[實用新型]一種檢測零件尺寸的裝置

無效

• 申請號: 201020619581.4
• 申請日: 2010-11-23
• 公開（公告）號: CN201858966U
• 公開（公告）日: 2011-06-08
• 發明（設計）人: 沈平
• 申請（專利權）人: 蘇州江城數控精密機械有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛

技術領域

本實用新型涉及檢測零件尺寸的裝置。

背景技術

機械零件的技術要求很多,?它有幾何形狀、尺寸公差、形位公差、表面粗糙度、材質的化學成份及硬度等。檢測時先從何處著手,?用哪些量具,?采用什么樣的先進方法,?是檢測中技術性很強的一個問題。檢測過程中,?影響所得的數據準確性的因素非常多。檢測誤差可以分為三大類：隨機誤差、粗大誤差、系統誤差。?消除隨機誤差的方法主要是從誤差根源予以消除(減小溫度波動、控制檢測力等)?,?還可以按照正態分布概率估算隨機誤差的大小。含有粗大誤差的檢測值叫做壞值,?應該剔除不用。系統誤差。在相同條件下,?重復檢測同一量時誤差的大小和方向保持不變,?或者檢測時條件改變,?誤差按照一定的規律變化,?這種誤差為系統誤差。消除系統誤差方法有,?檢測前必須對所有計量器具進行檢定,?提高計量器具的檢測精度。

傳統檢測零件尺寸在檢測過程中需要先定位一個基準面，通過比對或相對檢測得出所測工件的數據，但是由于基準面的不平或者表面粗糙等原因，相比說來檢測出的數值誤差較大。

發明內容

針對上述問題，本實用新型的目的是提供一種檢測零件尺寸的裝置，能夠減小檢測零件尺寸過程中的系統誤差。

為了解決上述難題，本實用新型采取的方案是：一種檢測零件尺寸的裝置，包括放置零件的平臺，它還包括沿Z軸方向排列的上探頭和下探頭、用于采集X軸向數據的X軸向光柵尺、采集Y軸向數據的Y軸向光柵尺、采集Z軸向數據的Z軸向光柵尺，上探頭和下探頭安裝在一支架上，支架可沿Z軸方向移動地設置于一Z軸向導軌上，Z軸向導軌可沿X軸方向移動地設置于一X軸向導軌上，X軸向導軌可沿Y軸方向移動地設置于一Y軸向導軌上。

優選地，平臺上設置有用于調整零件位置的調整裝置。

優選地，平臺上設置有用于夾緊零件的夾具。

優選地，檢測零件尺寸的裝置還包括用于驅動探頭移動的伺服機，伺服機包括用于驅動上探頭和下探頭X軸向移動的X軸向伺服機、用于驅動上探頭和下探頭Y軸向移動的Y軸向伺服機和用于驅動上探頭和下探頭Z軸向移動的Z軸向伺服機。

優選地，檢測零件尺寸的裝置還包括用于收集光柵數據的采集器。

優選地，檢測零件尺寸的裝置還包括用于分析和處理光柵數據的處理器

優選地，檢測零件尺寸的裝置還包括用于輸出數據的輸出裝置。

更優選地，輸出裝置為顯示屏幕。

優選地，上探頭和下探頭為激光光纖探測頭。

本實用新型采用以上方法，具有以下優點：

1、檢測零件尺寸過程中的容易產生的系統誤差；

2、檢測工藝簡單，能夠快速檢測零件尺寸，提高生產效率。

附圖說明

附圖1為本實用新型實施例的檢測裝置的結構示意圖。

附圖2為本實用新型實施例的零件處于檢測狀態時的第一俯視圖。

附圖3為本實用新型實施例的零件處于檢測狀態時的第二俯視圖。

附圖4為本實用新型實施例的零件處于檢測狀態時的第一側視圖。

附圖5為本實用新型實施例的零件處于檢測狀態時的第二側視圖。

以上附圖中：1、平臺；2、上探頭；3、第二探頭；4、支架；5、第一臨界點；6、第二臨界點；7、第三臨界點；8、第四臨界點。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型的較佳實施例進行詳細闡述，以使本實用新型的優點和特征能更易于被本領域的技術人員理解，從而對本實用新型的保護范圍作出更為清楚明確的界定。

在通過探測頭探測其與零件之間的Z軸方向的距離以計算零件高度時，兩個探測頭沿Z軸方向移動，通過在移動過程中探測頭多次探測到的信號的返回量分別計算兩個探測頭與零件之間的Z軸方向的距離，并通過平均值計算零件的高度。

如圖1-5所示的實施例，一種檢測零件尺寸的裝置，包括放置零件的平臺1，平臺1上設置有用于調整零件位置的調整裝置和用于夾緊零件的夾具，它還包括沿Z軸方向排列的上探頭2和下探頭3、用于采集X軸向數據的X軸向光柵尺、采集Y軸向數據的Y軸向光柵尺、采集Z軸向數據的Z軸向光柵尺，上探頭和下探頭安裝在一支架4上，支架可沿Z軸方向移動地設置于一Z軸向導軌上，Z軸向導軌可沿X軸方向移動地設置于一X軸向導軌上，X軸向導軌可沿Y軸方向移動地設置于一Y軸向導軌上。

?檢測零件尺寸的裝置還包括用于驅動探頭移動的伺服機，伺服機包括用于驅動上探頭和下探頭X軸向移動的X軸向伺服機、用于驅動上探頭和下探頭Y軸向移動的Y軸向伺服機和用于驅動上探頭和下探頭Z軸向移動的Z軸向伺服機。