[實用新型]一種基于ARM和CPLD的集成芯片測試儀

無效

• 申請號: 201020521454.0
• 申請日: 2010-09-08
• 公開（公告）號: CN201796120U
• 公開（公告）日: 2011-04-13
• 發明（設計）人: 唐穎;黃鳳江
• 申請（專利權）人: 成都理工大學
• 主分類號: G01R31/3177
• 分類號: G01R31/3177
• 代理公司: 成都信博專利代理有限責任公司 51200
• 代理人: 卓仲陽;舒啟龍

1.一種基于ARM和CPLD的集成芯片測試儀，包括機殼、面板，在機殼內安裝有PC工控機(1)、集成電路測試板(2)、集成電路適配器(3)、CPLD模塊(4)，可調電壓源(5)；所述集成電路測試板(2)包括CPU控制單元(2.1)、USB接口單元(2.2)、邏輯數據分析處理單元(2.3)，集成電路適配器(3)包括DIP插座(3.1)、I/O輸出切換單元(3.2)，其特征是：所述CPLD模塊(4)包括2×20位并行端口模塊(4.2)以及適配器電壓選擇模塊(4.3)；所述CPLD模塊(4)通過地址與數據總線(AD總線)與集成電路測試板(2)上的CPU控制單元(2.1)連接、通過數據總線與集成電路適配器DIP插座(3.1)連接。

2.根據權利要求1所述一種基于ARM和CPLD的集成芯片測試儀，其特征是：所述集成電路測試板(2)上的CPU控制單元(2.1)通過USB接口單元(2.2)與PC工控機(1)連接。

3.根據權利要求1所述一種基于ARM和CPLD的集成芯片測試儀，其特征是：所述CPLD模塊(4)中的并口擴展寄存器模塊(4.1)與2×20位并行端口模塊(4.2)與適配器電壓選擇模塊(4.3)連接，設置端口狀態和收集端口狀態。

4.根據權利要求1所述一種基于ARM和CPLD的集成芯片測試儀，其特征是：所述集成電路測試板(2)的主控芯片采用LPC2136ARM芯片。

5.根據權利要求1所述一種基于ARM和CPLD的集成芯片測試儀，其特征是：所述CPLD模塊(4)采用EPM1270T144C5芯片。