[實用新型]電鍍塑膠制品導電性能的自動檢測裝置

無效

• 申請號: 201020591591.1
• 申請日: 2010-11-04
• 公開（公告）號: CN201886094U
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發明（設計）人: 劉斌;余磊
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;B07C5/344
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 謝偉;秦雪梅

技術領域

本實用新型涉及一種電鍍塑膠制品導電性能的自動檢測裝置。

背景技術

不導電真空電鍍(Non-Conductive?Vacuum?Metalization，簡稱NCVM)技術以其特殊的不導電、高金屬質感和優良的物性與耐侯性，正在真空電鍍技術領域中脫穎而出，成為眾多企業在電子通訊產品上的重點技術，為塑膠表面處理提高附加值與競爭力。NCVM技術消除了電鍍過程中六價鉻和電鍍層中鎳、鎘元素對人體的危害，解決了電鍍給環境帶來的污染。產品附價值高，市場潛力大，盈利空間大，將逐步替代傳統電鍍工業而成為主流的塑膠類產品表面處理技術，將為企業和社會帶來顯著的經濟效益和社會效益。這一環保新工藝主要從事電子通訊產品、MP3、MP4、無線網卡、蘭牙耳機等消費電子產品塑膠結構件的表面加工生產。同時，根據消費電子產品等結構件表面處理發展趨勢，可廣泛應用于電子通訊產品及其它消費電子產品、汽車內外部裝飾件、家用電器、燈飾、玩具、日用小商品等眾多行業。

通信電子類產品的塑膠外殼注塑成型后，要經過噴漆處理、真空電鍍和其它PVD(物理氣相沉積)等表面處理，以提高表面質量，但由于真空電鍍和PVD表面處理會使得塑膠外殼含有大量的金屬成份，而金屬是導體，可能會對待測通信電子產品的天線造成干擾，影響高頻信號的接收與發射，所以需要對經真空電鍍和PVD表面處理后的塑膠外殼進行導電性能的檢測，以檢測其對通信電子產品天線收發信號的影響程度，保證其不影響天線的信號接收和發射。

傳統的檢測電阻值的方法主要是通過萬用表來檢測，對于經過真空電鍍和PVD表面處理的外殼而言，其金屬成分的厚度很薄(只有幾十微米)，電阻值本身會很大(兆歐以上)，使用萬用表檢測難以看出該外殼的電阻區別，而且如果真空電鍍和PVD表面處理不夠均勻，還會造成檢測點選取十分困難，這樣對于檢測的準確性有很大影響。

另外，對于通信電子產品的塑膠外殼件，由于其生產批量大，質量檢測要求高，檢測任務重，采用人工方法進行檢測效率太低，且對于高頻檢測，為了防止高頻電磁輻射，不宜采用人工檢測，故建立一套帶屏蔽的、高效的、非接觸的全自動檢測裝置勢在必行。

發明內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的缺陷，提供一種電鍍塑膠制品導電性能的自動檢測裝置，本實用新型可以方便的對經真空電鍍后的塑膠制品的導電性能進行自動檢測。

一種電鍍塑膠制品導電性能的自動檢測裝置，包括驅動電機、傳輸帶、檢測信號發射天線、檢測信號接收天線、控制分析系統及分揀機構，傳輸帶與驅動電機連接并通過驅動電機驅動，檢測信號發射天線與檢測信號接收天線相對，傳輸帶位于檢測信號發射天線與檢測信號接收天線之間，驅動電機、檢測信號發射天線、檢測信號接收天線及分揀機構均與所述控制分析系統電氣連接，分揀機構位于傳輸帶的后端。

下面對前述技術方案進一步細化的技術方案進行說明。

所述控制分析系統包括計算機、射頻分析儀、功率放大器及控制模塊，檢測信號發射天線與功率放大器電氣連接，功率放大器及檢測信號接收天線均與射頻分析儀電氣連接，射頻分析儀與計算機電氣連接，計算機及所述分揀機構均與所述控制模塊電氣連接。

所述分揀機構包括活塞缸體組件及吸盤，活塞缸體組件中的活塞桿位于被測塑膠制品檢測后的水平位置，吸盤位于被測制品檢測后的垂直位置。

還包括有第一屏蔽室，至少將所述檢測信號發射天線、檢測信號接收天線置于該第一屏蔽室內。

還包括有第二屏蔽室，所述第一屏蔽室、功率放大器及射頻分析儀置于該第二屏蔽室內。

下面對本實用新型的優點進行說明。

1、檢測信號發射天線發射多個頻率的電信號，電信號穿過待測塑膠制品，由檢測信號接收天線接收電信號，產生與多個頻率一一對應的多個電信號，由控制分析系統對收到的多個頻率以及與多個頻率一一對應的多個電信號數據進行處理分析，并測量出塑膠制品的導電性能。本實用新型可以實現自動化檢測，檢測方便，檢測精度高。

2、射頻分析儀通過功率放大器控制檢測信號發射天線所發出的頻率，并接收由檢測信號接收天線所傳輸的電信號，并將信號傳輸至計算機進行處理分析。

3、對于不合格制品，可由活塞缸體組件中的活塞動作進行剔除；對于合格制品，可由吸盤吸住進行自動裝箱，從而可以自動將合格制品與不合格制品分揀開。

4、通過第一屏蔽室及第二屏蔽室可以有效的降低電磁輻射，提高工作環境的安全性，同時也降低外界因素對檢測結果的干擾。

附圖說明

圖1是本實用新型實施例所述自動檢測裝置的系統結構圖。