[實用新型]基于金金鍵合工藝的熱式風(fēng)速風(fēng)向傳感器無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201020658349.1 | 申請日: | 2010-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN202102009U | 公開(公告)日: | 2012-01-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 董自強;黃慶安;秦明 | 申請(專利權(quán))人: | 東南大學(xué) |
| 主分類號: | G01P13/02 | 分類號: | G01P13/02;G01P5/10;B81C1/00 |
| 代理公司: | 南京天翼專利代理有限責(zé)任公司 32112 | 代理人: | 湯志武 |
| 地址: | 210096*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 金金鍵合 工藝 風(fēng)速 風(fēng)向 傳感器 | ||
1.基于金金鍵合工藝的熱式風(fēng)速風(fēng)向傳感器,包括陶瓷芯片(1)和減薄硅芯片(28),減薄硅芯片(28)位于陶瓷芯片(1)的下方,在減薄硅芯片(28)的上表面四邊對稱分布設(shè)有4個熱傳感測溫元件(19),每個熱傳感測溫元件上熱連接有2個下熱連接焊盤(23)且每個熱傳感測溫元件電連接有2個下電連接焊盤(22),在下熱連接焊盤(23)上設(shè)置有下熱連接金凸點(24),在下電連接焊盤(22)上設(shè)置有下電連接金凸點(25),在陶瓷芯片(1)的下表面上設(shè)有與每個下熱連接焊盤相對應(yīng)的上熱連接金凸點(12)和上熱連接焊盤(6)以及每個下電連接焊盤相對應(yīng)的上電連接金凸點(11)和上電連接焊盤(5),其特征在于在減薄硅芯片(28)上表面位于4個熱傳感測溫元件中間位置設(shè)有空腔一(26),在4個熱傳感測溫元件(19)四周位置與陶瓷芯片(1)上電引出金凸點(10)相對應(yīng)區(qū)域設(shè)置有空腔二(27),空腔一(26)和空腔二(27)的深度為30微米至50微米,空腔一(26)用于加熱元件(7)與減薄硅芯片(28)之間的熱隔離,空腔二(27)用于最后圓片級釋放時,陶瓷芯片(1)上電引出金凸點(10)的露出,加熱元件(7)設(shè)在陶瓷芯片(1)的下表面上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于金金鍵合工藝的熱式風(fēng)速風(fēng)向傳感器,其特征在于用于熱隔離的空腔一(26)位于加熱元件(7)的正下方,并通過圓片級釋放工藝,加熱元件(7)最終實現(xiàn)露出,與硅襯底之間實現(xiàn)完全隔離。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于金金鍵合工藝的熱式風(fēng)速風(fēng)向傳感器,其特征在于在陶瓷芯片(1)的下表面上設(shè)有電引出金凸點(10),電引出金凸點下方設(shè)置有電引出焊盤(4),電引出金凸點(10)在減薄硅芯片(28)上的投影與減薄硅芯片(28)上空腔二(27)的位置相對應(yīng),并通過濕法腐蝕釋放最終使得電引出金凸點(10)露出。?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東南大學(xué),未經(jīng)東南大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201020658349.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:高精度分流器
- 下一篇:全自動化學(xué)發(fā)光測試裝置
- 風(fēng)電場短時風(fēng)速預(yù)測方法及系統(tǒng)
- 用于風(fēng)速傳感器的啟動風(fēng)速檢測裝置
- 一種基于比例分布的風(fēng)速預(yù)測校正方法
- 一種風(fēng)速采集裝置及其機艙傳遞函數(shù)的標(biāo)定方法
- 二維風(fēng)速風(fēng)向傳感器及系統(tǒng)
- 一種極值風(fēng)速的預(yù)測方法及其系統(tǒng)
- 一種風(fēng)速分布測試方法和系統(tǒng)
- 風(fēng)速預(yù)測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)
- 在建工地風(fēng)環(huán)境模擬預(yù)測方法
- 一種蝦殼去除裝置風(fēng)機風(fēng)速分配結(jié)構(gòu)





