[實用新型]檢測圖像擷取裝置

有效

• 申請號: 201020601522.4
• 申請日: 2010-11-05
• 公開（公告）號: CN201904881U
• 公開（公告）日: 2011-07-20
• 發明（設計）人: 蔡姓賢;鄭昆賢;梁芬玉;林昌達;詹方興
• 申請（專利權）人: 宏瀨科技股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;G02B27/10
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;張燕華

技術領域

本實用新型涉及一種檢測圖像擷取裝置，特別涉及一種用以擷取一疊層待測物的一疊層側面的一疊層檢測圖像的檢測圖像擷取裝置，該疊層檢測圖像是供圖像分析以獲取疊層待測物所具有的多個材料片的一數量值。

背景技術

在現今的自動化工業工藝中，為了節省人力成本，常會利用一種檢測圖像擷取裝置，對多個材料片所堆棧成的一疊層待測物的一疊層側面擷取一疊層檢測圖像。通過對該疊層檢測圖像進行圖像分析，可快速確認疊層待測物中所包含的材料片的數量。

請參閱圖1，其是為現有技術中檢測圖像擷取裝置的作動示意圖。如圖所示，以俯視視角來看，檢測圖像擷取裝置包含一圖像擷取單元PA1以及一光源裝置PA2。光源裝置PA2是將一檢測光束以一入射角θ投射至疊層側面PS，使一圖像光束以一與入射角θ相同角度的反射角自疊層側面PS反射至圖像擷取單元PA1，并形成所述的疊層檢測圖像。

然而，由于檢測光束是斜向地投射至疊層側面PS，所產生的疊層檢測圖像會因為焦距不一致導致部分圖像模糊，或者衍生疊層檢測圖像投影變形的疑慮。并且，由于疊層側面PS的表面并非完全平滑，檢測光束投射至疊層側面PS凹凸不平的表面上之后，并無法完全均勻地反射至圖像擷取單元PA1，造成疊層檢測圖像中會有亮、暗度不均勻的問題。以上瑕疵若未經軟件修正，會使疊層檢測圖像在后續的分析上產生誤差。

上述的種種問題皆由檢測光束斜向地投射至疊層側面PS所引發造成，并且入射角θ越大，情況會越嚴重。本實用新型是針對上述的種種問題提出一種具有新穎性的檢測圖像擷取裝置，使入射角θ為0度角，藉以一并改善現有技術中所具有的諸多缺陷。

實用新型內容

有鑒于在現有技術中，存在檢測光束自疊層側面斜向反射至圖像擷取單元后，所產生的疊層檢測圖像會具有部分模糊、亮暗不均以及投影變形等問題，本實用新型的目的在于提供一種檢測圖像擷取裝置，使檢測光束以0度角入射疊層側面并以0度角反射出。如此，所產生的疊層檢測圖像不僅焦距一致、亮暗均勻，且不會具有投影變形的疑慮，可不需經過軟件修正，直接供做圖像分析。

為了實現上述目的，本實用新型提供一種檢測圖像擷取裝置，擷取一由多個材料片所堆棧成的疊層待測物的一疊層側面的一疊層檢測圖像，該檢測圖像擷取裝置包含：

一圖像擷取單元，具有一光軸，且該圖像擷取單元正對該疊層側面而設置，藉以使該光軸垂直于該疊層側面；

一分光元件，設置于該光軸，位于該圖像擷取單元與該疊層側面之間，與該光軸呈45度角；以及

一光源裝置，設置在能夠將一與該光軸垂直的檢測光束投射至該分光元件的位置處，以使該檢測光束沿該光軸反射至該疊層側面。

上述的檢測圖像擷取裝置，其中，該光源裝置為一面光源裝置。

上述的檢測圖像擷取裝置，其中，該圖像擷取單元還包含一電荷耦合裝置或一互補式金屬氧化層半導體。

上述的檢測圖像擷取裝置，其中，該分光元件為一分光透鏡。

上述的檢測圖像擷取裝置，其中，該多個材料片為多個圓片裁切片或玻璃基板。

相較于現有技術中，檢測光束斜向投射至疊層側面并斜向反射出，造成所產生的疊層檢測圖像具有部分模糊、亮暗不均以及投影變形等問題，本實用新型的檢測圖像擷取裝置由于在光軸上設置一與光軸呈45度角的分光元件，使檢測光束可沿著光軸入射疊層側面，并使一圖像光束沿著光軸反射出。如此一來，圖像擷取單元由圖像光束所擷取的疊層檢測圖像會具有焦距一致、亮暗均勻等優點，并且不具有投影變形的疑慮，改善現有技術中疊層檢測圖像所具有的種種缺陷。

以下結合附圖和具體實施例對本實用新型進行詳細描述，但不作為對本實用新型的限定。

附圖說明

圖1現有技術中檢測圖像擷取裝置的作動示意圖；

圖2本實用新型的結構示意圖；

圖3本實用新型的結構示意圖；以及

圖4與圖4A本實用新型的光路示意圖。

其中，附圖標記

圖像擷取單元PA1

光源裝置PA2

疊層待測物200

材料片210

圖像擷取單元1

分光元件2

光源裝置3

疊層側面PS

入射角θ

光軸LA

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型的結構原理和工作原理作具體的描述：