[實用新型]太陽能晶片全自動無接觸式多功能測試和分選系統

無效

• 申請號: 201020599484.3
• 申請日: 2010-11-10
• 公開（公告）號: CN201940376U
• 公開（公告）日: 2011-08-24
• 發明（設計）人: 朱洪偉;鄧超明;陳罡;周海;李福榮
• 申請（專利權）人: 上海星納電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 王敏杰

1.一種太陽能晶片全自動無接觸式多功能測試和分選系統，其特征在于，包括：

控制中心，配有系統數據庫；

主傳送模塊，包括依次連接的第一步進電機，傳送帶滑輪組和貫穿于整個系統的主傳送帶，帶動晶片從一個位置到另一個位置直至完成所有的測量工作；

晶片定位模塊，與所述主傳送模塊連接，包含四個壓縮空氣觸發的限位器，分別位于晶片的四邊位置，實現對每片晶片測量前的中心定位功能；

晶片測量模塊，與所述主傳送模塊連接，包括三組相互間隔的探頭傳感器，其中，第一探頭傳感器組位于晶片中心位置上下表面，用以測量晶片中心位置上下表面與上下探頭表面之間的距離，第二探頭傳感器組和第三探頭傳感器組用以測量晶片兩側邊緣上下表面與上下探頭表面之間的距離，分別位于晶片兩側邊緣的上下表面；以及，

晶片收發模塊，包括晶片送片機構和晶片收片機構，所述晶片送片機構和所述晶片收片機構均包括至少一組承載有片盒的自動升降裝置，所述晶片送片機構將晶片從所述片盒中按順序逐一傳送到所述系統的主傳送帶上，所述晶片收片機構按照預設的類別與等級將所述主傳送帶上完成測量的晶片收入相應的片盒中。

2.根據權利要求1所述的太陽能晶片全自動無接觸式多功能測試和分選系統，其特征在于，所述第二探頭傳感器組和第三傳感器組被固定在同一根精密同步絲杠上，由第二步進電機驅動，實現不同尺寸晶片測量時邊緣距離的自動調整。

3.根據權利要求1或2所述的太陽能晶片全自動無接觸式多功能測試和分選系統，其特征在于，所述第一、第二、第三探頭傳感器組分別包括兩個光學傳感器和一個位移式傳感器。

4.根據權利要求1所述的太陽能晶片全自動無接觸式多功能測試和分選系統，其特征在于，所述晶片送片機構的自動升降裝置上承載125mm規格或者156mm規格的太陽能晶片盒。

5.根據權利要求1或4所述的太陽能晶片全自動無接觸式多功能測試和分選系統，其特征在于，所述晶片收片機構均配備有7段式計數器。