[實用新型]抗環(huán)境干擾的水位探頭

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201020584788.2
• 申請日: 2010-10-29
• 公開（公告）號: CN201828303U
• 公開（公告）日: 2011-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 曹永軍
• 申請（專利權(quán)）人: 曹永軍
• 主分類號: G01F23/00
• 分類號: G01F23/00
• 代理公司: 唐山永和專利商標事務(wù)所 13103
• 代理人: 張云和

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種抗環(huán)境干擾的水位探頭，屬于探針式水位測量與控制技術(shù)，主要用于復雜環(huán)境下的水位探測。

背景技術(shù)

采用探針測量或控制水位是最為普遍的水位測量或控制技術(shù)。但傳統(tǒng)的探針水位探測技術(shù)，不能排除環(huán)境干擾所造成的誤差。尤其是在一些特殊條件下，由于環(huán)境負載惡劣，往往使水位探測失靈不能反映實際水位甚至不能正常工作，更不能滿足精度較高的水位測量與控制。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在解決傳統(tǒng)水位探頭由于加熱沸騰、氣泡、水位波動等環(huán)境因素使水位探測器不能準確的反映水位甚至不能正常工作的問題，而提供一種通過特殊的探頭結(jié)構(gòu)，不僅可以有效的排除環(huán)境因素對水位測量的干擾，還可以大幅度提高水位測量與控制精度的抗環(huán)境干擾的水位探頭。

本發(fā)明解決所述問題采用的技術(shù)方案是：一種抗環(huán)境干擾的水位探頭，包括一個固定在探頭座上的測試柱，所述測試柱上沿軸向設(shè)置有呈塔狀階梯結(jié)構(gòu)布置的若干導流槽，嵌埋在所述測試柱內(nèi)的若干根金屬探針分別貫穿所述導流槽；還包括一個導流罩，所述導流罩加裝在所述測試柱外部，該導流罩的底部開有進水孔，頂部開有排氣孔。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明所述方案中的測試柱位于一個由導流罩構(gòu)成的獨立的測量腔內(nèi)，通過測量腔和測試柱的特殊結(jié)構(gòu)把環(huán)境影響降到最低，尤其是測試柱的塔狀階梯結(jié)構(gòu)能有效地保證測量精度。本發(fā)明可以廣泛的應用于工業(yè)控制、家電等諸多領(lǐng)域。

附圖說明

圖1為本發(fā)明外形結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明所述測試柱結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本發(fā)明所述導流罩結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明所述測試柱剖視圖。

圖中：進水孔1，導流罩2，排氣孔3，彈簧卡舌4，探頭座5，測試柱6，導流槽7，金屬探針8。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖及實施例詳述本發(fā)明。

參見附圖，抗環(huán)境干擾的水位探頭由導流罩2、探頭座5、測試柱6三個構(gòu)件組成，測試柱6的一端與探頭座5固接，其上沿軸向設(shè)置有兩個自柱底部向上延伸長度不等的導流槽7，嵌埋在測試柱6內(nèi)的三根金屬探針8其中有兩根分別貫穿導流槽7；導流罩2通過其與探頭座5的彈簧卡舌4結(jié)構(gòu)加裝在測試柱6的外部，導流罩2的底部開有進水孔1，頂部開有排氣孔3。

本實施例中，所述測試柱6為耐高溫絕緣材料制成的圓柱體，其外緣與導流罩2的距離大于其半徑。測試柱6與導流罩2的直徑與長度可以根據(jù)測試容器的大小及產(chǎn)生氣泡、波動等因素決定，一般情況下被測容器的直徑與測試柱6的直徑比值越大，抗干擾性能越好。

本實施例中，所述導流罩2底部的進水孔1呈方孔形，孔徑小于產(chǎn)生的氣泡的尺寸。采用方形進水孔1，有利于氣泡通過進水孔1時讓氣泡破碎。

本實施例中，所述導流罩2底部的進水孔1均勻布置。圖中導流罩2底部開了四個方形進水孔1，頂部相應開了四個排氣孔3，水可以均勻的流入導流罩2內(nèi)，同時由進水孔1進入時，方形進水孔1會有效地防止氣泡進入。

嵌埋在測試柱6內(nèi)的金屬探針8的數(shù)量根據(jù)測量需要而定，相應的導流槽7數(shù)量則根據(jù)金屬探針8的數(shù)量而定。