[實用新型]氣體測量裝置

有效

• 申請號: 201020559901.1
• 申請日: 2010-10-12
• 公開（公告）號: CN201811920U
• 公開（公告）日: 2011-04-27
• 發明（設計）人: 姚永年;王長青
• 申請（專利權）人: 深圳市世紀天源環保技術有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/35
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

【技術領域】

本實用新型涉及測量儀器，特別涉及一種氣體測量裝置。

【背景技術】

傳統的氣體分析系統中，測量氣體成分時，讓光線照射氣體，測量通過氣體的光的強度，由于不同的氣體對光的吸收不同，測量不同的光強度，進而分析氣體組分。為了提高測量氣體的可靠性和靈敏度，傳統的測量氣體，采用高光強紅外光源、高靈敏度的測光傳感器和增加電子放大器等技術，使得氣體分析設備價格昂貴。

【實用新型內容】

基于此，有必要提供一種成本較低、且提高了可靠性和靈敏度的氣體測量裝置。

一種氣體測量裝置，包括光源和檢測光線強度的光檢測器，還包括第一反射鏡、第二反射鏡、容納測量氣體的第一氣體測量室和第二氣體測量室，所述第一氣體測量室與所述第二氣體測量室相通，所述光源和所述第一反射鏡設于所述第一氣體測量室，所述光檢測器和所述第二反射鏡設于所述第二氣體測量室，所述第一反射鏡與所述第二反射鏡形成夾角，所述光源發出的光線穿過所述第一氣體測量室，并經過所述第一反射鏡和所述第二反射鏡反射后穿過所述第二氣體測量室，到達所述光檢測器。

優選地，所述第一反射鏡與所述第二反射鏡形成夾角為90度。

優選地，所述第一氣體測量室和第二氣體測量室平行設置。

優選地，所述光線與所述第一反射鏡形成夾角為銳角。

優選地，所述光線與所述第一反射鏡形成的夾角為45度。

優選地，還包括設于所述第一氣體測量室的進氣口和設于所述第二氣體測量室的出氣口。

上述氣體測量裝置，采用檢測通過了第一氣體測量室和第二氣體測量室的光線的強度，增加了光程，提高了測量的可靠性和靈敏度，且該結構設計簡單，僅僅采用兩個反射鏡實現光線的發射，增加光程，成本較低，采用普通光源進行檢測相比于傳統高光強紅外光源，成本更低。

【附圖說明】

圖1為一個實施例中氣體測量裝置的結構示意圖。

【具體實施方式】

下面結合具體的實施例及附圖對技術方案進行詳細的描述。

如圖1所示，在一個實施例中，一種氣體測量裝置，包括提供入射光線的光源10、容納測量氣體的第一氣體測量室20和第二氣體測量室50、第一反射鏡30、第二反射鏡40和光檢測器60。其中，第一氣體測量室20與第二氣體測量室50相通，光源10和第一反射鏡30設于第一氣體測量室20，第二反射鏡40和光檢測器60設于第二氣體測量室50。第一反射鏡30與第二反射鏡40形成夾角。光源10發出的光線穿過第一氣體測量室20，并經過第一反射鏡30和第二反射鏡40反射后穿過第二氣體測量室50，到達光檢測器60。光檢測器60可集成在PCBA(Printed?Circuit?Board?Assembly，印刷電路集成板)上。光源10可為普通光源。

本實施例中，第一氣體測量室20和第二氣體測量室50均為長方體狀，相通且平行設置。光源10設置在第一氣體測量室20的入光側210處，第一反射鏡30位于第一氣體測量室20的出光側220處，第二反射鏡40與第一反射鏡30夾角為90度，第二反射鏡40位于第二氣體測量室50的入光側510處，第二氣體測量室50與第一氣體測量室20相通且平行設置，光檢測器60設置在第二氣體測量室50的出光側520處。

第一反射鏡30與第二反射鏡40形成的夾角為90度，入射光線經過第一反射鏡30和第二反射鏡40反射后形成反射光線，該反射光線與入射光線平行，如此，第一氣體測量室20和第二氣體測量室50可相通且平行設置，節省了裝置的空間。

第一反射鏡30與光源10發出的入射光線的夾角可為任意角度的銳角，如30度、45度、60度等，優選地，該夾角為45度。根據反射原理及第一反射鏡30與第二反射鏡40夾角成90度可知，經過第一反射鏡30和第二反射鏡40反射后的光線與入射光線平行，且入射光線在第一氣體測量室10和第二氣體測量室50中穿過，相比于單程氣體檢測，增加了光程。當入射光線與第一反射鏡30的夾角為45度時，剛好為雙光程，相當于被測氣體的厚度增加了一倍，便于計算光程。

如圖1所示，上述氣體測量裝置還包括設于第一氣體測量室20的進氣口70和設于第二氣體測量室50的出氣口80。方便進行氣體測量。