[實(shí)用新型]RRU自動(dòng)定標(biāo)與測試系統(tǒng)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201020513502.1 | 申請(qǐng)日: | 2010-08-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201797602U | 公開(公告)日: | 2011-04-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 肖龍剛;許曉煒;王豫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 芯通科技(成都)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04W24/02 | 分類號(hào): | H04W24/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610000 四川省成都市高*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | rru 自動(dòng) 定標(biāo) 測試 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種RRU系統(tǒng),具體地說,是涉及一種應(yīng)用于TD-SCDMA通信系統(tǒng)中RRU自動(dòng)定標(biāo)與測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
RRU定標(biāo)是RRU子系統(tǒng)為了保證校準(zhǔn)和DPD正常運(yùn)行,在子系統(tǒng)裝配完成后,對(duì)RRU子系統(tǒng)各鏈路增益的一致性和準(zhǔn)確性補(bǔ)償。在研發(fā)早期,均采用手動(dòng)定標(biāo)的方式,手動(dòng)定標(biāo)對(duì)定標(biāo)人員的技術(shù)要求極高,必須要對(duì)子系統(tǒng)產(chǎn)品定標(biāo)流程有深刻的理解,而且還必須有豐富的射頻測試知識(shí),同時(shí)由于測試過程繁瑣,數(shù)據(jù)記錄繁多,一般情況下需兩人協(xié)做完成。據(jù)統(tǒng)計(jì),每個(gè)產(chǎn)品中每個(gè)通道需要兩個(gè)工作人員同時(shí)工作一天才能完成。
RRU測試是RRU在生產(chǎn)過程中,為了保證產(chǎn)品性能能滿足客戶要求的指標(biāo),減少不良品出貨的重要環(huán)節(jié),同時(shí)也是研發(fā)人員驗(yàn)證產(chǎn)品性能的重要手段。研發(fā)早期,同樣采用手動(dòng)測試的方式。與手動(dòng)定標(biāo)的情況相似,手動(dòng)測試要求測試人員有豐富的系統(tǒng)測試經(jīng)驗(yàn)。據(jù)統(tǒng)計(jì),在研發(fā)過程中每個(gè)產(chǎn)品每個(gè)通道重要指標(biāo)測試需要兩個(gè)工作人員同時(shí)工作0.75天,而在生產(chǎn)過程中每個(gè)產(chǎn)品還要經(jīng)過多次的測試,使得產(chǎn)品性能測試既費(fèi)時(shí)又費(fèi)力。
綜上所述,RRU定標(biāo)和測試采用人工手動(dòng)定標(biāo)、測試,不僅造成了研發(fā)周期的延長,還導(dǎo)致了生產(chǎn)效率的下降,已經(jīng)不能滿足實(shí)際研發(fā)、生產(chǎn)的需要。自動(dòng)化的定標(biāo)測試系統(tǒng)的出現(xiàn)成為RRU系統(tǒng)發(fā)展的必然。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種RRU自動(dòng)定標(biāo)與測試系統(tǒng),解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題,在縮短研發(fā)周期、提高生產(chǎn)效率的同時(shí),降低定標(biāo)、測試的復(fù)雜度,使普通操作員也能正常完成RRU系統(tǒng)的定標(biāo)和測試工作。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案如下:
RRU自動(dòng)定標(biāo)與測試系統(tǒng),包括安裝有自動(dòng)測試系統(tǒng)的計(jì)算機(jī),與計(jì)算機(jī)連通的模擬BBU測試儀,以及分別與計(jì)算機(jī)、模擬BBU測試儀連接的信號(hào)源和頻譜儀,該信號(hào)源和頻譜儀通過環(huán)行器相互連通,所述環(huán)行器上還連接有信號(hào)收發(fā)裝置。
具體地說,所述模擬BBU測試儀包括主控制器,與主控制器連接的FPGA、DSP和時(shí)鐘模塊,以及與FPGA連接的光電轉(zhuǎn)換模塊,與時(shí)鐘模塊連接的電源模塊。
進(jìn)一步地說,所述FPGA分別通過網(wǎng)絡(luò)接口和電源總線與主控制器連接,DSP通過PCI與主控制器連接,而DSP通過EMIFB接口與FPGA相連,且所述光電轉(zhuǎn)換模塊的數(shù)目為2。
所述模擬BBU測試儀還設(shè)置有分別與主控制器連接的網(wǎng)卡、電平轉(zhuǎn)換模塊、CPLD、FLASH、復(fù)位模塊。
所述計(jì)算機(jī)通過集線器與模擬BBU測試儀連接。
進(jìn)一步地,所述計(jì)算機(jī)通過GPIB分別與信號(hào)源、頻譜儀連接。
更進(jìn)一步地,所述信號(hào)收發(fā)裝置為天線。
再進(jìn)一步地,所述環(huán)行器與信號(hào)收發(fā)裝置之間還設(shè)置有衰減器。
本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)原理:在計(jì)算機(jī)中自動(dòng)測試系統(tǒng)的控制下,通過模擬BBU測試儀提供測試的參考信號(hào)和觸發(fā)信號(hào),以及發(fā)送信號(hào)源的下行基帶數(shù)據(jù)和調(diào)解上行基帶數(shù)據(jù),利用頻譜儀測試待測子系統(tǒng)的輸出功率,最后將測得數(shù)據(jù)反饋回計(jì)算機(jī)進(jìn)行記錄。
在上述系統(tǒng)中,各主要設(shè)備的功能如下:
一.計(jì)算機(jī):
1.測試腳本的解析;
2.通過GPIB卡調(diào)用儀器驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)源和讀取頻譜儀測試數(shù)據(jù);
3.通過網(wǎng)口調(diào)用模擬BBU驅(qū)動(dòng)控制模擬BBU狀態(tài),驅(qū)動(dòng)模擬BBU測試儀發(fā)送基帶數(shù)據(jù)和IR信令;
4.記錄測試數(shù)據(jù)。
二.模擬BBU測試儀:
1.提供時(shí)鐘心跳等維持RRU正常運(yùn)行;
2.在自動(dòng)測試系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)下通過光口發(fā)送接收IR消息;
3.在自動(dòng)測試系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)下發(fā)送下行基帶數(shù)據(jù)并解調(diào)上行基帶數(shù)據(jù);
4.為整個(gè)測試系統(tǒng)提供時(shí)鐘參考和觸發(fā)。
三.信號(hào)源及頻譜儀
1.為待測子系統(tǒng)提供上行數(shù)據(jù);
2.測試待測子系統(tǒng)輸出的功率。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型具有以下有益效果:
(1)時(shí)間成本:引入自動(dòng)測試系統(tǒng)后,每個(gè)產(chǎn)品每個(gè)通道的定標(biāo)及驗(yàn)證的時(shí)間約為10分鐘;測試時(shí)間約為10分鐘,縮短了生產(chǎn)、研發(fā)的周期,提高了產(chǎn)品的競爭力;
(2)設(shè)備占用成本:測試時(shí)間的縮短,使得一套設(shè)備在相同的時(shí)間測試更多產(chǎn)品,從而減少了設(shè)備占用成本;
(3)人力成本:全自動(dòng)測試系統(tǒng)使得測試需要的工作人員大大減少,節(jié)約了大量人力;而且,測試人員不再需要很高的技術(shù)要求,普通的操作員也能正常的進(jìn)行測試,測試難度大大降低,大大節(jié)約了對(duì)測試人員的培訓(xùn)成本。
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