[實用新型]測試頭結構及測試頭

有效

• 申請號: 201020645563.3
• 申請日: 2010-12-07
• 公開（公告）號: CN201867428U
• 公開（公告）日: 2011-06-15
• 發明（設計）人: 魯常垚;馬貝;曾艷軍;邵慶云;吳耀華;彭朝陽
• 申請（專利權）人: 深圳順絡電子股份有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R1/04
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

技術領域

本實用新型涉及元器件電性能測試設備，特別是涉及一種測試頭結構和測試頭。

背景技術

電性能是電子元器件的質量核心，隨著自動化設備的大力推廣，高速、準確和簡便的元器件電性能測試方式尤顯重要。目前，片式元件測試設備通常使用結構較為復雜的刀式測試設備，在產線實際的使用過程中由于測試頭易磨損，因此測試頭必須定期更換，維修和維護頻次非常高。

實用新型內容

本實用新型的目的是為克服傳統的元器件測試結構復雜不便于維護的缺點，提供一種簡易方便且不易磨損的測試頭結構及其所采用的測試頭。

為實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案：

一種測試頭結構，包括導電的第一測試頭和與所述第一測試頭相對設置的導電的第二測試頭，所述第一測試頭包括板狀基部和從所述板狀基部上延伸出來的細長臂，所述細長臂的延伸方向與所述板狀基部設定的觸壓方向形成銳角。

優選地：

所述板狀基部與所述細長臂鄰接的部分形成弧形缺口，所述細長臂從所述弧形缺口的端部開始延伸。

所述細長臂的末端具有與所述設定的觸壓方向相垂直的平坦面。

所述細長臂的末端改向延伸從而形成與所述設定的觸壓方向相垂直的接觸端頭，所述接觸端頭的遠離所述板狀基部的一面形成所述平坦面。

所述板狀基部為方形，所述設定的觸壓方向為所述板狀基部的縱向或橫向。

還包括固定架機構，所述固定架機構包括絕緣支座和安裝在所述絕緣支座上的導電端子，所述第一測試頭固定在所述絕緣支座上并與所述導電端子電連接，所述導電端子提供用于外接測試儀器的接頭。

所述第二測試頭為外圍套設有絕緣套的導電柱體。

所述第一測試頭和/或所述第二測試頭的導體為表面鍍金的鈹銅。

一種測試頭，包括導電的板狀基部和從所述板狀基部上延伸出來的細長臂，所述細長臂的延伸方向與所述板狀基部設定的觸壓方向形成銳角。

優選地，所述板狀基部與所述細長臂鄰接的部分形成弧形缺口，所述細長臂從所述弧形缺口的端部開始延伸。

本實用新型有益的技術效果是：

根據本實用新型的測試頭結構，第一測試頭包括板狀基部和從板狀基部上延伸出來的細長臂，細長臂的延伸方向與板狀基部設定的觸壓方向形成銳角，一方面，這種結構設計保證了測試端頭的小尺寸，從而第一測試頭能與尺寸很小的被測產品電接觸，另一方面，第一測試頭的細長臂既能夠安置成與被測元器件緊密觸壓，也能在本身作為剛性導體材質的情形下具備一定的彈性，使其可被輕微抬起變形而不易與被測產品產生磨損，整個測試過程中，第一測試頭可在開始接觸時、接觸中、離開后各時段與被測試產品表面形成一定的角度，并保持不變，從而達到在測試時測試頭與產品接觸良好、測試結果穩定的效果。本實用新型解決了以往實際操作中測試頭易磨損而需要頻繁更換的問題，降低了維護成本，同時其結構簡單，使用方便，能進行快速便捷測試，大大提高了測試效率，很好地滿足了產品自動化批量生產的需求。本實用新型的測試頭結構可檢測的對象包括但不限于片式元件。

附圖說明

圖1為本實用新型一個實施例的第一測試頭的結構示意圖；

圖2為本實用新型一個實施例的第一測試頭安裝于固定支架的結構示意圖；

圖3為本實用新型一個實施例的測試頭結構的總體結構示意圖。

具體實施方式

以下通過實施例結合附圖對本實用新型進行進一步的詳細說明。

請參閱圖1，在一個實施例中，測試頭結構包括導電的第一測試頭2和與第一測試頭2相對設置的導電的第二測試頭，第一測試頭2包括板狀基部201和從板狀基部201上延伸出來的細長臂202，細長臂202的延伸方向與板狀基部201設定的觸壓方向A形成銳角。板狀基部201設定的觸壓方向可例如是優選整體成方形的板狀基部201的縱向或橫向，如圖1所示為方形板狀基部201的縱向。

在優選的實施例中，板狀基部201與細長臂202鄰接的部分形成弧形缺口203，細長臂202從弧形缺口203的端部開始延伸。弧形缺口的設計有助于改善第一測試頭2的強度和細長臂202的彈性。

在優選的實施例中，細長臂202的末端具有與設定的觸壓方向相垂直的平坦面205。平坦面的設計有利于細長臂與被測產品良好地接觸。

更優選地，細長臂202的末端改向延伸從而形成與設定的觸壓方向A相垂直的接觸端頭204，接觸端頭204的遠離板狀基部201的一面形成平坦面205。