[實用新型]高溫點燈測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201020646802.7 | 申請日: | 2010-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN201935994U | 公開(公告)日: | 2011-08-17 |
| 發(fā)明(設計)人: | 董新立;李蒔永;劉長青 | 申請(專利權)人: | 昆山琉明光電有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/44 | 分類號: | G01R31/44;G01R31/02 |
| 代理公司: | 蘇州創(chuàng)元專利商標事務所有限公司 32103 | 代理人: | 孫仿衛(wèi) |
| 地址: | 215333 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 高溫 點燈 測試 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及LED制造領域,特別是涉及一種高溫點燈測試裝置。
背景技術
LED(Light?Emitting?Diode,發(fā)光二極管)是一種半導體固體發(fā)光器件,其原理是利用固體半導體芯片作為發(fā)光材料,當芯片兩端通入正向電壓,半導體中的載流子發(fā)生復合引起光子發(fā)射而產(chǎn)生光。由于LED工作電壓低、耗能小、發(fā)光效率高、低熱量、使用壽命長、環(huán)保等特點,被廣泛用于照明、顯示燈等技術領域。
LED是通過電子復合而發(fā)光,當在小電流的情況下,產(chǎn)生熱量很小,但在大功率的LED中,特別是在顯示領域的應用,需要較大的電流,會產(chǎn)生大量的熱量,使工作溫度升高。而影響LED的壽命的主要因素就是溫度,有瑕疵的LED產(chǎn)品在較高的溫度下會表現(xiàn)出缺亮現(xiàn)象,所以要保證LED產(chǎn)品的焊接導通的良好性。
LED制作用到五大原材料,包括引腳框架(LeadFrame)、芯片(Chip)、銀膠、金線和環(huán)氧樹脂。而在制作過程(芯片焊接、連線焊接)中,某些環(huán)節(jié)會有如固晶偏移、焊線偏移、空焊虛焊等制程不良,目前這些不良主要通過高倍顯微鏡進行檢測、人員標記或挑除等工具剔除不良,這些人為作業(yè)會因人員能力參差不齊而有漏失現(xiàn)象發(fā)生,影響產(chǎn)品的質量。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型提供一種高溫點燈測試裝置。
為達到上述目的,本實用新型采用的技術方案是:
一種高溫點燈測試裝置,該裝置包括依次設置的裝載單元、加熱單元、標記單元以及卸載單元,所述的加熱單元包括高溫加熱器、感應器以及控制器,所述的控制器與標記單元相信號連接。
優(yōu)選地,所述的加熱單元還設置有至少1個預加熱器。
進一步優(yōu)選地,所述的預加熱器設置有2個。
導入“高溫點燈測試裝置”后,通過對LED進行高溫加熱,使其膠體受熱膨脹產(chǎn)生應力作用,通過感應器和標記單元將焊線不良等有瑕疵的LED篩選出來,避免人員操作檢驗不良漏失流出。
由于上述技術方案運用,本實用新型與現(xiàn)有技術相比具有下列優(yōu)點:本實用新型可有效的將焊接不良的LED篩選出來,避免了因人為失誤而造成的漏檢,確保了產(chǎn)品的質量;同時也提高了生產(chǎn)效率,降低了生產(chǎn)成本。
附圖說明
附圖1為本實用新型的結構示意圖。
其中:1、裝載單元;2、加熱單元;3、標記單元;4、卸載單元;5、高溫加熱器;6、第一預加熱器;7、第二預加熱器;8、感應器;9、控制器。
具體實施方式
下面結合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述:
如圖1所示的一種高溫點燈測試裝置,該裝置包括依次設置的用于裝載帶測試LED的裝載單元1、用于對LED進行高溫測試的加熱單元2、用于對不良LED進行標記的標記單元3以及用于對輸入測試完畢LED的卸載單元4。其中:加熱單元2包括第一預加熱器6、第二預加熱器7、高溫加熱器5、對加熱后不良品進行感應的感應器8以及控制器9,在本實施例中的第一預加熱器6加熱溫度在95~105℃、第二預加熱器7的加熱溫度在145~155℃、高溫加熱器5的加熱溫度在175~185℃,三個加熱器依次設置。控制器9與標記單元3相信號連接。
以下具體闡述下本實施例的操作方法:
LED從裝載單元1排布后進入加熱單元2;首先,使其在第一預加熱器6下進行一次預熱;隨后,在第二預加熱器7下進行二次預熱;最后,在高溫加熱器5下正常進行工作10秒后,通過感應器8進行感應,感應器8將感應結果傳送給控制器9;完成測試的LED進入標記單元3,標記單元3通過控制器9的信號,對不良位置的LED進行標記;最后LED通過卸載單元4輸出,而出現(xiàn)問題的LED通過標記,即可進行相關處理。
對比常溫測試,對384片LED進行常溫測試,在常溫下LED正常進行工作10秒后,出現(xiàn)4片不良;對384片LED進行高溫測試,在高溫下正常進行工作10秒后,除常溫的4片外,還有出現(xiàn)12片不良。相對常溫的測試,高溫測試的篩選效果更好,可靠性更高。
上述實施例只為說明本實用新型的技術構思及特點,其目的在于讓熟悉此項技術的人士能夠了解本實用新型的內(nèi)容并據(jù)以實施,并不能以此限制本實用新型的保護范圍。凡根據(jù)本實用新型精神實質所作的等效變化或修飾,都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
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