[實用新型]光學量測系統結構有效
| 申請號: | 201020621570.X | 申請日: | 2010-11-19 |
| 公開(公告)號: | CN201852695U | 公開(公告)日: | 2011-06-01 |
| 發明(設計)人: | 翁義龍;張添登;黃盟仁 | 申請(專利權)人: | 致茂電子(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁揮;張燕華 |
| 地址: | 215011 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 系統 結構 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種量測系統結構,尤其涉及一種可保持第一濾鏡轉盤與第二濾鏡轉盤間的水平度的光學量測系統結構。
背景技術
發光二極管(Light?Emitting?Diode;LED)是近代社會中非常重要的一種照明元件,而在生產LED的過程中,制造商通常會對LED做量測,以確定所生產的LED是否正常運作。
而一般制造商所使用的量測系統包括了感光元件、取像鏡頭以及設置于感光元件與取像鏡頭之間的濾鏡,在量測時即可拍攝LED的發光圖像,以確定受量測的LED發光效果是否正常,然而,此一量測系統結構具有多個缺點。
首先,由于現有的量測系統的濾鏡是設置于感光元件與取像鏡頭之間,因此要更換或是清潔濾鏡時,使用者必須先拆解量測系統的外殼以及取像鏡頭后,才能夠拆卸濾鏡,這樣的步驟對于使用者而言是相當繁瑣且困擾的。
其次,由于取像鏡頭通常會針對感光元件以及量測系統的光軸進行最佳化,以使感光元件能夠擷取最佳的圖像質量,然而設置不同的濾鏡于感光元件與取像鏡頭之間會因此改變光的行進路線,進而影響到感光元件所擷取的圖像的質量,而對于較細微的量測動作而言,稍微的圖像質量改變都有可能造成量測結果的誤判,而使得量測動作失真。
除此之外,現有也有利用兩個濾鏡轉盤分別卡固彩色濾鏡與減光濾鏡的量測系統,每一濾鏡轉盤皆分別穿設于軸心,然而當量測系統在使用時,濾鏡轉盤常會與軸心間產生歪斜,而濾鏡轉盤間的水平度則因每一濾鏡轉盤與軸心間的歪斜量的累積而大幅下降,進而造成量測結果的誤判,并使量測動作失真。
實用新型內容
本實用新型所欲解決的技術問題與目的:
緣此,本實用新型的主要目的在于提供一種具有第一濾鏡轉盤與第二濾鏡轉盤的光學量測系統結構,且濾鏡轉盤與減光濾鏡轉盤設置于不會影響感光元件與取像鏡頭的最佳化的位置,除此之外,第一濾鏡轉盤穿設于支撐軸,而第二濾鏡轉盤穿設于第一濾鏡轉盤上,以提高第一濾鏡轉盤與第二濾鏡轉盤的平行度。
本實用新型解決問題的技術手段:
一種光學量測系統結構,具有一系統光軸,包含:
一支撐軸;
一感光元件,設置于該系統光軸路徑上;
一取像鏡頭,沿該系統光軸設置于該感光元件的前方;
一第一濾鏡轉盤,設置于該取像鏡頭的前方,并包含:第一盤體、穿設管、至少一第一軸承與多個第一濾鏡,該第一盤體具有多個第一濾鏡孔;該穿設管自該第一盤體朝前方凸伸出,并具有一第一穿設孔,用以供該第一濾鏡轉盤穿設于該支撐軸;所述至少一第一軸承設置于該第一穿設孔,以固定該支撐軸,并供該第一盤體轉動地使該多個第一濾鏡孔中的任意一個定位于該系統光軸之上;該多個第一濾鏡嵌設于該多個第一濾鏡孔;以及
一第二濾鏡轉盤,設置于該第一濾鏡轉盤的前方,并包含:第二盤體、第二穿設孔、至少一第二軸承與多個第二濾鏡,該第二盤體具有多個第二濾鏡孔;該第二穿設孔用以供該第二濾鏡轉盤穿設于該穿設管;所述至少一第二軸承設置于該第二穿設孔,以固定該穿設管,并供該第二盤體轉動地使該多個第二濾鏡孔中的任意一個定位于該系統光軸之上;該多個第二濾鏡嵌設于該多個第二濾鏡孔。
上述的光學量測系統結構,其中,該多個第一濾鏡為多個彩色濾鏡,該多個第二濾鏡為多個減光濾鏡。
上述的光學量測系統結構,其中,還包含兩個微步進馬達,該兩個微步進馬達分別通過一皮帶以驅動該第一濾鏡轉盤與該第二濾鏡轉盤。
上述的光學量測系統結構,其中,還包含一光遮斷器,該光遮斷器設置于鄰近該第一盤體的邊緣處,且該第一盤體的邊緣還凸設有于遮蔽該光遮斷器時作為一轉盤歸零點的一定位突點。
上述的光學量測系統結構,其中,還包含一光遮斷器,該光遮斷器設置于鄰近該第二盤體的邊緣處,且該第二盤體的邊緣還凸設有于遮蔽該光遮斷器時作為一轉盤歸零點的一定位突點。
上述的光學量測系統結構,其中,還包含一殼體,該殼體用以容置該支撐軸、該感光元件、該取像鏡頭、該第一濾鏡轉盤與該第二濾鏡轉盤,并于該系統光軸位于該第一濾鏡轉盤與該第二濾鏡轉盤的前方處開設有一開口。
上述的光學量測系統結構,其中,還包含一保護鏡,該保護鏡設置于該殼體的該開口處。
本實用新型對照先前技術的功效:
相較于現有的光學量測系統,由于本實用新型的光學量測系統結構中,第一濾鏡轉盤與第二濾鏡轉盤設置于感光元件與取像鏡頭的前方,因此并不會影響到感光元件與取像鏡頭的最佳化,且能夠靠近光學量測系統的殼體設置,進而讓使用者能夠輕易的更換與清潔第一濾鏡轉盤及第二濾鏡轉盤。
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