器檢測裝置中的重要問題。自該類型傳感器提出至今,先后有筆試[4]、塑料卡片[5]式兩大類封裝設計被提出。其中,筆試封裝將光源及其控制電路、LAPS芯片全部密封于筆式塑料腔體內,并將LAPS敏感單元暴露于被測環境中,使用時將筆式LAPS浸入被測液中,并配合參比電極、對電極,構成三電極檢測體系。該方法在器件封裝過程中未考慮儲液問題,工藝操作簡單;但更換LAPS芯片時,需要將筆式腔體拆開,將新的LAPS芯片與光源及其控制電路部分重新組裝。特別是,當LAPS中敏感單元的陣列結構發生變化時,整個測量裝置必須全部更換。可見,筆試封裝設計方案的靈活性較差。塑料卡片式LAPS,屬于器件級封裝,封裝后的LAPS必須與上端儲液容器緊密連接,在文獻[5]中采用了壓合的方式,因此對測試裝置的密封性要求很高,此外光源陣列與傳感器芯片中敏感陣列的匹配問題也是其重要問題。
通過對現有文獻報道的綜合分析,LAPS測試裝置的設計必須解決三方面的技術問題:
1)構建電化學液態測試體系。LAPS是一種半導體敏感器件,因此構建液態測試環境,同時又滿足器件的防潮要求,一直是實現此類器件商品化的關鍵問題。筆試封裝采用了將LAPS芯片、光源陣列及其控制電路整體封裝后密封,然后插入被測溶液的方法構建LAPS系統中液態測試體系。塑料卡片式封裝則將LAPS芯片獨立密封,然后與無底儲液裝置壓合,在芯片上部構建電化學測試體系。
2)光源陣列與傳感器芯片中敏感單元的匹配和對準問題。筆試封裝中,光源陣列與LAPS芯片密封于筆試腔體中,一旦封裝完畢后可以保證光源與敏感單元的對準。卡片式封裝設計屬于器件級封裝,并未設計光源部分。
3)測試裝置的靈活性問題。由于LAPS中敏感單陣列的幾何結構具有很大的靈活性,這要求光源陣列的設計也必須與之匹配。如果測試裝置的設計不具有靈活性,那么當LAPS芯片陣列發生變化時,必須需要對整個測試裝置進行重新設計和制作。比如說,筆試LAPS測試體系的封裝,雖然將光源和LAPS芯片整體密封后,使用起來比較方便小巧,幾乎不受被測環境的影響,但是一旦LAPS芯片中敏感陣列設計發生變化,只能重新設計和制作整個封裝結構,從這個角度看,筆試封裝的靈活性不能令人滿意。卡片式LAPS封裝設計也存在類似問題,當LAPS芯片敏感陣列的結構發生變化時,配合這種設計方案的上端儲液裝置也必須重新制作,因此卡片式LAPS的測試裝置靈活性也不能令人滿意。
三、發明內容
為解決LAPS測試體系中面臨的問題,本實用新型提供一種“組合式光尋址電位傳感器測試平臺”,該測試平臺不僅為LAPS構建了液態電化學測試體系、滿足光源陣列與LAPS敏感單元陣列的匹配和對準問題,而且當LAPS芯片的敏感單元陣列結構發生變化時,也無須更改測試平臺整體結構,與現有筆式和卡片式LAPS測試體系相比具有更好的靈活性。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南開大學,未經南開大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201020665767.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種元素分析儀的送樣機構
- 下一篇:一種干濕球法測量污染源排氣濕度的裝置





