[實用新型]基于具有輻射記憶功能的輻射光致發(fā)光圖像板的輻射成像系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201020529980.1
• 申請日: 2010-09-14
• 公開（公告）號: CN201917666U
• 公開（公告）日: 2011-08-03
• 發(fā)明（設計）人: 馬吉增;駱志平;王瑩
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01T1/16
• 分類號: G01T1/16;G01N23/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型屬于輻射測量技術領域，具體涉及一種基于具有輻射記憶功能的輻射光致發(fā)光圖像板的輻射成像系統(tǒng)。

背景技術

醫(yī)院核醫(yī)學科可以通過分析放射性核素在人體器官內(nèi)的分布圖像，診斷病人心腦血管疾病、腫瘤等各種器官疾病。用于X射線或者伽瑪射線的射線源分布測量的輻射成像測量系統(tǒng)，通常叫做伽瑪相機，首先在核醫(yī)學領域發(fā)展起來。

目前為止已經(jīng)有很多醫(yī)療器械公司開發(fā)出了用于人體X射線或者伽瑪射線分布測量的伽瑪相機系統(tǒng)。這些伽瑪相機主要由準直器，閃爍晶體板，以及位置靈敏光探測器件組成。

準直器的材料一般為原子序數(shù)很大，對X射線或者伽瑪射線阻擋效果非常好的金屬材料，比如鉛，鎢等。準直器種類主要有平行孔準直器，針孔準直器，發(fā)散型準直器，匯聚型準直器；用于限制進入伽瑪相機視野的入射射線的方向以及范圍。

射線經(jīng)過準直器后到達閃爍晶體板。閃爍晶體的材料主要為NaI(Tl)晶體，也可以是CsI或BGO等。射線在閃爍晶體中發(fā)生能量沉積，沉積的能量又以熒光的方式在能量沉積的位置釋放出來。

閃爍晶體板后面的位置靈敏光探測器件，可以測量出熒光釋放的位置以及強度，從而達到成像的目的。位置靈敏光探測器件可以是單個的位置靈敏光電倍增管，或者位置靈敏光電倍增管陣列。位置靈敏光電倍增管的入射窗通過光導貼近閃爍晶體板，達到測量目的。位置靈敏光探測器件也可以是電荷耦合器件(CCD)或者CMOS。

目前發(fā)展起來的這類伽瑪相機系統(tǒng)，可以用于X射線輻射場或者伽瑪輻射場的實時成像測量。核醫(yī)學應用中，由于人體內(nèi)的放射性水平通常較高，可以利用這類伽瑪相機系統(tǒng)方便的得到核素在體內(nèi)靜態(tài)以及動態(tài)連續(xù)的分布圖像。但是，將這類伽瑪相機系統(tǒng)用于核工業(yè)領域的放射性分布測量，比如某個場所的放射性污染分布圖像測量時，則經(jīng)常會遇到困難。比如待測量場所或者對象的輻射水平很低，低于現(xiàn)有的這類伽瑪相機系統(tǒng)的最低探測下限時，那么，將測量不到放射源的分布圖像。在現(xiàn)有的這類系統(tǒng)下，通過延長測量時間的方法，也不會有明顯的效用，因為這并不能提高測量的信噪比。

實用新型內(nèi)容

(一)實用新型目的

本實用新型目的在于解決現(xiàn)有技術中伽馬相機系統(tǒng)無法探測微弱輻射信號的問題。

(二)技術方案

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

一種基于具有輻射記憶功能的輻射光致發(fā)光圖像板的輻射成像系統(tǒng)，包括遮光框體、針孔準直器、位置靈敏光探測模塊、控制和圖像處理模塊，所述針孔準直器位于遮光框體前端，位置靈敏光探測模塊置于遮光框體后端并且其光探測面正對針孔準直器，控制和圖像處理模塊與位置靈敏光探測模塊相連，其關鍵在于：在所述針孔準直器和位置靈敏光探測模塊之間還置有由輻射光致發(fā)光材料制成的圖像板；在所述遮光框體的后端置有與所述輻射光致發(fā)光材料相對應的激發(fā)光源；在所述遮光框體后端還置有快門。

所述針孔準直器的針孔處還置有遮光片，所述遮光片由易于透過X射線和伽瑪射線的材料制成。

所述針孔準直器和圖像板之間置有加熱絲，所述加熱絲為螺旋狀結構。

制作圖像板所用的輻射光致發(fā)光材料是銀離子活化的磷酸鹽玻璃，或者其它具有輻射記憶功能的輻射光致發(fā)光材料。

所述圖像板靠近針孔準直器的一側覆蓋有一層鋁箔。

所述激發(fā)光源呈圓狀均勻分布在位置靈敏光探測模塊的周圍。

所述加熱絲和圖像板可以在遮光框體內(nèi)沿著輻射測量系統(tǒng)中心軸方向前后移動。

所述位置靈敏光探測模塊包括遮光外壁和置于其中的光電探測器，面向圖像板的一端置有能夠過濾激發(fā)光的濾光片，其靠近控制和圖像處理模塊的一端置有電源接口和數(shù)據(jù)接口。所述光電探測器是位置靈敏光電倍增管、CCD或者CMOS。

當所述光電探測器是位置靈敏光電倍增管時，將圖像板貼近激發(fā)光濾光片，可以測量得到輻射光致發(fā)光材料發(fā)出的熒光信號的位置和強度信息。

當所述光電探測器是CCD或者CMOS時，在所述濾光片和CCD或者CMOS之間置有錐形光纖成像束。

當所述光電探測器是CCD或者CMOS時，在所述濾光片和CCD或者CMOS之間置有成像透鏡組，并且所述CCD或者CMOS的感光芯片位于成像透鏡組的像平面上。

(三)有益效果